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正电子在某些材料中的寿命与现有仪器的时间分辨率很接近,要从这些材料的实验数据中得到寿命的正确结果,一定要考虑仪器的分辨函数。为此调试了Positronfit-Extended程序(简称P-E程序)和编排了提供近似分辨函数的程序,并用这组程序探讨了以近似分辨函数代替仪器精确分辨函数的可能性。 相似文献
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金属缺陷的研究工作一直是凝聚态物理中比较活跃的领域之一,这不但在学术上有重要价值,而且在实际应用领域有着深远意义。正电子技术使我们有可能在低浓度和A尺度上研究缺陷的电子结构。通过金属缺陷的研究可以使我们加深缺陷对金属材料性能的影响的理解,以便找出提高材料性能的方法。本文我们研究了Cu中1、2、3、4、6、 9、10、13、15空位团,Cu中H-、He-空位团复合体(1、2、3空位)的电子结构和正电子湮没寿命谱。我们采用胶体模型,利用密度泛函理论和交换能关联能的局域密度近似。在本模型中我们对缺陷作了球对称近似,这时正电荷分布n_(ext)(r)为: 相似文献
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应用背散射(R.B.S)方法测量了单层金属膜(Fe膜、Au膜)、双层金属膜(Ti-Fe膜)、双层介质膜(Si-Si○_2-Si_3N_4 膜)的厚度。在对Si-Si○_2-Si_3N_4双层介质膜测厚的同时,还测出Si_3N_4膜中含有一定量氧的存在,检验了它的生长质量。用背散射方法对错(Zr)的氧化进行了初步研究,测定了在1964年于400 ℃干燥空气中分别氧化7'、14'、28'、80'的ZrO_2膜的厚度。实验结果大体上与锆氧化的抛物线规律 相似文献
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用穆斯堡尔谱学对奥贝球铁在拉伸应变和循环疲劳应变中残余奥氏体含量与结构变化进行了研究。研究表明:在这两种应变下残余奥氏体含量随拉伸应变量或循环应变幅的增加而减少,同时残余奥氏体的结构可以分解成Fe原子周围无碳原子存在和Fe原子周围有碳原子存在两种结构。 相似文献
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