| X荧光测量在智利SB矿点和物化探异常检查中的应用 |
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| 引用本文： | 王磊,方维萱,张德会.X荧光测量在智利SB矿点和物化探异常检查中的应用[J].矿产勘查,2011,2(6):800-806. |
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| 作者姓名： | 王磊 方维萱 张德会 |
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| 作者单位： | 1. 有色金属矿产地质调查中心,北京,100012
2. 中国地质大学(北京),北京,100083 |
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| 基金项目： | 中央财政2007年国外矿产资源风险勘查专项资金项目 |
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| 摘 要： | 介绍新一代X射线荧光分析仪(XRF)在野外现场矿产勘查中的应用效果.讨论了XRF中的原理及元素精准度、不平度效应、湿度效应及测试距离等影响因素,对铜、铅、锌等元素的检出限为20×10-6.应用XRF对智利瑞康纳达地区沟系次生晕异常区进行检查评价,快速发现异常,及时追踪和评价异常,减少地球化学样品的采集、分析和结果整理时间,特别是在海外物价高,样品分析周期长的情况下,有着特别重要的意义.
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| 关 键 词： | X射线荧光分析仪 化探异常 异常评价 智利 |
| 收稿时间： | 2011/1/12 0:00:00 |
The application of X ray fluorescence measuring at the SB mineral points in Chile and in the back - check of geophysical and geochemical anomalies |
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| WANG Lei,FANG Wei-xuan and ZHANG De-hui.The application of X ray fluorescence measuring at the SB mineral points in Chile and in the back - check of geophysical and geochemical anomalies[J].Mineral Exploration,2011,2(6):800-806. |
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| Authors: | WANG Lei FANG Wei-xuan and ZHANG De-hui |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | X-ray fluorescence analyzer geochemical anomaly anomaly evaluation Chile |
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