MATLAB在TFT-LCD屏显示MURA缺陷检测的应用

提出一种以MATLAB为主要工具的TFT-LCD屏显示缺陷检测方案,该方案根据CMOS工业摄像机采集到的数字图像,结合二维图像拟合技术和以韦伯定律为原理的自动阈值获取技术,使用MATLAB作为数字图像分析工具实现对屏幕缺陷的检测。介绍了该方案的硬件组成和检测原理,给出了MATLAB算法流程和部分代码、介绍了GUI检测界面的设计和详细的检测步骤及结果,为TFT-LCD液晶屏显示缺陷的检测提供了一种快速有效的方法。     

TFT-LCD面板缺陷检测方法综述

TFT-LCD面板缺陷边界模糊、与背景对比度低、检测速度慢等问题一直是该领域缺陷检测的难点。首先介绍TFT-LCD结构及缺陷的定义与分类,在分析缺陷的成因和特点基础上,对TFT-LCD面板缺陷检测方法进行综述。详细分析了TFT-LCD面板缺陷图像识别法中的图像降维技术、缺陷特征提取和缺陷分类器识别等关键技术和图像处理法中的边界模糊缺陷分割法、差影法和滤波法,归纳总结各类缺陷检测方法的特点及优势,并指出TFT-LCD面板缺陷检测未来的研究方向。     

模糊专家系统在TFT-LCD缺陷检测中的应用

提出了一种基于模糊专家系统的薄膜晶体管液晶显示器（TFT-LCD）缺陷检测技术。TFT—LCD的缺陷具有很强的模糊性和复杂性,所以很难建立清晰有效的诊断模型。结合了专家系统和模糊理论建立的TFT-LCD缺陷检测系统可以避免复杂的数学模型,充分利用已有的专家经验和知识,解决缺陷检测中存在的模糊和不确定问题。实验结果表明,采用该系统进行缺陷检测时,漏检率和错检率低于3％,能满足检测的要求。     

TFT-LCD表面缺陷检测方法综述

对TFT-LCD表面缺陷的检测方法做了综述.首先介绍了TFT-LCD表面缺陷的种类,分析了缺陷的特点和成因,然后介绍了缺陷检测方法:图像识别法和图像处理法.在图像识别法中,详细分析了缺陷图像降维、缺陷特征提取和分类器设计等关键技术.在图像处理法中,探讨了边界模糊缺陷分割法、差影法和滤波法.最后归纳总结了各种检测方法的优点和不足,并指出了TFT-LCD表面缺陷检测的未来研究方向.     

TFT-LCD驱动电路浅析

本文针对栅源矩阵液晶显示器件,介绍了TFT-LCD驱动技术的发展历史,并讨论了实现动态画面的数字TFT-LCD驱动电路的原理以及实现方法.通过对一种简单数字屏TFT-LCD驱动电路的介绍,深入了解TFT-LCD驱动电路的工作原理.     

机器视觉在TFT-LCD点缺陷检测系统中的应用

针对TFT-LCD点缺陷的特征和检测方法,介绍了机器视觉系统的基本构成,提出了一种基于Visual C＋＋6.0集成开发环境,以EURESYS的eVision作为机器视觉和图像处理核心软件的TFT-LCD点缺陷检测方法。实验结果表明,该方法能够快速高效地实现点缺陷的自动检测功能,具有良好的鲁棒性,并为后续复杂缺陷的检测应用提供了一条参考思路。     

基于改进Otsu算法的TFT-LCD点缺陷自动光学检测系统

针对TFT-LCD点缺陷自动光学检测时,缺陷与背景对比度较低难以用传统阈值分割算法处理的难题,提出一种改进的Otsu算法,并构建了TFT-LCD点缺陷自动光学检测系统。首先,通过Gabor滤波去除了纹理背景的影响。然后,利用威布尔函数形态参数分段取值时,其分布函数呈现的不同分布特性,改进了传统Otsu阈值提取函数。最后,进行了离线测试试验和在线测试试验。试验表明,改进的Otsu算法在点缺陷与背景对比度较低的情况下分割效果优于传统Otsu算法。将该算法移植到TFT-LCD点缺陷自动光学检测硬件平台上进行在线测试,正确检测率可达到94%,单个样本最短检测时间可缩短至150ms。降低了TFT-LCD人工检测点缺陷的工作量和劳动强度。     

