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采用脉冲激光沉积(PLD)技术，在氧化镁(MgO(001))、钛酸锶(SrTiO3(001))和铝酸镁(MgAl2O4(001))3 种衬底上，外延生长钴酸镍(NiCo2O4)薄膜。采用原子力显微镜(AFM)和 X 射线衍射仪(XRD)对 NiCo2O4薄膜进行形貌表征和结构分析，测试结果表明 NiCo2O4薄膜具有平整的表面和优异的结晶度。采用综合物性测量系统(PPMS)测试 NiCo2O4薄膜的电输运及磁性能，通过对比发现在 MgO(001)和 SrTiO3(001)衬底上生长的NiCo2O4薄膜呈半导体特性，并且磁性较弱，而在MgAl2O4(001)衬底上生长的NiCo2O4薄膜具有金属性和... 相似文献
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