混合信号电路可测性结构研究

在深入研究IEEE1149.1及IEEE1149.4标准的基础上,对基于边界扫描的混合信号电路的可测性结构进行了探索;对所设计混合信号电路可测性结构用可编程逻辑器件及外部模拟电路进行硬件的具体实现,构建了验证模块DOT4MBST;同时以DOT4MBST与IEEE1149.4工作组提供的标准验证芯片为核心对同结构的混合信号电路构建了验证电路;最后对验证模块DOT4MBST及验证电路进行了测试验证,测试结果表明,所设计的混合信号电路可测性结构是可行的,并可以应用到混合信号电路中提高电路的可测试性。     

模拟电路边界扫描功能性测试模型研究

边界扫描技术在数字电路中已经基本成熟,但在模拟电路中还涉足较少。为了提高模拟电路系统的可靠性和可测性设计,对模拟电路面向功能性测试的边界扫描模型进行了研究,结合IEEE1149.1标准框架结构和IEEE1149.4标准混合信号测试总线思想,提出了利用数字寄存器控制模拟开关的边界扫描单元结构,设计了面向功能测试的模拟电路边界扫描模型,简化了测试存取口,降低了测试难度,同时构建了模型测试平台,实现了模型的功能测试功能。     

基于IEEE 1149.4标准的模拟电路功能性测试模型研究

IEEE 1149.4混合信号电路边界扫描测试总线标准为模拟电路的可测性设计提供了一个基本的框架,但具体的实现方法需要研究人员进行设计。用开关矩阵、单片机、dds芯片构成了基于IEEE 1149.4标准的模拟电路功能性测试模式。经可控性、可观性试验,能够反映IEEE 1149.4标准中针对模拟电路的边界扫描构架与思想,为更多将边界扫描应用于模拟电路的可测性设计中去,打下了良好的基础。     

基于IEEE1149.4标准的K节点故障诊断方法研究

IEEE1149．4标准为解决数模混合电路的边界扫描测试提供了有效的方法;在IEEE1149.4标准所提出的模拟互连测试结构的基础上,结合K节点故障的可测性原则和测试节点选择方法,实现对常规的复杂无源模拟电路网络进行符合IEEE1149.4标准的可测性设计进行故障诊断,并通过实例验证该方法的有效性。     

建立在模拟集成电路上的边界扫描设计

对模拟芯片边界扫描测试方法进行了研究,结合IEEE1149.1标准框架结构和IEEE1149.4标准混合信号测试总线思想构建了模拟芯片边界扫描测试电路,运用了数字移位寄存器和模拟开关构成模拟边界扫描单元,并编写了TAP控制器及其它电路的VHDL代码,通过实验仿真验证了测试电路的可行性。测试电路可以完成模拟芯片的简单互连测试以及性能测试。     

基于IEEE1149.4的混合信号边界扫描测试控制器设计

简要介绍了IEEE1149.4混合信号测试总线及其特点,并根据该标准定义的测试结构对混合信号电路的测试方法进行研究,设计出符合IEEE1149.4标准的边界扫描控制器及其验证电路,实验结果表明该测试控制器能实现对混合信号电路板的测试,大大提高了混合信号电路板的可观性和可控性.     

基于虚拟扫描链的混合信号电路测试方法研究

针对目前存在的混合信号电路测试效率不高的现象,在混合信号测试总线(IEEE1149.4标准)基础上引入虚拟扫描链的思想,并构建了一种混合信号虚拟边界扫描测试结构,在详细阐述该结构的工作原理基础上,在Quartus II软件中对混合信号虚拟边界扫描测试结构的功能性测试流程进行了仿真;通过仿真验证表明该结构完全兼容IEEE1149.4标准中的指令,对促进边界扫描技术的发展具有积极的意义。     

基于单片机的边界扫描实验系统的设计与实现

为了将边界扫描技术构架更好地应用于电路可测性设计中,在介绍边界扫描结构、测试基本原理的基础上,提出了运用单片机模拟边界扫描时序,控制被测电路进入相应边界扫描状态的方法;利用模拟开关控制整体扫描链路的转换,同时结合现有CPLD下载电路,完成了被测电路核心逻辑、外围管脚的设置,最后实现了基于IEEE1149.1测试访问门和边界扫描结构标准的边界扫描实验系统;实验系统可以完成IEEE1149.1的所有边界扫描测试,并具有实现简单、操作灵活等特点。     