基于CPLD的TFT-LCD控制器的设计

文章介绍了一种基于CPLD的TFT-LCD控制器的设计和实现方法。增加片外SRAM,以提供显示缓存。并使用CPLD实现两大主要功能,一是产生TFT-LCD要求的时序信号,二是协调TFT-LCD和MCU对SRAM的读写访问。相对于常见的TFT-LCD控制器,该设计方法优势明显:结构简单,并且性价比高,驱动小尺寸TFT屏时具有较高应用价值。     

TPS65160：大屏幕LCD TV用高性能电源

德州仪器公司推出高性能功率管理集成电路TPS65160，可以支持TFT-LCD屏的所有四种电压规范。该DC/DC器件直接从12V电源输入，电源效率95％，能安全地控制当今大屏幕监视器屏和LCD TV的大电流性能。     

基于FPGA的自滑动同步法TFT-LCD屏TCON的实现

不同厂家、不同尺寸、不同分辨率的TFT-LCD屏与时序控制器TCON的接口不同,对应不同的差分信号格式。为了适应不同屏的图像显示,需要一种可编程的时序控制器TCON。通过在FPGA芯片上采用自滑动同步法,实现了TFT-LCD屏的TCON系统。该系统从视频处理主板输出的差分信号中提取视频数据,提出通过自滑动同步法使之与同步控制信号对齐;将提取的视频数据转换为源驱动器的输入信号,即mini-LVDS或RSDS格式的差分信号,同时产生门驱动器的时序信号;由源驱动器和门驱动器输出的信号驱动TFT-LCD屏显示图像信号。为了测试TCON的性能,使用两块FPGA电路板进行实验。一块FPGA电路板实现TCON时序控制器;另一块作为TCON的输入测试信号源,用于测试所设计的TCON性能。实验结果显示,所设计的TCON能够从LVDS视频差分数据中正确解析出视频数据,并转换为屏的源驱动器和门驱动器信号,驱动TFT-LCD屏显示视频信号。通过对比分析可知,使用自滑动同步法具有资源消耗少,功耗较低等优点。     

扫描电镜的原理及TFT-LCD生产中的应用

文章以扫描电镜（SEM）在TFT-LCD中的应用为题,介绍了扫描电镜的原理、构造,并通过实验数据分析对TFT-LCD生产中相关缺陷的产生原因进行调查。     

灰度与亮度拟合对LCD面板Mura改善的影响

选择有限的采样灰度级准确拟合出整个灰度区间的亮度和灰度关系,是影响LCD面板Mura改善效果、实时性和成本的关键因素。通过迭代方法优化采样灰度级,并采用分段伽马拟合方法研究了采样灰度级对Mura改善的影响。针对1 920×1 080的55 inTFT-LCD模组,6个采样灰度级的优化使拟合亮度曲线与实际亮度曲线的相对误差之和在0~255灰度级从5.64降到3.68,4个采样灰度级的优化使相对误差之和从29.27降到8.98。通过对6个和4个优化采样灰度级的实验结果比较和分析,结果表明,4个优化采样灰度级可以在Mura改善效果、实时性及成本三者之间达到较好的平衡。     

TFT-LCD面影像残留改善研究

影像残留是一种TFT-LCD屏的固有特性。主要是由于长时间显示静态画面时液晶材料的极化敏感性造成的。这种极化影响了液晶材料的光学特性,并阻止液晶分子完全恢复到正常松弛状态。本文主要探讨了通过改变TFT设计来改善面影像残留现象的方案。通过设计实验变更TFT-LCD的主要参数(Pixel设计、Aperture Ratio、ΔVp等),提出了4种面影像残留改善方案并制作了样品。对这4种改善方案的试制样品进行了TFT-LCD面影像残留水平测量和评价,分析了各像素设计因素对面影像残留水平的影响;同时对试制样品的画面品质进行了评价,为解决相关画面品质问题对该方案进行了设计优化,最终获得了一种较佳的面影像残留改善方案。     

一种減少TFT显示板上闸驱动器输出电晶体应力效应的设计

为了降低 TFT-LCD 闸驱动电路中电晶体因畏期承受高的闸电压应力造成門限(Threshold)电压之劣化现象,本研究中探用双下拉结构与放电路径方式设计了一个高可靠性的 TFT-LCD 面板整合(On-panel)闸驱动电路.其中,交互道通的双下拉结构减少下拉电晶体的承力晴同;放电路径则将输出驱动电晶体高的闸极电压及時洩放.所提结构由台积电(TSMC)0.35 μm CMOS 制程技术制作之评估晶片经测试显示,门限电压的偏移量减少了近 45%,改善效果极为显著.应用到α-SiTFT-LCD 面板整合闸驱动器上,其成效当可预期.     

