全文获取类型
收费全文 | 57416篇 |
免费 | 2708篇 |
国内免费 | 2402篇 |
专业分类
电工技术 | 5861篇 |
技术理论 | 4篇 |
综合类 | 3405篇 |
化学工业 | 5535篇 |
金属工艺 | 1536篇 |
机械仪表 | 5935篇 |
建筑科学 | 4329篇 |
矿业工程 | 3262篇 |
能源动力 | 3372篇 |
轻工业 | 3843篇 |
水利工程 | 1496篇 |
石油天然气 | 3055篇 |
武器工业 | 344篇 |
无线电 | 8859篇 |
一般工业技术 | 3479篇 |
冶金工业 | 1686篇 |
原子能技术 | 1003篇 |
自动化技术 | 5522篇 |
出版年
2024年 | 397篇 |
2023年 | 1370篇 |
2022年 | 1731篇 |
2021年 | 1976篇 |
2020年 | 1548篇 |
2019年 | 1695篇 |
2018年 | 845篇 |
2017年 | 1175篇 |
2016年 | 1451篇 |
2015年 | 2028篇 |
2014年 | 4819篇 |
2013年 | 3147篇 |
2012年 | 3816篇 |
2011年 | 3715篇 |
2010年 | 3175篇 |
2009年 | 3534篇 |
2008年 | 4420篇 |
2007年 | 3264篇 |
2006年 | 2688篇 |
2005年 | 2830篇 |
2004年 | 2094篇 |
2003年 | 1746篇 |
2002年 | 1377篇 |
2001年 | 1156篇 |
2000年 | 953篇 |
1999年 | 796篇 |
1998年 | 710篇 |
1997年 | 668篇 |
1996年 | 608篇 |
1995年 | 499篇 |
1994年 | 481篇 |
1993年 | 330篇 |
1992年 | 356篇 |
1991年 | 308篇 |
1990年 | 264篇 |
1989年 | 305篇 |
1988年 | 61篇 |
1987年 | 49篇 |
1986年 | 31篇 |
1985年 | 29篇 |
1984年 | 29篇 |
1983年 | 20篇 |
1982年 | 12篇 |
1981年 | 7篇 |
1980年 | 3篇 |
1965年 | 4篇 |
1960年 | 3篇 |
1959年 | 2篇 |
1958年 | 1篇 |
排序方式: 共有10000条查询结果,搜索用时 7 毫秒
21.
22.
突破文件管理桎梏提高企业办公效率 总被引:1,自引:0,他引:1
世界最大的日用消费品公司之一宝洁公司早已成为家喻户晓的品牌,作为一家巨型的跨国公司,宝洁在激烈的市场竞争中不仅以实力取得优势,而且还从公司内部入手,从方方面面、点点滴滴不断增强.使得其如巨人一般在市场中起舞。 相似文献
23.
工作中,提高测量效率尤为重要,通过一系列的研究、探索,开发现有仪器设备的潜能,以进一步实现测量过程的自动化,降低劳动强度,降低对测量人员的要求,达到准确、高效地完成测量任务。 相似文献
24.
张志军 《激光与光电子学进展》2006,43(6):73-73
在美国西部光电博览会高功率二极管激光器会议上,美国的Alfalight公司公布了25℃,22W,970nm连续输出的单发激光二极管。该公司同时报道了他们在美国国防部高级计划研究署(DARPA)超高效率二极管发射源计划中的功率转换效率(PCE)为80%的目标计划进展。他们的最新结果是,带1mm长腔的占空比为20%的半导体条在25℃时的功率转换效率达到71%。 相似文献
25.
26.
27.
在有限差分波动方程数值模拟中,通常采用高阶差分方法来提高空间导数的数值逼近精度,以实现降低数值频散,提高数值模拟精度的目的。首先对差分频散进行了理论分析;然后讨论了估计一阶空间导数的隐式差分格式,并与通常采用的高阶精度显式差分格式进行了对比分析,结果表明,隐式差分格式能够在更宽的波数范围使差分频散控制在可接受的水平,如8阶精度的显式差分格式所适应的波数带宽约为O.55kmax,而隐式差分格式所适应的波数带宽约为0.7kmax;最后通过模型试算,对隐式差分格式的有效性进行了验证。模拟结果表明,用隐式差分格式在一定程度上降低了差分频散,提高了模拟精度。 相似文献
28.
采用超高真空电子束蒸发法制备了新型高 K栅介质-非晶 ZrO2薄膜. X射线光电子能谱 (XPS) 中 Zr3d5/2 和 Zr3d3/2 对应的结合能分别为 182.1eV和 184.3eV, Zr元素的主要存在形式为 Zr4+,说明薄膜由完全氧化的 ZrO2组成 ,并且纵向分布均一.扩展电阻法( SRP)显示 ZrO2薄膜的 电阻率在 108Ω@ cm以上,通过高分辨率透射电镜( HR- XTEM)可以观察 ZrO2/Si界面陡直,没有 界面反应产物 ,证明 600℃快速退火后 ZrO2薄膜是非晶结构.原子力显微镜( AFM)表征了薄膜的 表面粗糙度,所有样品表面都很平整,其中 600℃快速退火样品 (RTA)的 RMS为 0.480nm. 相似文献
29.
30.