TFT-LCD面板缺陷检测方法综述

TFT-LCD面板缺陷边界模糊、与背景对比度低、检测速度慢等问题一直是该领域缺陷检测的难点。首先介绍TFT-LCD结构及缺陷的定义与分类,在分析缺陷的成因和特点基础上,对TFT-LCD面板缺陷检测方法进行综述。详细分析了TFT-LCD面板缺陷图像识别法中的图像降维技术、缺陷特征提取和缺陷分类器识别等关键技术和图像处理法中的边界模糊缺陷分割法、差影法和滤波法,归纳总结各类缺陷检测方法的特点及优势,并指出TFT-LCD面板缺陷检测未来的研究方向。     

中小尺寸LCD-TV液晶屏行反转电路设计

以TFT-LCD为代表的液晶显示技术是当前最热门和最具潜力的平板显示技术之一,并已成为平板显示技术中的支柱产品。经过多年的发展,TFT-LCD技术已经相当成熟。由于液晶的固有属性特点,长时间工作在直流偏置电场中会严重影响使用寿命,文章介绍了一种适合中小尺寸LCD-TV(液晶电视)液晶屏使用的防老化驱动电路设计方案。该方案电路结构简单,容易实现且性能完全能达到实用要求。     

基于FPGA的TFT-LCD控制器设计

文章介绍了一种基于FPGA的TFT-LCD显示控制器的设计和实现方法.通过增加片外显示存储器,由FPGA产生TFT-LCD所需的控制时序并完成总线仲裁逻辑,实现CPU和LCD模块对显示存储器的共享访问,有效的降低了CPU的负荷.该方案可灵活配置LCD时序和总线仲裁策略,以适应不同场合的TFT-LCD显示驱动需求,具有较高的实用价值.文中简单介绍了基于该方法的设计思路,并给出了一个驱动3.5寸16位(65536色)320×240 TFT-LCD显示屏的实例.     

手机用TFT-LCD Source Driver电路模块研究与设计

SourceDriver电路模块是彩色TFT-LCD驱动控制芯片的关键电路之一,其功能是将数字图像显示数据转换成模拟驱动电压,从而驱动TFT-LCD显示各种彩色图像。本文从TFT-LCD的驱动原理出发,提出了一种适合于手机用TFT-LCD的低功耗、小面积的SourceDriver电路体系结构,用0.25μmCMOS工艺设计并实现了显示26万(26×26×26)色,支持132RGB×176分辨率的手机用TFT-LCD驱动控制芯片中的SourceDriver电路,电路面积约15mm×0.6mm。Hspice仿真结果表明,SourceDriver电路的响应时间为1.49μs,静态功耗小于1mW。     

数字TFT-LCD驱动电路实验研究

结合有源矩阵液晶显示器件及其驱动技术的发展,分析了TFT-LCD驱动技术研究现状,详细讨论了实现动态画面的数字TFT-LCD驱动电路系统的工作原理与实现。介绍了一种用于6位数字屏的全新TFT-LCD驱动电路,该电路显示控制采用芯片MST501V,它内置有TCON、一个Scaling Engine,并提供OSD功能。通过电路实验,实现了动态图像画面,取得很好的显示效果。     

TFT-LCD屏缺陷检测的研究

分析了国外目前常用几种薄膜晶体管(TFT)有源矩阵液晶显示（AM-LCD)屏的缺陷检测方法的优缺点。深入研究了TFT-LCD屏的结构、缺陷产生的原因和概率．设计了一种能全面、直观地进行TFT-LCD缺陷检测的方法，该方法不仅能检测出TFT-LCD中各种常见的新短路等硬性缺陷并确定其具体位置．而且能根据TFT-LCD屏质量要求对软性缺陷进行判定。     

机器视觉在TFT-LCD点缺陷检测系统中的应用

针对TFT-LCD点缺陷的特征和检测方法,介绍了机器视觉系统的基本构成,提出了一种基于Visual C＋＋6.0集成开发环境,以EURESYS的eVision作为机器视觉和图像处理核心软件的TFT-LCD点缺陷检测方法。实验结果表明,该方法能够快速高效地实现点缺陷的自动检测功能,具有良好的鲁棒性,并为后续复杂缺陷的检测应用提供了一条参考思路。     

