TCY-1型弹性元件性能通用测量仪鉴定会

受一机部仪表局委托,由沈阳仪器仪表工艺研究所主持,于1978年12月8日至13日在沈阳召开了弹性元件性能通用测量仪鉴定会。有关的仪表厂、科研、高等院校等二十余个单位,三十余名代表参加了会议。会上代表们听取了沈阳仪器仪表工艺研究所弹性元件检测仪攻关组关于TCY-1型弹性元件性能通用测量仪的研制情况报告,并就弹性元件测试技术和数据处理技术、仪器用谐振筒压力传感器理论和设计问题做了介绍,并进行了讨论。会议代表们对该仪器的技术性能进行了     

SG系列扩散硅固态压力传感器

ＳＧ系列扩散硅固态压力传感器沈阳仪器仪表工艺研究所庞世信供稿１概述ＳＧ系列扩散硅固态压阻压力传感器是沈阳仪器仪表工艺研究所开发的新一代的压力测试、控制用传感器，它同以往的产品相比，具有灵敏度高、精度高、便于远传和体积小等优点。特别是随着计算机技术的发...     

硅蓝光电池鉴定会在沈阳举行

由沈阳仪器仪表工艺研究所研制的硅蓝光电池的鉴定会,于1981年7月16日至18日在沈阳市举行。会议由国家仪器仪表工业总局及一机部机械院联合主持。有辽宁省科委、辽宁省计量所、清华大学、上海电器电子元件厂、天津印刷技术研究所、北京718厂等十九个单位的二十余名代表参加了会议。鉴定的结果,代表们一致认为硅蓝光电池的     

全固态通用型压力传感器、变送器

全固态通用型压力传感器、变送器沈阳仪器仪表工艺研究所庞世信，刘沁，吕忠刚扩散硅压力传感器与应变式等其它类型压力传感器相比具有很多优点，多年来一直是人们关注的重点。国外目前已形成了系列化和通用化的产品，国内近些年来在扩散硅压力传感器开发和应用上也取得了...     

行业活动

一九八八年十一月下旬,机械电子工业部沈阳仪器仪表工艺研究所受部司委托,对该所研究成功的扩散硅液位传感器、薄膜InSb磁阻元件、硅杯加工工艺研究、硅荷重传感器、磁—温传感器、高稳定性霍尔元件、微型、超薄型砷化镓霍尔元件及传感器等十项科技成果,在沈阳举行技术鉴定,有关代表对各项     

粉末冶金小模数齿轮

由上海市仪器仪表公司主持的片状直齿粉末冶金铁、铜小模数齿轮鉴定会,于1981年12月13日在上海召开。鉴定委员会由上海市仪器仪表公司、一机部机械通用总局、沈阳仪器仪表工艺研究所等11个单位组成。参     

传感器可靠性测试系统研制成功

根据国家“八·五”科研攻关项目研制的“传感器可靠性测试系统”已由机械工业部沈阳仪器仪表工艺研究所研制成功.系统结构灵活,规模可缩可扩,应用广泛,可对多种敏感元件和传感器的可靠性参数测试,尤其适合各企业对敏感元件和传感器作出厂前的分档分类检测,如扩散硅压力传感器、应变片压力称重传感器、PTC热敏电阻、PN结温度传感器以及磁敏元件等.它检测精度高、速度快、批处理数量大、数据处理灵活方便.系统主要技术指标及设备1.测试精度:±0.05%F·S     

霍尔元件功率传感器鉴定会

由沈阳仪器仪表工艺研究所研制的电子式直流电度表用霍尔元件功率传感器鉴定会于1983年12月15～18日在沈阳举行。受机械部仪表局委托,沈阳仪器仪表工艺研究所主持了这次鉴定会。参加会议的有25个     

一机部仪器仪表元件科技情报网第二次总网会议在温州召开

根据一机部情报工作计划的安排和仪器仪表元件行业科研和生产发展的需要,一机部仪器仪表元件科技情报网于一九七九年五月十二日至十六日在温州市召开了第二次总网会议。出席会议的有一机部仪表总局,一机部情报所,各分网的主要成员单位以及有关院校、科研等102个单位,122名代表。在温州地区工交办、重工局、仪表公司大力协作之下召开了会议。会议传达了一机部一九七八年十二月份情报工作会议精神,听取了一机部沈阳仪器仪表工艺研究所代表总网所作的一九七七至一九七     

霍尔位置传感器鉴定会

沈阳仪器仪表工艺研究所研制的无刷直流伺服电动机用霍尔位置传感器于1983年12月26日～28日在上海召开了鉴定会。受机械工业部仪表局委托,沈阳仪器仪表工艺研究所主持了会议。参加会议的有11个单位16名代表。该项目经过两年多的研究,解决了用霍尔元件制造无刷直流电机用霍尔位置传感器的结构设计、制造工艺和性能测试方法等关键技术问题。该传感器在国内具有先进技术水平,在国际上达到了日本横河电机制作所七十年代后期同类产品的水平。其主要技术指标为:1.输入、输出电阻值,1kΩ左     

RCA型精密低阻沉积膜电阻器鉴定会

为向国庆三十周年献礼,79年9月21日至22日,在营口市科委主持下,召开了RCA型精密低阻沉积膜电阻器鉴定会。参加单位有营口市经委、机械局、电子局、计量局、一机部沈阳仪器仪表工艺研究所、辽宁省计量测试所、营口市电子研究所、无锡电阻厂、鞍山无线电元件厂等21个单位的29名代表。会仪代表听取了营口市仪表元件二厂关于《RCA型精密低阻沉积膜电阻器》的试制工     

