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精细间距元器件呼唤自动化设备 总被引:1,自引:0,他引:1
集成电路的发展对整个电子工业产生了有目共睹的影响,进而通过各种高精尖的电子产品改善着人们的工作和生活,对信息化时代的到来起到了巨大的推动作用。但是,集成电路元器件在给电子产品带来高性能的同时,却对电子组装业形成了前所未有的严峻挑战。 一、迅猛发展的电子元器件 在相当短的时间跨度范围内,电子元器件已经从发展初期的诸如8条引脚的双列直插式器件(DIP),迅速发展至引脚数量普遍高达44条、52条或者更多的人量表面贴装器件(Sur 相似文献
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计长装置在生产中应用较广,本文介绍一种全部采用国内生产的全CMOS集成电路制成的多功能电子计长仪。一、特点与功能 1.各个工作单元全部采用CMOS集成电路的计长仪,具有功耗低、抗干扰性强、可靠性高的优点。 2.电路简单,所用元件不多。 3.所用电子元器件全部国产化。集成电路块性能可靠,只要型号相同,就可使用。 相似文献
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电子元器件在未来商业和军事运用中都将起到十分重要的作用。文中介绍了对未来武器装备发展影响较大的几项军用电子元器件科技发展情况,提出新概念理论是未来设计发展方向,介绍了集成电路以及碳化硅、高温超导、光纤等新材料在军事上的发展前景。 相似文献
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1、电子封装科研院所 1.1总体情况 我国科研院所从事电子封装技术研究是与电子元器件的研制同时起步的,随着电子元器件技术的发展,电子封装技术也同步发展.特别是集成电路技术的发展,促进了电子封装技术日新月异的变化.封装形式从DIP、SOP到LCC、BGA、QFP等,管脚数从8条腿到280条都可以进行封装. 相似文献
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蔡少英 《电子产品可靠性与环境试验》2005,23(Z1):189-192
跟踪研究了近年来国外在电子元器件可靠性试验方面的发展现状与趋势,主要包括集成电路新的试验方法;大规模集成电路测试方面存在的问题和未来的发展方向;裸芯片可靠性试验技术的发展;MEMS新技术的可靠性发展现状等. 相似文献
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半导体器件热特性的光学测量技术及其研究进展 总被引:3,自引:0,他引:3
热失效是影响半导体器件的性能和可靠性的主要原因,热特性和温度测量是整个电子系统热设计过程中的关键环节.光学测量方法具有非接触、无损伤的优势,在半导体及电子系统研究领域应用日益广泛.评述了各种半导体器件热特性光学测量技术的工作原理、实验装置、技术指标、应用现状,总结了现有方法中的关键问题和发展方向. 相似文献
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在电子侦察中,需要判断截获的雷达信号的调制方式和调制参数.利用递归式短时傅里叶变换(STFT)和相参积累的分析方法,可对相位编码信号进行检测和解码.与一些常规方法相比,该方法在较低信噪比时也可以得到较好的分析结果.最后,通过计算机仿真验证了该方法的有效性. 相似文献
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基于MSI、SSI器件的电子系统的设计在电子技术飞速发展的今天还占有一席之地。但是这种传统的设计方法发展至今已在自底向上的设计思想中融入了自顶向下的设计思想。采用了自顶向下的设计思想,结合现有的MSI器件,设计出了高可靠性、高性价比的数字密码锁。 相似文献
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基于四旋翼飞行器设计了一套自主航行系统。介绍和分析了该系统的硬件构成及GPS和电子罗盘相结合的导航原理,阐述地面站软件的工作过程。为使系统具有很高的精确度和实时性,导航地面站软件利用Google Earth API接口快速导入电子地图;通过XBee模块无线传输预设航线和反馈飞行器的位置信息,以此实现飞行器的自主航线飞行及对飞行器位置的实时跟踪。 相似文献
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当电子计算机辅助设计(ECAD)遇上机械计算机辅助设计(MCAD)时,设计电子新产品的过程、方法等发生了质的飞跃。三维(3D)设计能准确表达工程师的设计思想,符合工程师的思维方式和设计习惯,是实现新产品质飞跃的最佳方式之一。在设计电子新产品时,可以在ECAD中将电子产品的3D模型效果图设计好,再导入MCAD中,由机械设计师全面、客观地对该电子产品进行机械、结构、外壳等设计。实验结果表明,该方法能提前预知新产品的实际效果,可以有效避免电子产品与机械外壳不匹配的情况,大大提高了设计效率,并改进了设计质量,实现了电子与机械设计的同步进行,加快了设计与制造的一体化进程。 相似文献
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PCB研发管理日益规范、系统化,传统简单或粗放的新产品导入方法/机制难以满足国际市场化的要求。文章从新产品导入部门组织架构、新产品导入流程、新产品制作过程和品质管控等方面做系统介绍与探讨,供同行业参考。 相似文献