基于STM32的FSMC接口驱动TFT彩屏设计

TFT-LCD技术是微电子技术和LCD技术巧妙结合的高新技术。随着人们对图像清晰度、刷新率、保真度的要求越来越高,TFT-LCD的应用范围越来越广。介绍了TFT数字彩屏的工作原理,利用STM32处理器的FSMC接口设计出了一种能直接驱动数字液晶屏的方法。设计的硬件电路和软件程序均能对显示控制芯片进行有效的控制。在实际应用中显示清晰流畅,并且CPU有足够的时间来处理用户程序。该方案能成功应用在电脑横机的人机界面显示中,且其硬件电路结构简单、控制方式灵活、对于其他型号的接口芯片也能提供参考。     

集成一体化DVR-LCD加固结构设计

介绍了某种液晶显示器（TFT-LCD）与硬盘录像机（DVR）集成为加固DVR-LCD一体化机的特点和工作原理.重点分析了该系统TFT-LCD和DVR的隔振缓冲的技术难题,提出了一种基于该技术的硬盘隔振缓冲的应用例子,为计算机加固提供了一种新技术.     

模糊专家系统在TFT-LCD缺陷检测中的应用

提出了一种基于模糊专家系统的薄膜晶体管液晶显示器（TFT-LCD）缺陷检测技术。TFT—LCD的缺陷具有很强的模糊性和复杂性，所以很难建立清晰有效的诊断模型。结合了专家系统和模糊理论建立的TFT-LCD缺陷检测系统可以避免复杂的数学模型，充分利用已有的专家经验和知识，解决缺陷检测中存在的模糊和不确定问题。实验结果表明，采用该系统进行缺陷检测时，漏检率和错检率低于3％，能满足检测的要求。     

一种简便的介质缺陷检测方法

本文介绍了一种简单实用的介质缺陷检测方法。采用这种方法可检测介质生长过程中形成的介质针孔,也可检测因介质应力发生改变所引起的缺陷(在本文中简称为“应变缺陷”)。它将为研究针孔密度低的介质生长工艺和应力匹配性能优良的工艺技术提供一种简便的检测诊断方法。     

钛合金二维扫描激光超声检测方法研究

钛合金材料缺陷危害性大,须进行健康状况监测。激光超声检测技术具有非接触、快速、高效等优点,可以满足钛合金结构的实时健康监测。该文研究了激光热弹激发超声应力的机理,在分析一维扫描激光超声检测效率的基础上,构建了非接触式二维扫描激光超声检测系统,用于钛合金结构健康状况的实时在线检测。实验结果表明,激光超声检测技术能有效用于钛合金结构健康检测;该系统可同时实现两个方向检测,相同条件下,检测效率较一维扫描提高约50%;实验装置简单,易于实现完全非接触式检测,可满足钛合金结构在工程实践中的实时在线检测,且可进行缺陷的定位检测。     

Defect Detection of IC Wafer Based on Spectral Subtraction

In this paper, spectral subtraction is successfully applied to image processing and to detect defects in the integrated circuit (IC) image. By utilizing the characteristics of many of the same chips in a wafer, three images with defects located in the same position and different chips are obtained. The defect images contain the spectrum of standard image without any defects. Spectral subtraction presented in the paper can extract the standard image from the three defect images. The algorithm complexity of spectral subtraction detecting defects is close to that of Fourier transform. After obtaining the standard image, the speed and accuracy of defects detection can be greatly enhanced using the detection method presented in the paper. Using the image gray-scale matching technology, impact of illumination on IC defect detection is solved. Experiments demonstrate that spectral subtraction is fast and accurate to defect detection in an IC image, and the method has high robustness for illumination.      

