引线带楔焊键合技术

引线带楔焊键合和引线(圆形)楔焊键合是不同的。对于高频器件应用来说,引线带键合较之于圆形引线键合更为有利。为了让更多的人了解该项技术,文章对部分相关技术,其中包括键合工艺过程、键合引线的断丝方式、键合引线带规格以及键合劈刀的选择作了介绍。     

超细电子引线的开发

电子引线已用于计算机硬盘驱动器的磁头与电子装置之间的连接。对于这种系统来说，电子引线因高可靠和高质量而成为最重要的元件之一，最近，对硬盘驱动器小尺寸，大存储容量和高传输速度的要求正在日益增长。因此，人们希望开发出一种引线的最佳导线结构以满足诸如细径、机械强度、电子特性和廉价的要求，本文报道了我们已研制的超细引线。我们制造了很多产品用于评价，并进行了各种评价，结果证实了所研制的超红引线具有优异的质量     

玻封金属外壳用金属引线

玻璃封接金属外壳底座一般由金属引线和壳体采用玻璃烧结而成。金属引线材料选择和结构的设计,对金属封装的可靠性起着关键的作用。文章介绍了金属封装常用金属引线材料和结构的种类和特点,并根据玻璃封接金属外壳的形式和功能要求,合理地选择金属引线,以满足不同的封装要求。     

高温超导引线的传输特性

从电磁学理论入手,给出了引线的基本理论。对高温超导引线的传输特性进行了分析,并对金属引线和导引线的性能进行了比较。得到以下结论：（１）在超导能隙频率下,金属引线的衰减系数比高温超导引线大几个数量级;（２）金属引线的相速与信号频率无关,易出现信号发散,而超导引线在低于能隙率的情况下,相速与频率无关,信号不发散;（３）金属引线对脉冲信号的延迟时间比超导引线高。     

红外探测器组件封装中的引线特性研究

引线互联是红外探测器封装的关键工艺之一,而采用何种引线则会直接影响红外探测器组件的电学、力学和热学性能。引线互联需要考虑引线的材料、线径、长度和引线工艺,因而红外探测器封装中通过采用多种引线来满足不同需求。系统介绍了红外探测器封装所用引线的电学、力学和热学性能,重点测试和分析了金丝、硅铝丝、铂金丝等引线在大气和真空环境下的熔断电流。大气环境下引线的熔断电流明显大于真空环境下,并与经验公式的结果基本一致。该研究可为航天用红外探测器封装的引线选择提供参考。     

芯片封装引线电性能的测试

随着集成电路的高速化、高集成化、高密度化封装的发展，封装引线的电性能对集成电路的影响越来越大，封装引线电性能的测试与控制也越显重要。     

铜与金引线的特性比较

近来由于黄金价格的强势增长,使得作为低成本键合引线的的铜丝受到众多封装界内的关注。如一些粗引线的低引脚封装,业已用铜引线在批量生产中获得成功。当采用这种引线时,它需要一些与金引线不同的条件,例如氧化的程度,机械特性,键合机操作的应用范围等。因此,当用户开始采用铜引线时,就必须考虑减少试验和误差。如果黄金价格继续走高,向铜引线的转化速度将会加快。     

蚀刻集成电路引线框原理及其应用

集成电路的发展，带来了其引线密度的提高。产生了引线框架加工的新工艺－蚀刻法，本文介绍了该法的原理，工艺过程及其推广应用。     

红外探测器组件引线熔断分析

二代红外焦平面探测器组件微型杜瓦中的金属引线是跨接在探测器芯片以及陶瓷引线环之间,其作用是作为介质为探测器芯片提供数字以及模拟信号,并将探测器组件的输出信号导出。本文介绍了二代焦平面探测器组件的杜瓦结构,并对金属引线在低温77K时的物理特性进行了分析,从理论上对金属引线可流过的最大电流进行计算,并通过试验进行验证。     

耳机引线对手机天线近场分布的影响

利用时域有限差分(FDTD)法分析了耳机引线对手机天线辐射近场的影响.介绍了FDTD法的计算模型,并验证了方法的可靠性.在此基础上,对不同耳机模型和耳机引线处于不同位置时手机天线的辐射场强分布进行了计算.计算结果显示,使用手机耳机可以有效减小手机天线对人脑的辐射.     

