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Si(Li)探测器类的X射线能谱仪已广泛地应用于电子探针和扫描电镜的分析领域,据不完全统计,我国大约有500多台X射线能谱仪与电子探针或扫描电镜(包括透视电子显微镜)联用,已成为最为主要的微区元素分析的工具,发挥了重要的作用。但也存在着分析结果上的明显缺陷,严重地影响定量分析的质量,并导致许多不应有的研究成果谬误的发生,甚至在一些科技文献中常见到这些错误的数据。《电子探针和扫描电镜X射线能谱定量分析通则》(GB/T17359-1998)国家标准的制定,集国内外分析技术专家在这一领域的理论和实践经验,对X射线能谱定量分析制定了几个大的原则,并作为国家标准发布,以规范X射线能谱定量分析,这对于提高我国X射线能谱定量分析的质量,进而推进我国相关领域的科学研究和工农业生产的发展,将具有重要的意义。 相似文献
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电子探针(EPMA)简介 总被引:1,自引:1,他引:0
1概要电子探针(electron probe micro analyzer,EPMA)用于研究物质表面上的元素组成及其分布。利用检测电子束照射物质表面时产生的特征X射线,可以在物质表面进行从微区到大面积的(非破坏性的)图像观察和元素分析(组成元素的判定以及含量分析)。 相似文献
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X射线荧光光谱技术在重金属检测中的应用 总被引:3,自引:0,他引:3
X射线荧光光谱技术是利用样品对X射线的吸收随样品中的成分及其多少而变化来定性或定量测定样品中成分的一种方法。它具有分析迅速、样品前处理简单、可分析元素范围广、谱线简单、光谱干扰少、试样形态多样性以及测定时的非破坏性等特点。文章概述了X射线荧光光谱仪的基本原理、分类及系统的组成,综述了X射线荧光光谱技术在土壤重金属检测和农产品重金属及微量元素检测中的应用研究,分析了X射线荧光光谱技术存在的关键问题,提出了X射线荧光光谱技术的进一步研究方向。 相似文献
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加速电压和样品表面粗糙度对EDS分析精度的影响 总被引:1,自引:0,他引:1
本文讨论了加速电压和样品表面粗糙度对X射线能谱仪(EDS)分析精度的影响。结果表明:不同元素的特征X射线强度最大值所对应的加速电压不同;当加速电压一定时,表面粗糙对特征X射线强度的影响是造成分析误差的主要原因之一。 相似文献
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几种大型测试仪器在新疆吐鲁番珊瑚化石颜色成因研究中的应用 总被引:1,自引:0,他引:1
采用热重分析仪、偏光显微镜、电子探针、显微红外光谱仪及激光拉曼光谱仪对新疆吐鲁番珊瑚化石的颜色成因进行了探讨。热重分析TG和DTG曲线没有出现除方解石以外的其他热分解过程,表明珊瑚化石中不含有机物,有机物不是使其致色的主要原因。偏光显微照片和电子探针背散射(BSE)图像清楚地反映出由珊瑚的方解石骨架围成的空隙被大量方解石和少量白云石所充填。电子探针结果显示不同颜色珊瑚化石的珊瑚骨架化学成分相近,空隙充填物的化学成分存在差异。显微红外光谱显示Mn2+,Fe2+,Fe3+过渡元素离子对Ca2+的类质同像替代使方解石晶体结构发生了一定的变形。激光拉曼光谱结果表明过渡离子的类质同像替代是使珊瑚化石呈色的根本原因。依据晶体场理论,Mn2+,Fe2+,Fe3+的轨道电子跃迁使新疆吐鲁番珊瑚化石呈色。 相似文献
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电子探针背散射电子图像在碳酸盐岩微区分析中的意义 总被引:1,自引:0,他引:1
碳酸盐岩成分虽然简单,然而结构却非常复杂,微区分析显得尤为重要。因显微镜等常规仪器性能有限,难以用来进一步提高微区分析的精度。电子探针的使用则大大提高了微区分析研究的精度与深度。使用该仪器能对研究对象进行几千倍甚至十万倍的显微结构观察,可以发现高清晰的微米级、纳米级的微观地质现象;同时可以定位分析相应微观结构的成分,即将化学成分与显微结构一一对应起来,真正实现原住、可靠的精细微区分析。本文重点研究了电子探针中的一种最重要的图像——背散射电子图像,在碳酸盐岩微区分析中所起的作用。除了其在上述显微结构与微区分析精确定位方面的意义之外,它在岩石矿物识别方面的意义也不容小觑。 相似文献
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用熔体外延(ME)法在InAs衬底上生长了InAsSb外延层,用扫描电子显微镜(SEM)观察了样品的横截面,并测量出外延层的厚度达到100μm,用X-射线衍射(XRD)谱研究了InAsSb外延层的结构性质。测量结果表明,InAs/InAs0.023Sb0.977单晶具有相当完美的晶体取向结构及良好的结晶质量,这可能得益于100μm的外延层厚度基本消除了外延层与衬底之间晶格失配的影响。电子探针微分析(EPMA)测量的元素分布图像显示,Sb(锑)元素在外延层中的分布相当均匀。 相似文献
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应用蛋白质电子晶体蛋白质晶体高分辨结构时,常采用冷冻水合技术,但在通常的透射电镜中,低温冰冻条件下,样品往往在短时间内便被严重污染,为克服这个困难,本文介绍作者所进行的防污染系统改装及其改装后的效果。 相似文献