新型高灵敏度XRF分析仪的研制与应用

新型高灵敏度便携式X射线荧光(XRF)分析仪基于电致冷Si-PIN半导体X射线探测器和微机多道(2048道)谱仪系统,整机重3.8kg(探头重0.6kg),对铜、锌、砷等元素的分析检出限为10μg·g-1,适用于野外现场的天然岩石、土壤和水系沉积物的多元素含量的定量测定,以及工业原料、半成品、产品快速分析。     

一种新型水泥样品X荧光分析仪的研制

介绍了一种可同时分析水泥样品中镁，铝，铁，钙等多元素含量的X荧光分析仪，该仪器采用Si-PIN电制冷半导体探测器，激发源采用小功率X光管，仪器具有数据采集，实时显示，数据处理，数据通讯等功能，实现了水泥生产的闭环在线控制。     

EDXRF-1024便携式高精度X荧光分析仪

EDXRF-1024便携式高精度X荧光分析仪采用的是新型电致冷Si-PIN半导体探测器和放射性同位素源,在无液氮冷却的条件下能够实现对样品的现场测量;仪器一次可以同时测量5种以上元素,甚至多达十余种元素的定性、定量测定,其检出限可达10---200mg/kg,在原位条件下分析精度可达2%-10%.     

高精度EDXRF多元素分析仪在考古中的应用

本文介绍了自行研制的高精度X荧光分析仪的具体设计及其在考古中的应用.此仪器采用新型电致冷Si-PIN半导体探测器和放射性同位素源,在无液氮冷却条件下能够实现对样品的现场测量.通过对考古现场(金沙遗址)的实际应用发现,仪器一次可以同时完成5种元素以上,甚至多达十余种元素的定性、定量测定,其分析结果清楚明了,分析精度可达2%～10%.     

能量色散型X荧光分析仪光管、样品、探测器距离的蒙特卡罗优化

在EDXRF分析中,X射线荧光计数率与待测元素有密切关系.由理论可知,在能量色散型X荧光分析仪设计时,优化X光管、样品和探测器的相对几何位置对荧光计数率的改善有很大的帮助.在前期模拟的最佳角度基础上,采用MCNP程序,建立几何模型,模拟了X光管、样品和探测器之间不同距离时的X荧光计数率,得到了这三者之间的最佳距离.     

微束微区X荧光探针分析仪在矿石微粒分析中的应用

描述了一种微束微区X荧光探针分析仪,它采用会聚X光透镜来聚焦入射X射线,可对样品内微小面积的元素及其含量进行分析.以铁矿石内颗粒的测量为例,表明了微束微区X荧光探针分析仪是区分矿石中微小颗粒的有力工具,在细微材料成分分析和无损检测中具有广阔的前景.     

EDXRF方法在土壤重金属污染评价中的应用

高灵敏度CUT-3000型能量色散X射线荧光(EDXRF)分析仪采用低能X光管和同位素源双激发方式，以电致冷半导体探测器作为探测系统，使该分析仪具有分辨率高、检出限低、分析元素多的特点。采用该仪器成功地分析了攀枝花地区土壤中重金属的含量，评价了该区土壤重金属污染的特征，结果表明该区重金属污染主要与工矿活动有关。     

EDXRF分析装置的角度布置对荧光计数率影响的蒙特卡罗模拟

在EDXRF分析中,X射线荧光计数率与待测元素种类和含量有密切关系.但X射线荧光计数率又与很多因素有关,其中X光管、样品和探测器的几何位置关系是一个重要的影响因素.为了设计较好计数率的能量色散型X荧光分析仪,采用MCNP4C程序,建立与实际相符的几何模型,模拟了不同入射角和出射角时的X荧光计数率,得到了X光管与样品、探...     

炮眼式X荧光分析仪用的正比计数管

利用闪烁探测器作为探测元件的X荧光分析仪已在冶金、地质、建材等部门陆续使用,获得了比较明显的经济效果。然而,如何将这种技术用到矿山坑道中仍是新的课题。 我们研制了适用于矿山坑道的炮眼式X荧光分析仪所需的正比计数管。性能、指标符合设计要求,经一年多的考验,未发现性能异常。     

用半导体探测器测量1.5-60keV的X射线

本文阐述X射线能谱测量用的半导体探测器,对硅与锗X射线探测器进行了比较。扼要介绍了X荧光分析用的探测器的制备方法和性能,分析了影响探测器效率的因素。实际量测了1.5-60keV的X和低能γ射线。对于能量>5keV的X射线,探测效率用~(241)Am源刻度,<5keV时,用玻璃荧光源测量窗吸收及其他效率损失的标准技术。测量结果与文献发表过的数据进行了比较。