“金属应变计测量技术研究”等二十项科研成果通过技术鉴定

机械电子工业部沈阳仪器仪表工艺研究所受部、司委托,一九八八年年底,对该所研究成功的三十项科研成果,在沈阳分批进行技术鉴定。继十一月下旬“扩散硅液位传感器”等十项课题通过鉴定(本刊一九八八年第六期已发信息)之后,十二     

线性集成电路测试方法及SI-1型综合参数测试仪鉴定会

为了解决线性集成电路直流和低频参数测试方面存在的问题,沈阳仪器仪表工艺研究所第四研究室,开展了线性集成电路测试方法的研究工作,并研制成功了SI-1型线性集成电路综合参数测试仪。80年7月26日至28日在沈阳召开了上述测试方法和测试仪器的鉴定会,会议由沈阳仪器仪表工艺研究所主持,国家仪器仪表总局和有关工厂、院校、科研、共11个单位,15名代表参加了会议。     

YTD35数字程序控制电影印片机加色法灯箱鉴定会在长春召开

YTD35数字程序控制电影印片机加色法灯箱,系一机部下达给沈阳仪器仪表工艺研究所的新产品试制项目。这种数控印片机加色法灯箱,为我国普及加色法印片技术,提高电影胶片质量,起了一定的促进作用。沈阳仪器仪表工艺研究所研制成功的数控加色法灯箱,安装在长春电影制片厂的《井岗山》印片机上。到目前为止已经进行一年左右时间的试生产,印制了国内、外各类影片的拷贝达100多万米。证明机器性能稳定,各项技术指标达到了设计要求。并于一九七九年十一月二十五日至二十七日在长春电影制片厂召开了鉴定会。参加会议的有,长春电影制片厂,八一电影制片厂,北京电影机械研究所,上海第一电影机械厂等有关专业厂、研究所共13个单位,30位代表。     

CAP小型固体电介质钽电容器鉴定会

1979年12月20日锦州市冶金机械局在锦州市主持召开了CAP小型固体电介质钽电容器鉴定会。参加单位有一机部仪器仪表工艺研究所、锦州市标准计量管理局、沈阳市无线电器材三厂及锦州市领导部门和生产、使用等12个单位的20名代表。受鉴单位锦州电力电容器厂做了试制该产品的汇报,会议分两组分别对产品技术文件和产品性能进行审查和测试,最后通过了鉴定结论:可以小批量生产。     

JPG-Ⅰ型激光平面干涉仪鉴定会

1979年12月14日至15日在沈阳召开了JPG-Ⅰ型激光平面干涉仪鉴定会。该仪器是由沈阳仪器仪表工艺研究所、上海光学精密机械研究所共同研制的。会议由国家仪器仪表工业总局委托沈阳仪器仪表工艺研究所主持。参加会议的有辽宁省计量局、沈阳市科学技术委员会、上海光学仪器厂等有关生产、科研和高等院校共18个单位,20余名代表。会议听取了两个研制单位所作的研制报告和φ250平面干涉仪光学工艺与测试等技术报告。代表们对该仪器进行了现场测试,对图纸资料进行了审查。代表们一致认为:一、该仪器的光学和机械设计合理,达到了设计任务书中提出的各项指标。测量范围:能测量φ230毫米的视场;     

F033低漂移等集成运算放大器经鉴定达到先进水平

由沈阳仪器仪表工艺研究所负责组织联合设计,有大连仪表元件厂,襄樊仪表元件厂、四川仪表六厂,沈阳仪器仪表工艺研究所等单位参加共同试制的FO33低漂移、FO11低功耗、FO06、FO07通用Ⅲ型集成运算放大器,于一九八○年七月十九日在大连,经国家仪器仪表工业总局鉴定合格。参加这次鉴定会的有大专院校、整机单位、元件厂等30多个单位,共54名代表,经过测试,代表们一致认为上述元件达到先进水平。     

JQG-1000型激光球面干涉仪鉴定会

激光球面干涉仪可对凹、凸光学球面曲率半径及光学球面、光学平面的面形局部误差作高精度非接触的测量。针对目前光学行业高精度光学样板的测试问题,沈阳仪器仪表工艺研究所、上海光学仪器厂和新添光学仪器厂协作,共同研制成功了JQG-1000型数字显示激光球面干涉仪。受国家仪器仪表总局委托,由沈阳仪器仪表工艺研究所主持,于1979年12月17日至19日在沈阳召开了对该仪器的鉴定会。参加会议的有长春光学精密机械研究所、上海光学精密机械研究所、辽宁省计量局等20个科研、生产和高等院校的20余名代表。会上沈阳仪器仪表工艺研究所和新添光学仪器厂分别介绍了该仪器的研制报告(包括综     

行业活动

紫外光传感器及其应用研究等五项科研成果通过局级鉴定 国家机械委沈阳仪器仪表工艺研究所于1987年12月24日又有五项科研成果在沈阳通过局级鉴定。有关高校、科研院所、企事业单位的88各代表参加了会议,其中具有高级技术职称的专家、教授有26人,在通过鉴定的项目中,紫外光传感器及其应用研究成果的主要性能、指标达到美国UVX紫外光辐     

差压膜盒质量攻关鉴定会

国家仪器仪表工业总局委托沈阳仪器仪表工艺研究所主持的差压膜盒质量攻关鉴定会于1980年12月16日至17日在天津召开。参加会议的有:天津仪表厂、大连仪表厂、上海调节器厂、上海自动化仪表一厂、上海弹性元件厂、武汉热工仪表厂等12个单位17名代表。会议听取了攻关小组关于差压膜盒质