圆柱锂电池端面凹坑缺陷检测方法研究

端面凹坑是圆柱锂电池缺陷检测的重要指标之一。因为明暗对比度小的浅凹坑极易受金属表面上随机出现的亮点暗斑等强噪声的干扰,造成浅凹坑自动检测十分困难。为此,提出了一种解决方案：首先针对在单一光源角度下难以获取清晰的浅凹坑图像问题,采集6张凹坑在不同光源角度下的图像;其次采用时域平均和剔除异常值方法对6张图像进行融合得到基准面图像,并采用基于滑动窗口和奈奎斯特采样定理的空间滤波方法,减弱了信息强度较强的干扰噪声,再根据误差分析理论,提取灰度分布曲线的平均偏差;然后根据凹坑在灰度分布曲线中的形态,提取凹凸曲线段峰谷差和宽度比;最后采用BP神经网络方法建立检测模型来实现凹坑检测。对现场采集到的样本进行了测试,算法的正确检测率为100%。     

一种数字电路单粒子翻转测试方法

为提高航天器系统设计的可靠性，避免单粒子效应对航天器系统造成损坏，在单粒子翻转经典测试方法"黄金芯片比较法"的基础上，设计一种硬件实现的测试方法。方法通过对输出高低电平相关区域的重新取舍，采用合适芯片从硬件上实现数据选择器、锁存器与数值比较器的功能优化，并进行FPGA移植，以解决经典方法在电平翻转时出现误判的问题。同时也详细阐述了移植FPGA过程中的器件选取与程序设计。实际测试表明，改进后的测试方法获得了良好的抗干扰性，为单粒子效应模拟试验提供有效的支持。