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相似文献
 共查询到10条相似文献,搜索用时 343 毫秒
1.
双摄像机双光源视线追踪系统标定方法研究   总被引:1,自引:1,他引:0  
针对现有平面镜反射标定方法的不足,提出了一种基于多摄像机全局标定的视线追踪系统标定方法.通过在屏幕对面放置一对标定摄像机与系统摄像机构成多摄像机系统,标定摄像机直接拍摄标定目标,测量系统摄像机、光源和屏幕之间的空间位置关系.通过多摄像机全局标定确定系统摄像机和标定摄像机的坐标转换关系.通过坐标转换最终标定出系统摄像机坐标系中摄像机、光源、屏幕的空间位置关系.该方法解决了屏幕和光源不在系统摄像机视野范围内的问题,减小了图像误差.系统标定结果验证了该方法的有效性,同时为其他同类系统标定提供了一种解决问题的思路.  相似文献   

2.
为了确保声速仪的测量精度,定期进行标定是必不可少的.本文阐述了声速仪标定系统的声速、温度、压力标定的原理,介绍了声速仪标定系统的标定操作技术和应用.  相似文献   

3.
论述了利用光的衍射与单片机相结合设计出的加速度传感器的标定系统.利用该系统可以快速准确地对加速度传感器的输出电压与加速度之间的关系进行标定.该系统与传统的方法相比较具有数据采集自动化程度高、误差小、标定快速等优点.  相似文献   

4.
利用误差矩阵方法对系统进行标定,虽然该标定不能完全消除系统坐标系间的误差,但与未标定坐标系间误差相比,精度有了很大的提高.在系统标定后,可以用基于位置的视觉跟踪方法对特征点进行跟踪,提高系统的速度.该方法的最大优点,是标定过程简单、精度高.实验结果表明,在光学系统畸变影响下,一次标定可以将误差控削在3个像素范围内.  相似文献   

5.
电容式叶尖间隙测量系统标定技术   总被引:1,自引:0,他引:1  
李飞行  王涛 《工程与试验》2011,51(1):11-12,59
基于电容式叶尖间隙测量系统原理,对该系统标定方法进行讨论,设计了用于系统静态标定的标定台,并对标定中的误差进行了分析探讨.  相似文献   

6.
CCD摄像机快速标定技术   总被引:37,自引:11,他引:26  
在视觉检测系统中,针对视觉传感器数量多,且每个摄像机需标定的内部参数及外部参数较多的特点,提出了一种新的简单的快速摄像机标定方法.分析了摄像机的各个关键参数,采用了全线性标定方法和矢量分析法,逐步求出CCD摄像机的参数.该方法具有标定速度快、精度较高、实用和算法性能分析容易等优点,适用于一般视觉检测系统的摄像机参数的标定,尤其是大型视觉检测系统中多视觉传感器的摄像机参数的标定.实际结果表明,摄像机标定误差优于0.05mm.  相似文献   

7.
超声应力检测中应力常数的标定试验研究   总被引:2,自引:0,他引:2  
利用应力常数标定系统对待标定试样施加载荷,测定两接收探头由于载荷变化引起的声时差变化,从而确定出材料的应力常数.对标定结果分析后表明,该标定系统操作方便,能快速得到被标定材料的应力常数,标定结果满足工程现场检测要求,可用于超声应力常数标定.  相似文献   

8.
基于双目立体视觉的手持式光笔三坐标测量系统   总被引:1,自引:0,他引:1  
提出了一种基于双目立体视觉系统的手持式光笔三坐标测量系统.该系统的关键技术包含相机标定、光笔上粘贴的标志点标定和测头自标定技术.该系统的手持式光笔结构简单,对标志点和测头的结构分布没有特殊要求.实验结果表明,该系统实现了对物体的接触式测量,系统精度稳定可靠.  相似文献   

9.
介绍了一种基于图形化编程工具LabVIEW的半自动传感器静态特性标定系统的构建方法,主要从系统的总体结构、传感器各静态特性指标的含义及算法的软件实现方法等方面进行讨论.然后以Pt100温度传感器标定为例,阐述了该系统的具体工作流程,并对标定系统进行了误差分析.实际测试结果表明该标定方法快捷有效.  相似文献   

10.
为弥补普通光学显微镜照明系统的不足,针对一般三维微结构的显微成像,提出并设计了一个可实现实时调节的三向光纤照明成像观测系统.系统采用计算机、D/A卡、驱动电路等硬件以及自主研制的控制软件,实现对任一光源的光强进行稳定连续的实时调节.通过自主设计的机械结构将光源、光纤、耦合头以及显微镜连接为一整体,实现光束入射方向、入射角和入射距离的任意调节.与通常的底部透射光照明系统进行实验比较,成像质量显著提高,不仅可以清晰观察目标对像的表面结构,还能得到立体感强的三维图像.针对面阵CCD显微测量系统的标定和标定误差问题,提出了螺旋微缝标定法.将螺旋测微计两铁钻形成的微缝作为标定的样本,配以适当的观测手段和计算方法,有效地消除或减小了各种误差,提高了系统的标定精度.通过系统标定和测量比较,系统的标定精度达到±0.0015μm,测量精度达到±1μm.实验结果表明,螺旋微缝标定法可以基本满足CCD测量系统标定的要求.  相似文献   

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