谈进口铁矿石中的有害元素

概述铁矿石中常见的有害伴生元素及其对冶炼、环境和人体健康的影响;介绍宁波口岸对进口铁矿石中12种有害元素含量的抽查情况,并对抽查结果进行分析;指出一些进口铁矿石存在不同程度的重金属污染的风险,应引起高度重视.     

铁矿石检测技术及其新进展

随着近年来铁矿石作为大宗金属矿产品，国际贸易结算时对相关指标要求更为精确、更全面和快捷，铁矿石的检测分析也越凸现其重要性。由于工作的需要，需接触更多的检测新技术。目前，检测项目的拓展和新的检测技术发展已经对铁矿石检测领域产生深远的影响。文中对铁矿石传统检测技术和新技术应用情况作了介绍，并对其发展提出了看法。     

分布式智能数字电液产品

历经5年研究与开发，Atos现已推出全系列带有数字操作、板式连接放大器的电液比例元件。此类产品在常规的控制体系上增加了新功能，也为开发结构更紧凑、技术含量更高的新机器提供了保证。数字式放大器集成了数项逻辑及控制功能(分布式智能)，使得现代化的现场总线通信技术的应用变得更加经济和可行。数字技术的优势数字控制技术在比例电液元件上的应用可以从多方面改善元件性能：数字式产品体积小，可附加更多功能，并允许增加元件设定参数的数目，以适应具体的应用。以数字方式控制设定参数具有完全重复性。而且，由于带有永久存储器，所设参数均可存储于电子器件之内。     

NTO的重结晶研究

采用真空蒸馏法,以丙酮为溶剂,通过改变蒸馏温度、溶液初始浓度、系统真空度等参数,探讨了各因素对NTO重结晶粒度分布的影响,并对超细化NTO进行了表征分析和撞击感度、爆速的测定.结果表明,在水浴温度60 ℃左右,系统真空度为0.05 MPa～0.06 MPa,溶液初始浓度不低于0.2 g/16 mL时,通过真空蒸馏法可以得到比较规则的立方晶型,颗粒粒度在1 μm左右且分布窄.NTO经超细化后撞击感度明显降低,爆速也显著提高.     

大气压冷等离子体活性因子分析及其对克雷伯氏菌细胞膜影响

使用电源电压为26 V交流电激发空气来产生大气压冷等离子体,分别处理样品0、1、2、3、4、5 min。使用发射光谱(OES)对等离子体的活性成分进行分析;采用光谱扫描多功能读数仪(SSMR)对克雷伯氏菌细胞内活性氧进行分析;利用荧光分光光度计(FS)分析克雷伯氏菌细胞膜电位和膜通透性。OES结果表明,在电源电压26 V,放电间隙3 mm时,大气压空气介质阻挡放电等离子体产生的活性因子主要是紫外线和活性氧自由基。SSMR结果显示,与对照相比,克雷伯氏菌细胞内活性氧浓度随着处理时间延长,呈现先升高,再降低趋势。FS结果表明,细胞膜电位升高,促使细胞膜超极化,从而提高细胞膜通透性。研究结果提示,大气压介质阻挡放电等离子体在生物化学工程与技术领域具有潜在的巨大应用价值。     

直流辉光和磁控增强放电等离子体的空间分辨发射光谱技术

光学发射光谱(OES)方法是等离子体诊断的有力工具之一,可以定量地给出等离子体的多种重要参数,如等离子体中的物种成分、粒子能态分布、激发温度、粒子相对密度等.本文介绍了一种用于电子回旋共振(ECR)微波等离子体磁控溅射靶附近的增强放电和直流辉光放电等离子体空间分辨诊断的发射光谱装置.其特点是光学收集系统的位置可以水平精细移动,因而可以对放电区域进行空间分辨发射光谱测量.作者利用这套装置对氩气的ECR微波等离子体和直流辉光放电等离子体进行诊断.在ECR微波等离子体的下游区内氩离子谱线的发射强度很弱,主要是高激发态原子的辐射.在磁共振增强放电区,离子谱线强度有所增加但仍比原子谱线弱,类似于直流辉光放电正柱区的光发射特性.     

多束动态混合注入技术制备TiN厚膜的工艺、结构及性能研究

在多束动态混合(MBMI)-注入系统上利用MBMI技术制备TiN膜,XRD分析表明,N入射角度α(o)、氮钛原子到达比RN/Ti、N2分压PN2对膜生长的择优取向及相结构有影响;性能研究结果表明,高的入射离子能量Ei、基体温度Ts以及合适的RN/Ti对TiN膜的显微硬度HK和膜 -基结合力都有正面影响。     

基于金纳米簇比色法对银离子的检测研究

银在现代生活中如医药,饮用水的消毒等方面具有广泛的应用,大量的银排放到自然环境中,对水中的鱼和环境中的微生物产生伤害。本文根据文献利用水热反应法以牛血清白蛋白为还原剂合成牛血清白蛋白保护的金纳米簇为探针,建立了比色传感器用于银离子的快速检测。该金纳米簇荧光探针对银离子有着较好的选择性,在Ag⁺浓度0.3-10 mM范围内Ag⁺浓度与紫外吸收强度呈现良好的线性关系(R2=0.98746),其检测限为0.1 mM。     

四氨基镍酞菁在金电极上成膜过程的研究

采用循环伏安法（CV）和石英晶体微天平技术（QCM）对四氨基镍酞菁（NiTAPc）在金电极上的聚合成膜过程进行了研究,讨论了扫描速率、溶剂、支持电解质及单体浓度对其成膜过程的影响,考察了该聚合膜在无单体电解质溶液中的氧化还原行为及稳定性。借助电化学石英晶体微天平(QCM)重点讨论了过程溶液中离子在膜中传输的机理。     

X射线荧光光谱法测定铁矿石中全铁及18个次量成分

采用X射线荧光光谱法测定铁矿石中主量成分（TFe）及18个次量成分（P、SiO2、Al2O3、CaO、MgO、Mn、TiO2 、V2O5、K2O、S、Cr2O3、Ni、Co、Zn、Pb、Cu、Na2O、As）。以固定理论α影响系数法校正基体效应,使各成分的适用检测范围都得到较大拓宽;采用熔融方法制样,消除了试样的粒度效应和矿物效应。为了避免S的损失,样品经预氧化后灼烧,由软件计算或准确测定样品的烧失量。精密度试验表明,各成分的标准偏差（SD）为0.001%～0.268%。方法用于铁矿石实际样品分析,结果与其他方法结果相吻合。