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11.
Qing Zhong Liu 《Microwave Theory and Techniques》1992,40(2):329-337
Unified analytical expressions have been derived for calculating the resonant frequencies, transimpedance and equivalent input noise current densities of the four most widely used tuned optical receiver front ends built with FETs and p-i-n diodes. A more accurate FET model has been used to improve the accuracy of the analysis. The Miller capacitance has been taken into account, and its impact on the performances of the tuned front ends has been demonstrated. The accuracy of the expressions has been verified by Touchstone simulations. The agreement between the calculated and simulated performances of the front ends is very good. The expressions can be used to investigate the performances of different tuned front ends in a very simple way and provide a good starting point for further computer optimizations of the front ends 相似文献
12.
采用通用蒙特卡罗粒子输运程序MCNP/38计算低环径比Tokamak(紧凑环或球形环)聚变堆第一壁及中心导体上的中子壁负荷分布和核热沉积分布,并与常规Tokamak堆第一壁上中子壁负荷分布和核热沉积分布进行比较、分析。结果表明,在中子壁负荷归一化为1MW/m2时,与常规Tokamak相比,在低环径比Tokamak堆第一壁及中心柱表面上中子壁负荷分布峰值并不比常规Tokamak堆第一壁上的峰值高,而且低于低环径比Tokamak堆整个第一壁上的平均值,而中心柱上的核热沉积峰值稍高于常规Tokamak堆第一壁上的核热沉积峰值,但对较高中子壁负荷情况,中心导体柱上的核热沉积和辐照损伤仍可能是比较严重和值得特别研究的问题。 相似文献
13.
公共娱乐场所消防安全现状及对策 总被引:1,自引:0,他引:1
卿婉丽 《消防技术与产品信息》2005,(5):22-23
从消防安全管理的角度,论述了公共娱乐场所消防安全存在的主要问题和如何进一步加强公共娱乐场所的消防安全工作 相似文献
14.
凿岩钎具存在的问题及改进措施 总被引:1,自引:0,他引:1
分析叙述了凿岩钎具损坏的形式和原因。并从设计、制造、选材和操作技术等方面提出了相应的改进措施。从而有效地提高了凿岩钎具的制造质量,延长了使用寿命。 相似文献
15.
研究了温度及气体压力对漂移室(工作于正比区)气体放大倍数的影响,温度和气体压力的变化范围分别是5 ̄40℃及90 ̄105kPa。用实验数据拟合得到了函数关系并测量了几种饱和度下函数中的参数值。 相似文献
16.
17.
关节式电分相是电气化铁路牵引供电系统较为薄弱的环节,电力机车在通过关节式电分相时经常会产生过电压现象,过电压可能会造成机车放电间隙击穿、牵引所馈线保护跳闸,严重影响铁路的安全运营.从实测结果来看,机车在过渡区和中性区行驶时过电压会持续存在一段时间,与以往对关节式电分相产生过电压的研究作对比,分析造成电磁暂态过程以及过电压延续的原因可能是机车的移动.在MATLAB/Simulink软件上建立了机车过关节式电分相的仿真模型,用多个离散过程来近似模拟机车过电分相的连续过程,最后与实测波形对比,验证等效模型是有效的. 相似文献
18.
19.
20.
半导体芯片是所有封装半导体器件的核心功能部件,涉及芯片失效的分析是一项复杂且精细的工作,而对于特定使用性能的芯片,分析方法更是千差万别。本研究基于常见芯片发生异常的主要分析手段,介绍了激光测距传感器功能异常的失效分析方法,通过电性能测试及电路板的测试分析,缩小失效发生的功能区域,用I-U曲线测试确定失效的重现方法,最后使用光诱导电阻变化技术(OBIRCH)进行失效的定位,结合晶圆的去层化处理和聚焦离子束(Plasma FIB)微切,用扫描电子显微镜获得失效点的具体位置和形貌,确定失效原因为金属层连接通孔烧融,通孔熔断与造成芯片失效的机理一致,从而为芯片设计、生产工艺优化甚至客户的应用提供了有效的信息。 相似文献