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Notching效应在MEMS风速仪制造工艺中的应用
引用本文:常洪龙,周平伟,谢建兵,杨勇,谢中建,袁广民.Notching效应在MEMS风速仪制造工艺中的应用[J].传感技术学报,2013,26(2):191-194.
作者姓名:常洪龙  周平伟  谢建兵  杨勇  谢中建  袁广民
作者单位:西北工业大学空天微纳系统教育部重点实验室,西安,710072;西北工业大学空天微纳系统教育部重点实验室,西安,710072;西北工业大学空天微纳系统教育部重点实验室,西安,710072;西北工业大学空天微纳系统教育部重点实验室,西安,710072;西北工业大学空天微纳系统教育部重点实验室,西安,710072;西北工业大学空天微纳系统教育部重点实验室,西安,710072
基金项目:国家自然科学基金项目(61273052);安全技术交通行业重点实验室开放课题项目
摘    要:深反应离子刻蚀(DRIE)工艺在目前的硅微机械高深宽比结构加工中应用十分广泛。在SOI硅片DRIE刻蚀过程中,存在着一些被认为对刻蚀速率和结构轮廓不利的效应,如横向刻蚀(Notching)效应。通过在结构旁布置牺牲结构-硅岛,利用Notching效应加工出以悬空硅作为敏感单元的风速仪,其响应时间常数和电阻温度系数TCR(Temperature Coefficient of Resistant)分别为1.08μs和4 738×10-6/℃。正如所描述的,对于特定的微机械应用,Notching效应可以转变为一种加工优势,提高了微加工过程中的变化性。

关 键 词:MEMS风速仪  悬空硅  横向刻蚀效应  深反应离子刻蚀

Application of Notching Effect in The Fabrication Process of MEMS Anemometer
CHANG Honglong,ZHOU Pingwei,XIE Jianbing,YANG Yong,XIE Zhongjian,YUAN Guangmin.Application of Notching Effect in The Fabrication Process of MEMS Anemometer[J].Journal of Transduction Technology,2013,26(2):191-194.
Authors:CHANG Honglong  ZHOU Pingwei  XIE Jianbing  YANG Yong  XIE Zhongjian  YUAN Guangmin
Affiliation:(Key Laboratory of Micro/Nano Systems for Aerospace,Ministry of Education,Northwestern Polytechnical University,Xi ’ an 710072,China)
Abstract:
Keywords:
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