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相似文献
 共查询到20条相似文献,搜索用时 46 毫秒
1.
温度巡检仪用于环境实验设备温度参数的校准.本文通过对温度巡检仪构成原理及相关性的理论分析,得出不同温度通道之间相关性由两个因素决定:(1)各通道不同的传感器;(2)测量电信号用电测仪表.本文主要研究二者组成的温度测量通道之间的相关性,通过实验估算出一种型号为PR205 AF的巡检仪不同温度通道之间的相关系数为0.375.  相似文献   

2.
一、工作原理XMD -ⅢP型温度巡检仪是以 895 1单片机为核心的智能型高精度测温仪器 ,它是由传感器、多路转换电路、信号放大及非线性校正电路、AD转换电路、895 1系统控制及显示电路构成。当测量某处的温度时 ,传感器将温度变化转化为电阻值的变化并在单片机的控制下通过多路转换器完成 0 #~ 15 #通道的扫描输入 ,电阻变化量经过R/V变换、信号放大及非线性校正后由A/D转换器进行模拟量到数字量的转换 ,最后由895 1单片机完成数据采集、数据处理、标度变换、数字显示及数据打印等工作。二、故障现象我们用二等标准温度计在标准恒…  相似文献   

3.
刘莹  邬华  程志山 《硅谷》2010,(11):48-48
设计为多路温度采集系统,各路温度均由一只1-Wire温度传感器DS18B20采集,以浮点数返回。主控MCU采集温度传感器并对采集到的数据进行分析、处理。温度值送往数码管显示,温度显示采用数码管中的4位进行动态显示,显示3位数据,另外1位用来显示通道,精度为±0.5℃,如果超温则进行语音报警提示。  相似文献   

4.
数字式温度二次仪表大量应用于工业过程中温度的测量和控制.虽然数字温度仪表有着准确度高、稳定性好、平均无故障时间长等优点,但是由于使用环境、应用环境、使用方法不当等因素的影响,将会给这类仪表造成不同程度的失准和故障.温度二次仪表的检定方法:首先短接温度仪表信号输入端,接通电源,这时仪表应显示室温,在满度正确的情况下,从起始量程开始增大输入信号(上行程时),分别给仪表输入各被检点温度所对应的标称电量值,读取仪表相应的指示值.温度二次仪表的故障排除包括:①仪表通电后显示不稳定;②仪表通电后无显示;③仪表显示溢出信号"1";④仪表显示错乱;⑤仪表显示器全亮等.  相似文献   

5.
针对电厂锅炉主蒸汽温度显示值比汽机主蒸温度显示值明显偏低,找出故障原因,分析了测温元件选型不当、保温不到位等问题,制定了改造方案,现场通过实施改造方案,达到了提高温度测量精确度的预期效果。  相似文献   

6.
朱汉杰 《计量技术》2000,(11):43-44
LJ-2 1E可编程流量演算仪是一种智能型流量显示仪表 ,一旦发生故障 ,一般会出现多种现象。因此仪表出现故障时应先分析是属于哪种情况 ,然后再着手解决。根据笔者几年的维护 ,总结了以下经验可较快地找出故障原因。1 运行指示灯正常 ,但数据显示不对(1 )检查设定数据是否正常。若数据易丢失 ,一般是由电磁干扰引起 ,因此仪表要有可靠接地。(2 )转换板出问题时 ,会引起数据显示不对。(3)压力、温度信号不对时 ,会引起流量显示不对。此时除检查差压外 ,还要查压力、温度。(4 )无信号输入但有显示值。可通过调整模数转换的基准电压 ,即 1 4…  相似文献   

7.
正一、仪器基线不稳故障现象:有1台重庆川仪分析仪器有限公司生产的SC-2000型(TCD检测器)气相色谱仪,通道1出现基线不稳的故障(通道2正常),仪器开机1小时后基线噪声大约是12m V(规程要求是不大于0.1m V)。故障分析:该仪器有两个通道,其中通道2正常,说明仪器两个通道的共用部分(如载气、供电)正常,  相似文献   