基于多CIS的PCB基板缺陷自动光学检测系统

提出一种利用多CIS实现的检测PCB基板缺陷的新方法。采用多条CIS并行工作,并利用EZ-USBFX2作为USB接口控制器,高速地将CIS采集的图像数据向主机传送,应用程序再将得到的PCB图像数据进行处理,从而检测出PCB基板的缺陷。     

基于超声红外热像的电缆终端局部放电缺陷检测方法

电缆终端局部放电缺陷特征短暂,缺陷范围与外部环境纠缠,很难准确定位,需要结合温度特征和模式识别特征共同检测,本文利用超声红外热成像的优势,提出基于超声红外热像的电缆终端局部放电缺陷检测方法,方法利用图像梯度化、灰度化处理采集到的电缆终端局部放电缺陷特征超声红外热成像图,并通过智能模式识别处理方法抑制采集图像的复杂背景,删除包含在电缆终端局部放电缺陷特征红外图像中的大面积地物及地面;根据K-means聚类算法,圈定疑似局部放电缺陷特征范围,构建局部放电缺陷范围模板,经匹配参考范围后,得出疑似局部放电缺陷范围的温度特性信息,诊断电缆终端是否存在局部放电缺陷。实验结果表明,该方法可有效获取电缆终端局部放电缺陷部位,检测不同类型的电缆终端局部放电缺陷的平均精准率高达98%,平均漏检率为1%。     

线路板缺陷的图像检测方法

为提高线路板缺陷的自动检测能力,结合图像处理技术,提出了线路板缺陷的图像检测方法。该方法首先对Gerber文件解析,获取标准线路板图像;其次利用定位孔检测实现标准线路板图像与待检测图像的配准;然后结合形态学滤波,完成线路板缺陷区域定位;最后根据常见缺陷的特征,综合采用面积法、连通域法和缺陷边缘邻域法,实现了常见缺陷类型的自动识别。通过对真实线路板图像仿真缺陷的检测实验,其结果证明了该方法的有效性。     

Classification of Defective Analog Integrated Circuits Using Artificial Neural Networks

This paper presents a new approach for detecting defects in analog integrated circuits using the feed-forward neural network trained by the resilient error back-propagation method. A feed-forward neural network has been used for detecting catastrophic faults randomly injected in a simple analog CMOS circuit by classification the differences observed in supply current responses of good and faulty circuit. The experimental classification was performed for time and frequency domain, followed by a comparison of results achieved in both domains. It was shown that neural networks might be very efficient and versatile approach for test of analog circuits since an arbitrary fault class or circuit's parameter can be analyzed. Considered defect types and their successful detection by the neural network; and a possible off-chip hardware implementation of the proposed technique are discussed as well. Moreover, optimized hardware architecture of the selected neural network type was designed using VHDL for FPGA realization.     

Back-end soft and hard defect monitoring using a single test chip

The objective of this paper is to present a mixed test structure designed to characterize yield losses due to hard defect and back-end process variation (PV) at die and wafer level. A brief overview of the structure, designed using a ST-Microelectronics’ 130 nm technology, is given. This structure is based on a SRAM memory array for detecting hard defects. Moreover each memory cell can be configured in the Ring Oscillator (RO) mode for back-end PV characterization. The structure is tested in both modes (SRAM, RO) using a single test flow. The test data analysis method is presented and applied to experimental results to confirm the ability of the structure to monitor PV and defect density.     

基于专家系统的压力容器胶片焊缝缺陷识别技术研究

针对压力容器无损检测中胶片焊缝的缺陷识别,根据缺陷图像的特征,采用图像预处理、图像分割算法,专家系统等方法,提出了一种胶片焊缝缺陷的识别方法,并在MATLAB下实现。介绍了专家系统的基本原理、结构、建立方法和识别策略,根据焊缝缺陷特征,从不同层次进行识别。通过不断的试验来完善胶片缺陷专家系统库,进一步提高缺陷识别率。     

偏光片细微外观缺陷偏振成像检测方法

针对偏光片细微外观缺陷难以成像、难以检测的问题,该文提出一种基于偏振成像的外观缺陷检测新方法。通过缺陷偏振态指标测量结果,定性描述了对比度增强机理。利用缺陷与正常区域之间透射光偏振态的显著差异,大幅提高缺陷的成像对比度,从而简化后续图像处理算法,提高检测速度和准确率。实验结果表明,偏光片外观缺陷平均检出率达到97.3%,平均单个样品检测时间约为0.22 s,基本满足产业化应用要求。