模拟电路故障可测性数值判断

本文讨论模拟电路故障可测性问题。提出了以矩阵数值秩为依据的故障可测性数值判断方法,给出了考虑容差扰动及数值计算误差时的故障可测性条件。根据可测性分析与设计的不同要求,将可测性条件分解为拓扑条件和数值限制两个方面描述。文献[1]给出了拓扑条件,本文对数值限制作了讨论,给出了可测性数值判据。     

美国在电子技术课程设置、教学方法和教材建设方面的一些情况

今年五六月间,我有机会到美国去了一趟,顺便了解到那里的一些教学情况.回来后曾在教研组和电子技术课程教学指导小组会议上介绍,现根据发言整理成此文.因在美时间短促,所见所闻有不少片面性,个人看法也有谬误和不妥之处,敬祈各位教师指正.我是带着以下这样一些问题去了解的:     

基于遗传算法的TBDD排序方法

带时间参数的二叉判决图（ＴＢＤＤ）在电路的时滞故障测试中有着重要的应用价值，但其变量排序是用常规方法无法解决的一个优化问题。本文提出一种基于遗传算法的ＴＢＤＤ排序算法。用快速衡量值和ＴＢＤＤ节点数来计算个体的适应度。针对变量排序的特定问题，提出一种模板保序交叉方法。采用知适应的变异概率计算方法，并提出一个适合于ＴＢＤＤ排序问题的变异算法。实验结果表明较好地解决了ＴＢＤＤ的排序问题。     

光激励和光检测微型硅谐振器研究

分析了光激励谐振器振动的检测问题，用调制激光束激励谐振器使其发生振动，并采用光学干涉的方法测量了这种微振动。     

读"面向21世纪电工电子系列课程教学内容和课程体系改革的研究与实践总结"后的联想

笔者主要阐述了在阅读电气电子教学学报第23卷第3期中登载的陈笃信教授等的文章后所产生的联想,其中包括：学校的中心任务如何保证,培养人才的目标如何落实,教材的编写如何配合三个部分。     

THE EFFECTIVE RANGE OF K-FAULT DIAGNOSIS OF-LINEAR CIRCUITS

In view of K-fault testability,the topological construction of a practical circuitis far from ideal.In order to improve the testability of a circuit,we may increase the numberof accessible nodes or use the multi-excitation method.Effectiveness of these methods and thefeasibility of choosing accessible nodes are discussed in detail.The conditions for multi-excitationtestability are presented.     

“现代电子学及实验”课程开设初探

本文是作者为研究生(主要对象为非电类专业研究生)开设“现代电子学及实验”课程的一些体会,探讨了自学、实验、课题三者结合的课程改革设想和科研项目、学生兴趣、教师推荐相结合的选题方法.课程内容和教学方法突出自学、实验、系统、选用、硬件、集成电路几个方面.