碳电极材料石墨化度和无序度的X射线衍射测定

介绍了测定碳电极材料石墨化度g和无序度P的X射线衍射(XRD)原理与方法,包括从二维(1 0)和(1 1)衍射的Fourier分析、全谱拟合法以及利用石墨化度g与d002之间的关系曲线的方法.提出由θ002求g的方法和新公式.进行了石墨化度与无序度测定的实验研究,包括不同实验条件对全谱拟合结果的影响、不同求解d002的影响,以及d002法、θ002法与全谱拟合法的比较.结果表明,全谱拟合法求得的无序度Pwsf在用d002法的直线和曲线测得的结果之间,d002法和θ002法测得的g符合很好.提出全谱拟合法和用Si粉作内标样的d002及θ002法的衍射实验测定最佳方案.     

同步辐射的基本知识 第三讲 同步辐射中的散射术及其应用（一）

所谓小角（低角）散射（SAS）是研究倒易空间原点附近的相干散射现象。由于它仅对样品与介质的电子浓度差（置换无序）灵敏，因此它的强度分布只与散射体的粒子大小及其分布相关，与散射体的应力状态和结构因素无关。因此已成为测定大分子的长周期、超细颗粒大小及微孔大小（1～100nm）及其分布测定的有效工具。对于纳米级的薄膜和多层膜，除了电子密度差引起的低角散射背景外，还由于折射效应和厚度涨落引起附加衍射峰和峰间的强度涨落，     

衍射线宽化的线形分析和微结构表征

引起衍射线条宽化的不仅是微晶和第Ⅱ类(微观)应力,还有层错/孪生和位错。围绕着如何分离这种多(二、三乃至四)重宽化效应和如何求解微晶尺度、微观应变(力)、层错几率、层错密度和位错分布参数等,发展了一系列线形分析方法。从线形卷积关系、微晶-微应变宽化线形分析、微晶-微应力-层错宽化线形分析和微晶-层错-位错宽化线形分析共4个部分介绍了线形分析技术的发展和应用,以及笔者近十年进行的某些研究工作。     

AN X-RAY DOUBLE DIFFRACTION LINE METHOD FOR MEASURING COMPOSITION OF CUBIC CRYSTAL SYSTEM SOLID SOLUTION

将精确测定点阵参数的单波双线和双波双线法用于符合Vegard定理的连续固溶体和有限固溶体的组分测量。推导了立方晶系连续固溶体中一种组分x与双线衍射角差δ_x的关系 x≈(δ_x-δ_0)/(δ_1-δ_0)其中δ_1,δ_0,δ_x分别为x=1,C,x时双线Bragg角的差,并从典型例子和实验上验证了这个理论方程。对偏离上述线性关系的情形,引入修正项△x,其满足抛物线方程,故最后得 x≈(δ_x-δ_0)/(δ_1-δ_0)+Δx最大4((δ_x-δ_0)(δ_1-δ_x))/(δ_1-δ_0)~2这样就消除了线性近似引入的误差。最后,简要讨论了两种方法的误差。由于整个实验只要求测量衍射角差,消除了零位和试样偏心的影响,因此方法简便、迅速、具有一定的适用性。     

同步辐射的基本知识 第二讲同步辐射中的衍射术及其应用（三）

3 同步辐射中的掠入射X射线衍射和表面结构 3．1 同步辐射中的掠入射X射线衍射术 掠入射散射（GIS）和掠入射衍射（GID）已在表面科学和表面工程中广泛应用,近年来在试验技术、衍射理论和在多层膜分析中的应用都有很大发展。     

同步辐射的基本知识第二讲同步辐射中的衍射术及其应用（七）

6 一维超点阵材料的分析 超点阵和量子井属多层膜,不同点是两层、三层或多层不同材料的周期排列,每单层厚度在0．1～10nm量级范围。随着超点阵材料及其应用的发展,一维超点阵结构又显示出它的复杂性。除按层中材料的结晶特性分为非晶超点阵、多晶超点阵和单晶超点阵以外,还可按一维超点阵的势垒结构分为单势垒、双势垒和多势垒超点阵,     

同步辐射的基本知识 第一讲 同步辐射光源的原理、构造和特征

1 同步辐射光源的原理和发展简史 同步辐射是电子在作高速曲线运动时沿轨道切线方向产生的电磁波,因是在电子同步加速器上首次观察到,人们称这种由接近光速的带电粒子在磁场中运动时产生的电磁辐射为同步辐射,由于电子在图形轨道上运行时能量损失,故发出能量是连续分布的同步辐射光。关于由带电粒子在圆周运动时发出同步辐射的理论考虑可追溯到1889年Lienard的工作,进一步的理论工作由Schott,Jassinsky,     

同步辐射的基本知识 第二讲 同步辐射中的衍射术及其应用（八）

7 合金中元素（部分或全部）取代后原子的占位问题 无论是合金材料、硅酸盐材料、氧化物或复合氧化物材料等,为了改善其性能,用其他元素取代材料中阳离子（或阴离子）是最常用的方法,这种取代元素的作用和效果,不仅与取代元素和被取代元素的物理、化学性能的差别相关,还与取代元素的原子占位情况紧密相关。因此研究取代元素的原子占位是了解取代元素的本质作用所必需的。     

同步辐射的基本知识：第二讲同步辐射中的衍射术及其应用（二）

2六圆衍射仪、劳厄法和单晶样品的结构测定 2．1 X射线单晶六圆衍射仪在同步辐射X射线单晶衍射中一般使用六圆衍射仪,见图9所示。如德国Huber公司的5020六圆衍射仪。