8.
本文针对国华神电锅炉壁温频繁“显示异常”这一故障现象,系统地分析了影响热电偶测温回路显示精度的各个环节,找出了问题的根本所在,提出了解决方案,将冷端补偿方式由原来的冷端补偿器改变为热电阻冷端补偿方式,从而提高了锅炉壁温显示的可靠性与准确性,解决了原测温系统的不足之处。  相似文献   

9.
本文针对现场各种温度检测、校准的需求提出一种多通道、高准确度的温度监测系统的设计方案。该装置使用高精度的ADC芯片和多路选择开关满足多通道、高准确度的测量要求。使用四线制铂电阻温度传感器测量(-100~300)℃温度时,全量程测量准确度为±0.1℃;使用K型或S型热电偶测量(300~1600)℃温度时,测量准确度为±0.05%F.S,热电偶冷端温度补偿准确度优于±0.1℃,系统具有较强的抗干扰能力,满足多种现场计量检定校准的要求。  相似文献   

10.
集成化智能传感器近年发展很快,具有体积小、成本低、功耗小、速度快、可靠性高、精密度高以及功能强大等优点。本文的数字化无线温度传感器具有集成化、智能化的特点,它由温度测量(发射部分)、温度处理(接收部分)和温度值显示(上位机)三部分构成。  相似文献   

11.
徐胜 《计量技术》2000,(1):54-54
数字温度显示仪表是生产过程中进行温度监控的计量器具。我对这类仪表检修方面从事多年,积累了一些经验,现介绍如下。1-XMT-1301数显仪表故障:控制温度不准,升温时继电器不跳,不加热。检修:查仪表控制输出端,正常。再查三极管9013基极为0-7V,集电极13-5V,调节设定温度电位器至冷却状态,三极管9013集电极无电压变化,怀疑开路,更换后,仪表控温正常。2-XMT-1311数显仪表故障现象(1):仪表接电源后无显示,指示灯亮,调节控温电位器有吸合声,控制有输出。检修:拆开后盖,发现线路板有轻…  相似文献   

12.
WMZK— 0 1温度指示控制仪是一种基本的温度计量仪器 ,它采用台式结构 ,具有体积小 ,重量轻 ,坚固耐用的特点 ,因而广泛应用在各种恒温室 (箱 )、干燥设备、塑料机械及恒温系统中。仪器在使用中出现异常时 ,一般都表现为控温失灵。下面通过两个控温失灵的现象 ,介绍其检查及处理方法。1 现象。接通电源后 ,温度选择控制器 ,无论设定在任何位置 ,测温指示仪表均有指示 ,红色指示灯均亮 ,但受控电热器却无法通电工作 (升温 )。检查及处理。从现象分析 ,红色指示灯亮 ,表明仪器中的继电器K2 没有动作 (吸合 ) ,这是常见的故障现象 ,长期使用…  相似文献   

13.
无线婴儿培养箱自动校准装置采用采用4.3英寸彩色触摸屏,同时支持5通道温度、1通道湿度、1通道噪声和1通道含氧量实时测量显示和记录,采用Wifi通讯,实现校准的自动化,智能化。  相似文献   

14.
本文利用Zr_(41)Ti_(14)Cu_(12.5)Ni_(10)Be_(22.5)(Vit1)块体非晶合金对不同宽度的微通道阵列进行充填实验,并研究了形腔宽度、压印载荷与温度对微通道阵列充填高度的影响规律.实验结果表明,随着型腔宽度和压印载荷的增加,微通道充填高度逐渐上升.这就意味着较高的载荷和型腔宽度有利于Vit1块体非晶合金在微通道中了流动.成形温度由673 K上升至703 K时,微通道充填高度由9.1μm增加至46.6μm;然而,当实验温度达到713 K时,微通道阵列的充填高度急剧下降至26.9μm.XRD结果显示,在713 K下成形后的试样中存在大量亚稳态的晶化相,非晶基体中的晶化相会增大材料的流动阻力,从而降低其对微通道阵列的充填能力.因此,Vit1合金微通道阵列成形温度区间应控制在673~703 K.  相似文献   