TFT-LCD面板化学蚀刻薄化研究及产品可靠性分析

以化学蚀刻薄化技术为课题,介绍了化学蚀刻的原理、方式;TFT-LCD液晶面板经过HF溶液化学蚀刻后,原来的单片玻璃厚度从0.7mm减薄至0.5mm厚度,薄化后的液晶面板经后段生产组装成LCM模块,经过各项可靠性分析来验证产品可能出现的问题,为TFT-LCD生产中的化学蚀刻薄化技术提供参考。文章主要探讨了TFT-LCD薄板化生产,包括化学蚀刻方式、产品的性质,产品的可靠性项目等。     

ARM芯片S3C2410驱动TFT-LCD的研究

介绍了S3C2410的LCD控制器的数据和控制管脚，并给出了LCD的控制流程和TFT-LCD的控制器设置规则。参照TFT-LCD CJMIOC0101的逻辑要求和时序要求设计了其驱动电路，设置了各主要LCD寄存器。开发了CJM10C0101在嵌入式LINUX下的显示驱动程序，并在CJM10C0101上显示了清晰稳定的画面。实验表明这套装置通用性好，能驱动大部分的TFT-LCD；可移植性强，经过少许修改即可应用在其他嵌入式系统中。它是S3C2410驱动TFT-LCD的一套较佳的解决方案。     

TFT-LCD改善“斑点不良”的研究

在压力测试时,高分辨率TFT-LCD(Thin Film Transistor-Liquid Crystal Display)液晶面板会发生“斑点不良”。为了预防该不良的发生,本文分析了“斑点不良”的发生机理:压力测试时,隔垫物PS(Photo Spacer)发生滑动,将阵列基板上透光区域的配向膜-聚酰亚胺PI(Polyimide)划伤,而失去配向液晶能力,在暗态画面下,划痕处会发生漏光,形成斑点状。本文对不同尺寸及分辨率的液晶面板进行了压力测试,比较隔垫物挡墙、黑矩阵BM(Black Martrix)、隔垫物站位等不同因素对“斑点不良”的影响:隔垫物挡墙能有效阻挡隔垫物的滑动距离的23.6%,能有效降低“斑点不良”的漏光发生;当隔垫物滑动的距离未超出黑矩阵的遮挡范围时,不可见“斑点不良”或很轻微;站在金属块(Pillow)上的隔垫物比没有站在Pillow上的隔垫物滑动距离小约10%。最后以49in超高清UHD(Ultra High Definition)液晶面板为例,提出一种改善“斑点不良”的的设计方案:增加PS上下挡墙设计,降低PS滑动距离;增加BM宽度设计,保证PS边缘到BM边缘的距离大于PS滑动距离;降低PS的个数,增加PS的大小设计降低透过率损失。该方案客户验证无“斑点不良”发生且透过率下降1.2%,说明此设计方案能够有效地改善“斑点不良”。     

B样条曲面拟合在Mura缺陷获取中的应用

TFT-LCDMura缺陷表现为对比度低、亮度区域不均匀、边界模糊,通常大于一个像素,会给观察者带来视觉不适,是一种比较常见的缺陷。长期以来,对Mura缺陷的检测都是由经过训练的专业检验员完成。近年来,研究人员开始研究利用机器来代替人眼检测,但机器如何获取Mura缺陷一直是行业内公认的难题之一。本文提出了基于B样条曲面拟和的方法来获取Mura缺陷信息,并通过对大量真实Mura缺陷样本的检测验证了该方法具有高的获取准确率。     

TFT-LCD行业降低全氟化碳 (PFC)排放的研究

全氟化碳是温室气体，大量排放到大气中将会严重污染环境，在薄膜晶体管液晶显示器的生产过程中需要用全氟化碳做等离子刻蚀的反应性气体和在化学气相沉积工艺中做清洗气体，为减少使用过程中全氟化碳的对外排放，国外的TFT-LCD企业作了大量的工作，特别是日本、韩国、我国的台湾地区。文章介绍了全氟化碳温室效应的计算方法、全氟化碳在TFT-LCD制造过程中的具体应用、国外为减少全氟化碳排放采取的措施，相信这些经验对处于起步阶段的我国TFT-LCD行业有很好的借鉴作用。