用SDF谱识别方法对物体反射谱进行统计分类

本文将漫反射物体的反射谱视为随机变量,提出了用综合判别函数(SDF)方法对反射谱进行统计分类的新方法。本文以两类颜色极为相近的“白”布为例,对此新方法进行了验证,取得了满意的结果。     

基于模式理论光栅椭偏参数反演的数值模拟

将一种广泛用于求解系统优化问题的方法——正单纯形法，求解光栅的椭偏方程。首先，利用求解光栅的傅立叶模式理论对TE和TM波的复反射系数进行求解。然后计算出其相应的椭偏参数(△，Ψ)，并在该值的基础上加入不同偏差的随机高斯噪声，将加入噪声后的值(△m，Ψm)作为模拟测量值。最后使用优化算法进行反演。通过对几种常用面形光栅椭偏参数的数值模拟，一方面表明傅立叶模式理论计算光栅的椭偏参数不仅精度高。而且速度快；另一方面表明利用正单纯形法得到的光栅参数值很接近于正演时假设的参数值，从而从理论上证明了利用椭偏法测量光栅各种光学参数的可行性。     

一种确定高窄带滤光片峰值波长的方法

本文介绍一种主动式高窄带滤光片峰值波长的测量方法。该方法可以有效的测量出窄带滤光片的敏感波长，而不需要太复杂的设备。通过染料激光谐振腔的模式竞争，可以测量出滤光片的透射或反射波的波长。     

用透射光谱和模拟退火算法确定薄膜光学常数

提出了用透射光谱曲线和模拟退火算法同时确定薄膜材料折射率n、消光系数k及薄膜厚度d的方法,并给出了严格的理论公式和计算程序框架图。为了验证此方法的准确性和可行性,先进行了计算模拟,然后对SiNx薄膜进行了测量。模拟结果与理论值非常接近,根据实验结果恢复出来的曲线与原始实验曲线吻合得很好。此方法具有非破坏性、测量简单、操作方便、稳定性好和计算收敛速度快、精度高等特点。     

彩虹全息图的迷彩加密法

本文提出一种特殊的编码彩虹全息术。通过分割待编码的物体图象,并以特殊的方式记录,得到了一种他人几乎无法复制和伪造的彩虹全息图。     

自动目标识别(ATR)可靠性研究

对同类目标畸变不变的正确识别率与不同类目标分类误识别率是衡量一个自动目标识别 (ATR)系统的两个最重要性能指标。但在实际应用中 ,ATR系统所获取的外场的目标与背景总是处于随时间不断变化的条件下 ,与系统所存储的参考目标通常都不会一致 ,从而导致相关识别SNR劣化。特别对于多目标识别与不同类目标的区分 ,常规的相关门限判决方法会造成很大的误识别 ,大大影响了ATR系统的识别可靠性。本文采用人工神经网络 (ANN)与模糊逻辑技术 ,对相关信号与噪声进行实时数字后处理 ,通过对信号与噪声强度分布等高线而不仅仅是强度的识别 ,大大提高了ATR系统的识别可靠性 ,改善了识别效率。     

用亚波长正弦介质光栅设计1/4波片

采用扩展边界条件法,得出亚波长正弦介质光栅正入射反射型1/4波片的结构参数。发现在一定精度范围内TE波与TM波的相位差能够在一段较大的槽深区域满足设计要求,从而降低了实际控制刻蚀深度的难度。讨论了线偏振光转化为圆偏振光的方位角问题。     

亚波长位相光栅矢量衍射理论的数值计算

从麦克斯韦方程组和电磁场的边界条件出发，用矢量衍射理论的模式匹配法对亚波长位相光栅的衍射进行了数值计算，在正入射的情况下，计算了反射波和透射波的场分布，并研究了光栅的结构参数（光栅深度、基底厚度、占空比等）对反射波和透射波各级衍射效率的影响。     

正确使用多次测量法提高椭偏测量精度

通过分析椭偏测量的复杂性可知椭偏角高精度测量的重要性 ,针对曾认为可提高测量精度的多角度测量法在不恰当地增加入射角时极易破坏求解收敛性得到伪解的情况 ,提出了在测量误差一定和合适数目的多入射角时分别进行单角度多次数测量椭偏角来提高薄膜参数精度的方法 ,并对不同搜索范围和不同测量误差时的诸多情况进行了大量模拟计算。此方法能有效避开伪解、得到高精度的稳定真值 ,是提高椭偏测量精度的有效方法之一。