基于边界扫描的模拟电路BIT技术研究

边界扫描技术在模拟电路的可测性设计大多仍停留在IEEE1149.4标准所规定的模拟测试总线上,并没有做到真正意义上的内建自测试设计;针对模拟电路信号提取和比较相对困难的测试难点,提出采用方波脉冲作为测试激励信号的方法,并以模拟开关为辅助桥梁,设计了基于边界扫描的模拟电路BIT结构;通过各个模块功能的时序仿真证明了该结构设计的合理性,并以集成运放uA741作为被测电路,通过信号上升沿脉冲计数充分证明该结构的可行性。     

基于网络的混合信号边界扫描测试系统的设计与实现

将边界扫描技术与网络技术结合,解决高密度电路系统特别是混合信号电路及复杂测试环境带来的测试问题,可实现远程测试与故障诊断;设计了一种基于网络的混合信号边界扫描测试软硬件系统,硬件部分设计了边界扫描测试控制器、网络接口电路并实现了硬件底层驱动程序,软件部分实现了边界扫描测试系统程序和网络接口功能函数;对被测电路进行测试验证,测试结果表明系统可完成混合电路的远程边界扫描测试,具有较好的应用前景。     

基于IEEE1149.4的差分测试方法的研究与应用

IEEE1149．4标准（DOT4）为解决数模混合电路的边界扫描测试提供了有效的方法,对于数模混合差分电路的互联测试,一直是数模混合电路中巨联测试的重点之一,介绍了一种基于此标准的差分互联电路的测试方法以及差分模拟边界扫描单元的应用,对混合差分电路实现了简荤互联和扩展互联的边界扫描测试,从而提高了差分电路互联测试的能力。     

基于边界扫描的混合电路系统机内测试研究

当今电子系统多由模数混合电路组成,随着电子技术的飞速发展,混合电路系统的集成度不断增加,其检测问题一直是测试领域的一个难点;针对混合电路系统的测试特点,以IEEE1149.4标准为研究基础,对某系统控制盒电路进行基于边界扫描的BIT(Builit-in Test机内测试)测试性设计和改造,并将改进后的被测系统进行测试性验证;实验结果表明,该电路系统通过74BCT8373与STA400边界扫描芯片的置换和置人,能够实现混合电路的互连测试与参数测试,且测量迅速,故障定位准确,可以有效提高电路系统的测试性.     

基于DES理论的数模混合电路可测试性研究

近年来出现的离散事件系统(DES)理论为数模混合电路的测试提供了一种新的解决思路，本文对DES理论在求取数模混合电路的可测试性和最小测试集中的应用进行了论述。该种方法可以在计算机上用C十十语言实现。     

基于边界扫描技术的复杂电子设备系统级测试研究

以提高复杂电子设备系统级测试能力为目的,在对边界扫描技术进行研究的基础上.论述和总结了基于边界扫描的电子设备系统级测试的硬件结构、测试方案和测试装置,并提出了软件系统的结构设计;同时,按照IEEE1149.5标准的MTM—BUS总线进行了结构设计和功能仿真;实验结果表明,基于边界扫描的系统级测试技术能够广泛应用于现代电子设备,特别是MTM—BUS总线结构具有快速、准确、简单等特点;该研究和设计不仅对复杂电子设备系统级测试技术进行了总结,而且对改善电子设备系统级测试性能具有十分重要的指导意义。     

基于MTM总线的边界扫描控制器设计与实现

超大规模集成电路和组装工艺快速发展,电路板结构和功能日趋复杂,将边界扫描技术应用于系统级测试,对提高系统的可靠性和可维护性具有重要的实用意义;在深入研究IEEE1149.5和IEEE1149.1标准的基础上,对基于MTM总线的边界扫描控制器结构进行了研究,解决了IEEE1149.5与IEEE1149.1协议转换中的关键技术,设计实现了内嵌边界扫描功能的MTM总线从模块,使用SpartanⅡ器件实现了基于MTM总线的边界扫描控制器;仿真和实验结果表明,IEEE1149.5总线接口、IEEE1149.1端口和TAP控制器功能正确,符合系统层次化测试的实际要求。