| 用全速电流测试方法检测PIC12F509微处理器 |
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| 引用本文： | 邓杭剑,邝继顺,蔡烁.用全速电流测试方法检测PIC12F509微处理器[J].微处理机,2008,29(1):5-8. |
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| 作者姓名： | 邓杭剑 邝继顺 蔡烁 |
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| 作者单位： | 湖南大学计算机与通信学院,长沙,410082 |
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| 摘 要： | 全速电流测试是一种新的电路测试方法。这里将一种指令级的全速电流测试方法应用到RISC指令集流水线结构的PIC12F509微处理器测试实验中。实验结果表明使用指令级的全速电流测试方法对PIC12F509微处理器进行测试是可行的。
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| 关 键 词： | 全速电流测试 PIC12F509微处理器 指令级 流水线 |
| 文章编号： | 1002-2279(2008)01-0005-04 |
| 修稿时间： | 2007年3月28日 |
Using at Speed Current Testing Method to Test PIC12F509 Microprocessor |
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| DENG Hang-jian,KUANG Ji-shun,CAI Shuo.Using at Speed Current Testing Method to Test PIC12F509 Microprocessor[J].Microprocessors,2008,29(1):5-8. |
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| Authors: | DENG Hang-jian KUANG Ji-shun CAI Shuo |
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| Abstract: | At speed current testing is a latest method for circuit test,it is rarely used in the experiment for testing for the moment.This paper has used a method called instruction level at speed current test in the experiments for testing PIC12F509 microprocessor which employs a RISC architecture and pipelining.The experimental results show that the instruction level method is fit for testing PIC12F509 microprocessor. |
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| Keywords: | At speed current testing PIC12F509 microprocessor Instruction level method Pipelining |
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