LED金线键合工艺的质量控制

文章介绍LED引线键合的工艺技术参数翻要求和相关产品质量管控规范,讨论了劈刀、金线等工具和原材辩对键合质量的影响。     

集成电路封装中的引线键合技术

在回顾现有的引线键合技术之后,文章主要探讨了集成电路封装中引线键合技术的发展趋势。球形焊接工艺比楔形焊接工艺具有更多的优势,因而获得了广泛使用。传统的前向拱丝越来越难以满足目前封装的高密度要求,反向拱丝能满足非常低的弧高的要求。前向拱丝和反向拱丝工艺相结合,能适应复杂的多排引线键合和多芯片封装结构的要求。不断发展的引线键合技术使得引线键合工艺能继续满足封装日益发展的要求,为封装继续提供低成本解决方案。     

Two capillary solutions for ultra-fine-pitch wire bonding and insulated wire bonding

In this article, the new challenges and requirements in wire bonding are discussed, the problems in ultra-fine-pitch wire bonding and insulated wire bonding are analyzed, and then two capillary solutions to the problems are presented. Actual bonding experiments using the new capillaries were carried out and the results were satisfactory. Compared to the standard design, a new capillary design has a larger inner chamfer, a larger chamfer diameter and a smaller chamfer angle. This new capillary design has proved to improve the ball bondability and smaller ball size control for ultra-fine pitch wire bonding. A unique surface characteristic on the capillary tip surface has also been derived. The new finishing process developed creates a new surface morphology, which has relatively deep lines with no fixed directions. Compared to the standard capillary, this capillary has less slipping between the wire and the capillary tip surface in contact, and provides better coupling effect between them and better ultrasonic energy transfer. This capillary has been used to effectively improve the bondability of the stitch bonds for insulated wire bonding.     

半导体封装行业中铜线键合工艺的应用

文章介绍了半导体封装行业中铜线键合工艺下,各材料及工艺参数(如框架、劈刀、设备参数、芯片铝层与铜材的匹配选择)对键合质量的影响,并总结提出如何更好地使用铜线这一新材料的规范要求。应用表明芯片铝层厚度应选择在0.025mm以上;劈刀应使用表面较粗糙的;铜线在键合工艺中使用体积比为95:5的氢、氮气混合保护气体;引线框架镀银层厚度应控制在0.03mm～0.06mm。     

A new bonding-tool solution to improve stitch bondability

A new bonding-tool solution is proposed to improve stitch bondability by creating a new surface morphology on the tip surface of a wire-bonding tool (capillary). The surface has relatively deep lines with no fixed directions. This new capillary has less slipping between the wire and the capillary tip surface and provides better coupling effect between them. Experiments of wire bonding on unstable lead frames/substrates, alloyed wire (2N gold wire) bonding, and copper wire bonding were carried out to confirm the effect of the new capillary on the stitch bondability. The experimental results are promising and have proved that the use of the new capillary could improve the bondability of the stitch bond and minimize the occurrence of short tail defects and non-sticking on lead during bonding.     

劈刀安装长度对引线键合强度影响的实验研究

在超声引线键合中引线键合质量受到多种因素的影响。该文通过实验,观察了超声引线键合过程中不同劈刀安装长度对引线键合质量形成的影响,同时对引线键合过程中换能系统电流、电压及功率进行了分析,发现不同劈刀安装长度会导致引线键合质量、电流及功率较为明显的变化。该实验的结果可为实际引线键合中劈刀安装长度的选择提供参考。     

引线键合劈刀Z轴运动信号分析

劈刀是自动引线键合机的关键部件之一.采集和分析劈刀的运动信号对于研究和改进微电子封装设备的制造工艺技术具有重要意义.利用激光多普勒(Doppler)非接触式测量方法,通过有效的试验光路设计,提取劈刀在实际键合过程中的Z轴运动信号;对试验采集信号进行了详细的时城分析,包括位移、速度、加速度分析,结果表明,以上研究清楚地描述了键合过程中劈刀z轴运动的动态变化特性;最后,针对劈刀下落过程的搜索区域阶段(tip-offset)的运动干扰现象分析了其原因.     

引线键合中第一点勾线力的影响因素

勾线拉力测试是评估引线键合质量的一种主要方法,同时影响测试结果的因素有很多.文章通过理论分析和实际测量,发现封装结构、线弧高度和勾线位置对第一焊点的勾线力有显著影响.Non-EP结构中线弧的第一点勾线力比EP结构中的大;随着线弧高度的增加,线孤的第一点勾线力将逐渐变大;在勾线位置由第一焊点逐渐移至线弧中间位置时,一般高...     

LTCC基板金丝热超声楔焊正交试验分析

引线键合是微组装技术中的关键工艺,广泛应用于军品和民品芯片的封装。特殊类型基板的引线键合失效问题是键合工艺研究的重要方向。低温共烧陶瓷(LTCC)电路基板在微波多芯片组件中使用广泛,相对于电镀纯金基板,该基板上金焊盘楔形键合强度对于参数设置非常敏感。文章进行了LTCC基板上金丝热超声楔焊的正交试验,在热台温度、劈刀安装长度等条件不变的情况下,分别设置第一键合点和第二键合点的超声功率、超声时间和键合力三因素水平,试验结果表明第一点超声功率和第二点超声时间对键合强度影响明显。