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接触线用Cu-Ag-Cr合金的抗软化性和再结晶研究
引用本文:刘喜波,董企铭,刘平,贾淑果,田保红.接触线用Cu-Ag-Cr合金的抗软化性和再结晶研究[J].铸造技术,2004,25(9):713-715.
作者姓名:刘喜波  董企铭  刘平  贾淑果  田保红
作者单位:河南科技大学材料与工程学院,河南,洛阳,471003
基金项目:国家高技术研究发展计划(863计划)
摘    要:对比研究Cu-0.1Ag-0.1Cr和Cu-0.1Ag合金的基本性能和在不同温度下退火的抗软化性,结果表明Cu-0.1Ag-0.1Cr合金具有更好的综合性能,软化温度比Cu-0.1Ag合金升高110 ℃.同时对退火过程中Cu-0.1Ag-0.1Cr合金的回复和再结晶状况,进行了初步研究,表明由于弥散析出物的阻碍作用,该合金的再结晶过程延缓,在450~600 ℃(1 h)之间完成再结晶.

关 键 词:接触线  软化温度  形变时效  弥散分布  再结晶
文章编号:1000-8365(2004)09-0713-03
修稿时间:2004年3月25日

Study on the Softening Resistance and Recrystallization of Cu-Ag-Cr Alloy
LIU Xi-bo,DONG Qi-ming,LIU Ping,JIA Shu-guo,TIAN Bao-hong.Study on the Softening Resistance and Recrystallization of Cu-Ag-Cr Alloy[J].Foundry Technology,2004,25(9):713-715.
Authors:LIU Xi-bo  DONG Qi-ming  LIU Ping  JIA Shu-guo  TIAN Bao-hong
Abstract:
Keywords:Contact wire  Softening temperature  Deforming aging  Dispersed precipitate  Recrystallization
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
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