用PECVD技术淀积PbTiO3薄膜 |
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引用本文: | 管玉国,戴国瑞.用PECVD技术淀积PbTiO3薄膜[J].功能材料,1997,28(1):59-61. |
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作者姓名: | 管玉国 戴国瑞 |
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作者单位: | 吉林大学电子工程系 |
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摘 要: | 采用PECVD技术,以Pb(C2H5)、HiCl4和O2为反应源,在170℃温度下沉积了PbTiO3功能薄膜,分别对薄膜进行了X射线荧光光谱、X光电子能谱、X射线衍射光谱和扫描电镜的化学组成及形貌等分析。
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关 键 词: | 等离子体 CVD 钛酸铅 薄膜 |
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