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为了缩短复杂集成电路在ESD测试中出现的故障问题的定位次数及定位时间,提出了五种测试定位方法。对这些方法以顺序查找法、二分查找法及分块查找法为基础进行了定位次数及定位时间的通用公式推导,进而进行了定位次数及定位时间的分析对比。针对分块查找法,延伸出了三种不同的查找方法;同时针对这五种查找方法提出了测试定位效率的概念。发现对于超过8个管脚的复杂集成电路,二分法是减少测试定位次数的最佳选择,分块法2是减少测试定位时间及提升测试定位效率的最佳选择;对于少于8个管脚的集成电路,顺序法和二分法是较好的选择方法。  相似文献   
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