现代电子设备的可靠性设计技术

可靠性设计是现代电子设备可靠性保证体系的关键环节。阐述了电子设备可靠性设计的基本原则与实施途径，包括元器件的可靠性选用、电子线路的可靠性设计以及印制电路板的可靠性设计等。     

机载电子设备首次生产可靠性增长研究

在现役机载电子设备可靠性增长工作的推动下，可靠性工程技术和工程实践得到了深入的发展，但可靠性工程的最终目的是为了提高产品的实际使用可靠性水平。研究了机载电子设备首次生产可靠性增长问题，正是立足于提高交付使用产品的可靠性水平，确保产品满足实际使用的高可靠性要求。     

电子设备热设计、热评估实施要求

介绍了对电子设备进行热设计、热评估的必要性，指出对电子设备进行可靠性热设计，实施有效的热控制是提高设备工作可靠性的关键措施；同时简明阐述了热设计的概念和热设计的主要内容和实施要求，并介绍了热评估的必要性和对保障电子设备可靠性的实用意义。     

电子设备热处理实用方法

电子设备的热处理电子设备可靠性的重要途径，从热源，失效率入手，分析了热产生机理，有针对性地提出了电子设备中热处理的若干实用方法。     

直升机机载电子设备可靠性综合评估

通过引入由分系统的可靠性参数综合评估系统可靠性参数的理论模型，对直升机机载电子设备的可靠性进行了综合评估，并通过计算举例进行验证，说明运用这种理论模型对直升机机载电子设备可靠性进行评估的可行性。     

电子设备热设计的初步研究

可靠的热设计是电子设备可靠性的重要措施，在阐述电子设备热设计的一般流程的基础上讨论了常用的电子设备的冷却方法，并介绍了计算机辅助设计在电子设备热设计上的应用。     

电子设备的可维修性设计

本文主要阐述了电子设备可维修性设计的基本任务和内容以及与电子设备可靠性设计的相应关系，并对可靠性维修设计中的维修体制，机内检测技术以及结构模块设计的综合应用技术－新 结构可维修性思想作了介绍，旨在使工程技术人员能对电子设备的可维修性设计有一个理性认识。     

电子设备的可靠性统计试验方法研究

可靠性试验是可靠性工程的一个重要组成部分,已成为验证电子设备可靠性指标的必要手段.以某电子设备为例,对电子设备的可靠性统计试验方法进行了研究.     

电子设备中非电阻件的可靠性预计

非电组件是电子设备不可缺少的组成部分，其可靠性直接影响到整机的性能、完好性及寿命，所以对电子设备进行可靠性预计时必须考虑非电组件的影响，本文介绍了三种非电阻件的可靠性预计模型，有关的现场使用数据及失效模式分布情况，为开展机电组件的可靠性预计研究提供参考。     

电子设备的热设计

热设计是电子设备可靠性的设计要求。分析了热产生的机理，并提出了电子设备的热设计方法。     

可靠性数据处理与分析技术研究

本文通过地影响电子设备工作、非可行性诸因素的分析，得到电子设备可靠性预计一般模型。对零失效数据处理、数据的一般要求及数据质量的判别异常数据处理的研究，以保证用于可靠性预计建模数据的良好性，进而探讨了发分析在可靠性预计建模中的应用。     

使用维修与电子设备的可靠性

电子设备的可靠性，一般分为固有可靠性和使用可靠性，固有可靠性是由设计、生产和工艺决定的，而使用可靠性是由固有可靠性和使用条件共同决定的．使用维修对固有可靠性的影响主要与两方面有关．一是要有一批具有现代化理论并掌握一定维修技能的高级使用维修人员，使经验维修能上升到理论维修．二是要有一套性能先进、使用方便的检测设备．本文通过大量使用维修中发现的问题．就元件质量对机载电子设备可靠性的影响谈了我们自己的看法，并提出了元件质量的好坏是设备可靠性的关键．最后，本文还从使用维修的角度对电子设备的可靠性设计提出了一些切实可行的方法．     

GJB／Z299C-2006《电子设备可靠性预计手册》GJB/Z108A-2006《电子设备非工作状态可靠性预计手册》正式发布实施

2006年10月20日总装备部批准发布了国家军用标准GJB／Z299C-2006《电子设备可靠性预计手册》以及GJB／Z108A-2006《电子设备非工作状态可靠性预计手册》，并于2007年01月01日正式实施。作为我国唯一权威的、对电子设备进行可靠性预计的国家军用标准，GJB／Z299和GJB／Z108的及时更新改版，解决了大量新型元器件模型欠缺、预计手册中装备使用环境扩充、质量等级所用标准更新、可靠性水平调整等关键的可靠性预计问题。     

电子设备的可靠性研究

随着电子技术的发展,电子设备已与我们的生活密不可分。而电子设备的质量好坏在一定程度上也直接影响着我们的生活水平质量。电子设备的可靠性是电子产品的一个重要指标,可靠性的提升是电子设备更稳定运行的保障。本文对电子设备可靠性进行研究,以指导电子设备的可靠性设计。     

基于加速退化的电子设备可靠性分析

提出了电子设备在退化状态下的可靠性分析问题,通过建立电子设备退化失效模型与失效阈值,解决了有正常退化数据的电子设备可靠性问题。在此基础上,研究了加速退化时的电子设备退化问题,利用加速试验来分析电子设备在非加速状态下的退化失效,从而解决了非加速状态时退化数据不足以进行可靠性分析的问题。最后,给出了计算实例。     

故障树分析法在电子设备抗电磁脉冲可靠性分析中的应用

应用故障树分析法,对电子设备抗电磁脉冲效应的可靠性进行了分析,建立了电子设备的简化故障树模型,在此基础上计算了电子设备在电磁脉冲作用下的可靠性参数,并讨论了各部件的概率重要度和关键重要度,结合所建的故障树给出了相应的计算结果,通过重要度分析,找到了提高电子设备可靠性的途径.     

电子设备可靠性设计方法研究

要使电子设备具有预期的可靠性.就必须使所有的相关人员了解可靠性知识,有意识地共同做好可靠性工作.本文介绍了电子设备可靠性设计的多种方法、可靠性设计思路.     

电子设备可靠性设计方法研究

要使电子设备具有预期的可靠性.就必须使所有的相关人员了解可靠性知识,有意识地共同做好可靠性工作.本文介绍了电子设备可靠性设计的多种方法、可靠性设计思路.     

国产半导体器件贮存10年的可靠性

电子产品的贮存可靠性正日益被人们所重视.1985年5月,美国罗姆航空发展中心颁布了一个重要文件《设备不工作期间对其可靠性的影响》.该文件提出了计算电子设备及元器件不工作期间可靠性的有关方法,其作用相当于MIL—HDBK—217《电子设备可靠性预计手册》.我国电子产品的贮存可靠性也越来越被大家所关注.近年来,电子部五所数据中心开展了我国电子设备和元器件非工作可靠性与贮存失效率有关数据的收集、研究工作,正在编制出版《电子设备及元器件非工作可靠性预计手册》.     

电子设备可靠性增长试验方法及应用研究

可靠性增长试验是对产品的可靠性进行调查、分析和评价的一种手段,对于可靠性要求高、产品子样少或价格昂贵的产品的可靠性增长和评价具有良好的实施效果。针对目前电子设备可靠性增长试验中的薄弱环节,对可靠性增长试验的关键技术进行了研究,阐述了电子设备如何制定可靠性增长试验的方案及程序,介绍了电子设备可靠性增长试验的制定原则和试验方法,并针对某型雷达可靠性增长试验给出设计和应用实例。