| 基于田口法对无边框液晶模组L0漏光改善研究 |
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| 引用本文： | 唐胜果,赵曼,王明明,赵辉,钱小丽,李兰,李倩,赵凯旋,徐海丰,余丽霞.基于田口法对无边框液晶模组L0漏光改善研究[J].液晶与显示,2019(7):667-675. |
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| 作者姓名： | 唐胜果 赵曼 王明明 赵辉 钱小丽 李兰 李倩 赵凯旋 徐海丰 余丽霞 |
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| 作者单位： | 合肥鑫晟光电科技有限公司 |
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| 摘 要： | 为改善无边框液晶模组L0漏光,本文通过对影响面板透过率的液晶材料、PI原材、ODF工艺、PI涂布及其摩擦工艺等诸多因素研究,筛选出预固化温度&时间、PI膜厚、TFT&CT面摩擦强度、TFT&CT摩擦布共7个影响因子;选择面板翘曲度为噪声因子,通过量测不同程度L0漏光对应的面板翘曲,并对L0漏光程度与翘曲进行二次拟合,以此分别选取翘曲为1.8~2.1μm及6.4~8.0μm的面板作为噪声因子高低水平.按L8设计田口实验,采用Jump14运行试验结果,结果显示,预固化温度设置为140℃,预固化时间设置为130s,PI膜厚设置为75nm,TFT面摩擦强度设置为14mm,CF面摩擦强度设置为15.5mm,其他参数维持量产条件,S/N可得到最大值-2.63.该条件下实际平均漏光水平从参数调整前的2.25下降到调整后的1.04.特别地,在漏光高发的翘曲区域,即6.4~8.0μm时,L0漏光均值从3.07下降到1.7,预测漏光程度大于level3的不良率从6.2%下降到0.2%.
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| 关 键 词： | L0漏光 ADS显示模式 无边框液晶模组 田口法 |
L0 light leakage in borderless module by Taguchi method |
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| TANG Sheng-guo,ZHAO Man,WANG Ming-ming,ZHAO Hui,QIAN Xiao-li,LI Lan,LI Qian,ZHAO Kai-xuan,XU Hai-feng,YU Li-xia.L0 light leakage in borderless module by Taguchi method[J].Chinese Journal of Liquid Crystals and Displays,2019(7):667-675. |
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| Authors: | TANG Sheng-guo ZHAO Man WANG Ming-ming ZHAO Hui QIAN Xiao-li LI Lan LI Qian ZHAO Kai-xuan XU Hai-feng YU Li-xia |
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| Affiliation: | (Hefei Xinsheng Optoelectronics Technology Ltd. Co., Hefei 230012, China) |
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| Abstract: | TANG Sheng-guo;ZHAO Man;WANG Ming-ming;ZHAO Hui;QIAN Xiao-li;LI Lan;LI Qian;ZHAO Kai-xuan;XU Hai-feng;YU Li-xia(Hefei Xinsheng Optoelectronics Technology Ltd. Co., Hefei 230012, China) |
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| Keywords: | L0 light leakage ADS borderless module Taguchi method |
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