基于质量评价的辐射源定位精度提升方法

针对辐射源定位精度受限于测量环境、监测设备等因素的问题，提出一种基于质量评价的测量精度提升（MAI）方法。根据监测设备的误差范围，将每个观测点可能的取值区间均分为若干段，每段取中值作为测量值；将所有测点可能的取值重新组合后，计算得到多个结果和质量评价指标，并选择评价指标最好的结果作为测量结果。所提方法与基于到达信号强度（SOA）的辐射源定位方法相结合，将复相关系数、位置偏差系数、信号强度方差作为评价指标，以复相关系数接近于1且位置偏差系数小于某指定值的结果为有效结果，有效结果中信号强度方差最小的即为最终的测量结果。为提高计算性能，在测点数大于5时，对该方法进行了改进：首先将前5个测点使用此定位方法进行计算，并将所有有效结果按信号强度方差排序，取前L个结果与第6个测点的测量值组合，重新计算得到多个结果；然后再排序、取前L个结果，并与下一个测点重新组合计算，直到所有的测点都参与组合计算，最后得出结果。仿真实验结果表明，所提方法可以在不增加硬件成本的条件下，以牺牲计算性能为代价，大幅度提升定位精度。     

大功率电源谐波传导发射抑制方法研究

提出了大功率电源的谐波传导发射超标的问题,对大功率电源谐波超标可能存在的原因进行了分析,设计出了大功率电源谐波超标的通用抑制电路,并进行了案例验证。     

太赫兹波计算鬼成像:原理和展望

本文立足于太赫兹波成像领域近年来备受关注的研究热点—太赫兹波计算鬼成像,首先回顾了鬼成像从量子到经典再到计算的历史过程,然后阐述了计算鬼成像的数学原理,随后综述了计算鬼成像在太赫兹波段的发展历程,及其在超衍射分辨成像、石墨烯光电导成像、太赫兹光谱成像等方面的应用,并在最后展望了太赫兹波计算鬼成像的发展前景:计算鬼成像作为一种成像手段,可以绕开在太赫兹频段缺乏经济高效的焦面阵列式探测器的难题,但目前的成像帧率还难以满足快速成像的应用需求,相信在未来随着器件性能的提升和成像算法的优化,其成像帧率可以得到大幅提升。     

太赫兹脉冲焦平面成像技术的发展与应用

作为太赫兹技术中的重要组成部分,太赫兹脉冲焦平面成像一经问世就引起了行业内的广泛关注,人们引入了各种方法去提升此成像技术的测量性能,同时也尝试将此成像技术应用于不同的工业和基础研究领域。本文综述了近年来人们对太赫兹脉冲焦平面成像的技术改良和应用研究,包括提升成像系统的空间分辨率、信噪比、信息获取能力,以及将此成像技术应用于光谱识别检测、超表面器件功能验证、太赫兹特殊光束测量、太赫兹表面波观测等,希望该综述能够推动太赫兹脉冲焦平面成像的进一步技术革新和应用拓展。     

太赫兹超表面计算全息

全息术是一种三维成像技术,它已经被应用于多种实际场景。随着计算机科学与技术的迅猛发展,计算全息由于其方便和灵活的特性,已经成为一种广泛应用的全息成像方法。本文回顾了我们近期基于超表面的太赫兹计算全息研究进展。其中,作为全息板的超表面展示出了超越传统光学器件的独特性能。首先,利用超表面实现了对于全息板每个像素的相位振幅同时且独立的调控,进而实现了高质量全息成像。这种新的电磁波操控能力也带来了新的全息成像效果,如利用介质超表面实现了全息像沿传播方向上的连续变化。其次,对超表面在不同偏振态下的响应进行设计,分别实现了线偏振态与频率复用、圆偏振态复用、以及基于表面波的偏振复用超表面全息术。此外,本文提出了依赖于温度变化而主动可控的超表面全息术,为今后计算全息术的设计与实现提供了新的方案,也推动了超表面在实际应用方面的发展。