| TFT-LCD屏缺陷检测的研究 |
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| 引用本文： | 屈惠明.TFT-LCD屏缺陷检测的研究[J].光电子技术,1997,17(2):102-109. |
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| 作者姓名： | 屈惠明 |
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| 作者单位： | 南京电子器件研究所!国家平板显示工程技术研究中心，南京210016 |
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| 摘 要： | 分析了国外目前常用几种薄膜晶体管(TFT)有源矩阵液晶显示（AM-LCD)屏的缺陷检测方法的优缺点。深入研究了TFT-LCD屏的结构、缺陷产生的原因和概率．设计了一种能全面、直观地进行TFT-LCD缺陷检测的方法，该方法不仅能检测出TFT-LCD中各种常见的新短路等硬性缺陷并确定其具体位置．而且能根据TFT-LCD屏质量要求对软性缺陷进行判定。
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| 关 键 词： | TFT-LCD 缺陷检测 有源矩阵液晶显示 薄膜晶体管 短路 位置 判定 常见 体位 研究 |
Study of Defect Test for TFT-LCD Panel |
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| Qu Huiming.Study of Defect Test for TFT-LCD Panel[J].Optoelectronic Technology,1997,17(2):102-109. |
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| Authors: | Qu Huiming |
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| Abstract: | The advantages and disadvantages of present defect testing method for TFT-LCD panels is analysed. A new method which can easily test all kinds of defects in TFT-LCD panels is designed. |
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| Keywords: | thin film transistor active matrix liquid crystal display defect test transfer admittance circuit |
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