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Y型声表面波器件特性分析 总被引:1,自引:0,他引:1
在1280旋转Y切割X传播方向上的L iN bO3基片上设计并研制了Y型声表面波器件。它将输入IDT激发的声表面波轴对称分成两路并由各自的输出IDT检测输出。应用P矩阵法分析了其中一输出IDT检测输出的一次时延信号、三次渡越反射信号和五次渡越反射信号与输入IDT所加的电信号之间的关系式,并应用网络分析仪测量Y型声表面波器件幅度特性,结果表明,理论分析与实验结果基本相符。 相似文献
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报道两种带宽极窄的采用单指换能器制作的声表面波滤波器。一种是利用单指换能器声同步频率与反射频率之间的相位叠加与相消来制作的体积极小(芯片面积只有采用双指换能器的三分之一不到)的高频极窄带声表面波滤波器,其3dB带宽的相位变化只120°;另一种是采用合理布局的单指无内反射换能器制作的高频极布带声表面波滤波器,其幅频特性同采用双指换能器制作的同类型的声表面波滤波器一样。最后给出了这两种声表面波滤波器的较详细的理论分析和实验结果。关键词 相似文献
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在128°Y切割X传播方向上的LiNbO3基片上设计并研制了S型声表面波器件。它将输入叉指换能器激发的声表面波中心对称分成两路并由各自输出叉指换能器检测输出。采用P矩阵法分析推导了输入叉指换能器加电信号,一输出叉指换能器检测输出时的一次时延信号、三次渡越反射信号和五次渡越反射信号与所加电信号的关系式。采用网络分析仪测量了S型声表面波器件的幅度特性,同时,由门函数处理后获得其三次和五次渡越反射信号的幅度特性以验证理论推导的正确性。 相似文献
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实验上实现了低频液体表面波的激光衍射,提出了激光衍射法测量几百赫兹液体表面波的相速度、群速度和液体的表面张力.当激光斜入射到几百赫兹的液体表面波上,反射的激光产生稳定、清晰的衍射光斑,理论上导出了衍射光斑的角宽度与液体表面波速度的解析关系,实验上测得几百赫兹液体表面波的相速度和群速度,并测量了液体的表面张力.根据其机理,建立起一种实时、非接触的测量液体表面波的相速度、群速度和表面张力的实用方法. 相似文献
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为了改善激光超声检测中声表面波的信噪比,利用对激光线源进行时间和空间上的调制获得激光阵列作为激励源辐照铝板表面,采用有限元法分别模拟了大位移幅值声表面波(巨声表面波)的激发以及巨声表面波与铝板表面矩形缺陷相互作用的过程。结果表明,激光阵列经过时间调制后辐照铝材料上激发出的声表面波,其垂直于表面方向的位移幅值与阵列中线源个数成线性比例;且巨声表面波与表面缺陷作用后所产生的反射回波的位移幅值也随着线源个数的增多得到明显增大。模拟结果对在激光超声检测中应用激光阵列提高声表面波的信噪比提供了理论依据。 相似文献
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采用“进退法”优化共址干扰带宽测试速度 总被引:1,自引:1,他引:0
在同车共址干扰带宽自动测试系统中发现由于仪器的反应速度较慢,导致了测试效率低下。文章采用了"进退法"对测试过程进行了优化,找到了最优的步长,大大提高了测试的速度,并且通过实际的测试验证了该方法的可行性。 相似文献
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径向承载力及刚度是影响切割机空气静压电主轴高转速下工作稳定性的重要因素,也是切割机空气静压电主轴重要的设计指标。本文采用工程计算方法,对切割机空气静压电主轴径向承载力及刚度进行设计计算。 相似文献
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目标仿真是一种能够降低武器测试时间与成本的技术。使用长波红外激光器投射光斑到屏幕上进行目标仿真时,往往会在屏幕上产生拖尾现象,使点状目标难以在屏幕上保持原有形状,严重干扰对目标的精确识别,降低测试精度。通过理论分析了激光功率、激光斑移动速度以及屏幕材料等因素对拖尾的影响,并通过系列的对比实验进行验证。首先,在相同的激光斑移动速度下,激光功率越高,拖尾现象越明显;其次,在激光功率相同的条件下,激光斑移动速度越慢,拖尾现象越明显;最后,不同的材料对10.6 m激光的吸收能力有很大的差别,散热性能越差,拖尾现象越明显。结果证明:采用根据激光斑移动速度实时调节激光功率以及使用适当热物理性质的屏幕材料的方法,可以有效消除和减轻拖尾现象。 相似文献
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《Mechatronics》2014,24(8):1092-1100
This paper proposes a novel pseudo-haptic soft surface stiffness simulation technique achieved by displaying the deformation of the soft surface and maneuvering an indenter avatar over a virtual soft surface by means of a touch-sensitive tablet. The visual feedback of the surface deformation and the alterations to the indenter avatar behavior produced by the proposed technique create the illusion of interaction with a hard inclusion embedded in the virtual soft surface. The proposed pseudo-haptics technique is validated with a series of experiments conducted by employing a tablet computer with an S-pen input and a tablet computer with a bare finger input. Tablet computers provide unique opportunities for presenting the pseudo-haptic (indenter avatar speed), haptic (contact reaction force from the device surface) and visual cues (surface information) at the same active point of interaction which facilitates information fusion. Hence, here, we evaluate the performance of tablet computers in identification of hard inclusions within virtual soft objects and compare it with the performance of a touchpad input device. A direct hand-soft surface interaction is used for benchmarking of this study. We found that compared with using a touchpad, both the sensitivity and the positive predictive value of the hard inclusion detection can be significantly improved by 33.3% and 13.9%, respectively, by employing tablet computers. Using tablet computers could produce results comparable to the direct hand-soft surface interaction in detecting hard inclusions in a soft object. The experimental results presented here confirm the potential of the proposed technique for conveying haptic information in rigid tool/soft surface interaction in virtual environments. 相似文献
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谢礼忠 《电子工业专用设备》2007,36(5):69-73
直线电机在高精度高速度的场合应用越来越广泛,直接驱动技术的优点是摩擦小、维护工作量小和生产效率高。这种生产效率的提高有赖于控制系统、电机、机床和位置编码器间相互协调和最佳配合。位置编码器是影响伺服驱动系统性能的一个重要因素,需要考虑系统良好的动态性能、速度的稳定性以及系统的刚性。光栅尺的信号质量、细分误差、分辨率以及安装方式都会影响控制系统的性能。海德汉高品质的光学扫描光栅尺为直接驱动精度、速度和温度的稳定性提供了保障。 相似文献
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Nakamura Y. Clouqueur T. Saluja K.K. Fujiwara H. 《Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, IEEE Transactions on》2007,15(7):790-800
Numerous solutions have been proposed to reduce test data volume and test application time during manufacturing testing of digital devices. However, time to market challenge also requires a very efficient debug phase. Error identification in the test responses can become impractically slow in the debug phase due to large debug data, slow tester speed, and limited memory of the tester. In this paper, we investigate the problems and solutions related to using a relatively slow and limited memory tester to observe the at-speed behavior of fast circuits. Our method can identify all errors in at-speed scan BIST environment without any aliasing and using only little extra overhead by way of a multiplexer and masking circuit for diagnosis. Our solution takes into account the relatively slower speed of the tester and the reload time of the expected data to the tester memory due to limited tester memory while reducing the test/debug cost. Experimental results show that the test application time by our method can be reduced by a factor of 10 with very little hardware overhead to achieve such advantage. 相似文献