热应力加速试验评定碲镉汞焦平面阵列像元储存寿命

高可靠性长寿命碲镉汞焦平面阵列像元性能参数慢慢变差退化失效,确定它的储存寿命要用B类试验缩短试验时间。有效加速寿命试验ALT或加速退化试验ADT的恒定热应力,应大于高温+90℃、2 160 h。定量加速试验前,应进行高加速应力筛选试验HASS迫使缺陷发展,以暴露可能存在的早期故障。根据碲镉汞红外焦平面探测器杜瓦组件高温储存试验性能退化测试数据,用统计模型对在恒定高温应力水平下获得的失效时间或退化特征性能参数进行转换,得到在+25℃额定应力水平下的储存寿命大于50年。超过3 000 h高温储存试验结果表明,残余工艺应力释放导致试验前1 500 h像元性能有向好的趋势,在高温+80℃的真空环境下烘烤20天不会造成明显的像元性能恶化。     

红外焦平面探测器非线性度拟合参数分析

从理论上分析了光子型红外焦平面探测器各输入输出参数之间的线性关系。对典型320×256长波红外焦平面探测器在不同拟合参数下的非线性度进行了测试,并与理论计算结果进行了比较。结果表明采用输出信号电压与波段光子数或黑体波段辐照功率进行拟合,可以使理论上带来的非线性度减至最小,能够更为准确地评价红外焦平面探测器的非线性度。