15.
以合成的苯并环丁烯-1-羟甲基丙烯酸酯(BCBOMA)新单体为基础,通过自由基均聚以及与丙烯酸甲酯(MA)的自由基共聚,合成了均聚物(PBCBOMA)和共聚物(PMA-BCBOMA)。通过核磁共振谱(1 H NMR,13 CNMR)、示差扫描量热分析(DSC)和热重分析仪(TGA)等研究了聚合物的结构和热稳定性能。结果表明,聚合物的开环温度明显降低至170℃;交联后PMA-BCBOMA的分解温度为358℃,显示出良好的热稳定性。  相似文献   

16.
很多行业对温度测量控制的要求较高 ,为了防止测温仪表失灵造成质量事故 ,一般采用两套测温仪表 (如电子电位差计和动圈式温度指示调节仪 )进行分别指示 ,共同调节控制同一处温度 ,给生产带来方便和安全。不少企业在测温现场发现 ,两块测温仪表温度指示不一致 ,有的相差还很大。因此不知道以哪一个仪表为准 ,影响生产操作。我们对现场所用测温仪表进行分别检定 ,其示值误差都在允许范围内 ,均为合格。那么为何产生如此大的指示误差呢 ?通过测试分析 ,认为原因如下 :1 指示仪表偏差引起的误差。如分度号为K ,量程为 0~ 110 0℃的电子电位差…  相似文献   

17.
先进微波大气探测仪(AMAS)是安装在风云三号卫星(C/D星)上的新一代微波湿度计,是风云三号卫星(A/B星)微波湿度计的继承和发展。在150 GHz(水平极化和垂直极化)和183.31 GHz(水平极化,三通道)的基础上,探测频率和通道设置为89 GHz(垂直极化)、118.75 GHz(水平极化,八通道)、150 GHz(垂直极化)、183.31 GHz(水平极化,五通道),仍采用垂直于飞行方向的交轨扫描方式,科学目标是探测全球大气温度和湿度的垂直分布、降雨等。本文介绍了微波湿度计-II的系统设计与构成,描述了微波湿度计-II的性能指标要求。测试结果表明,性能指标满足设计要求。  相似文献   

18.
笔者根据几年的使用经验,对TDS智能型旋进旋涡流量计故障现象的排除处理总结了几点经验,供同行参考。1 流量计表头显示温度、压力正常,无瞬时流量显示原因(1) :流量计选型过大,选型过大会造成流量计无流量显示。解决办法:一是调低流量计下限截止频率(这样流量计可以使用,但会造  相似文献   

19.
温度是影响长度计量和检测的一个重要因素,在计量检测领域,采取有效措施来消除或降低温度误差,对保证长度计量和检测结果的准确性至关重要.本文首先探讨了温度与尺寸变化量的关系,然后从被测零件尺寸(L)、线膨胀系数(α1)、温度(t 1)以及计量器具线膨胀系数(α2)及其温度(t2)等方面定量分析温度变化对检测结果的影响程度,最后基于温度变化对被测零件线性尺寸影响的规律和特性,总结消除温度误差,提高检测精度与准确性的措施.  相似文献   

20.
本研究探讨了同质外延生长的4H-SiC晶片表面堆垛层错(SF)的形貌特征和起因。依据表面缺陷检测设备KLA-Tencor CS920的光致发光(PL)通道和形貌通道的特点, 将SF分为五类。其中I类SF在PL通道图中显示为梯形, 在形貌图中不显示; II类SF在PL通道图中显示为三角形, 且与I类SF重合, 在形貌图中显示为胡萝卜形貌。III-V类SF在PL通道图中均显示为三角形, 在形貌图中分别显示为胡萝卜、无对应图像或三角形。研究结果表明, I类SF起源于衬底的基平面位错(BPD)连线, 该连线平行于<1$\bar{1}本研究探讨了同质外延生长的4H-SiC晶片表面堆垛层错(SF)的形貌特征和起因。依据表面缺陷检测设备KLA-Tencor CS920的光致发光(PL)通道和形貌通道的特点,将SF分为五类。其中I类SF在PL通道图中显示为梯形,在形貌图中不显示; II类SF在PL通道图中显示为三角形,且与I类SF重合,在形貌图中显示为胡萝卜形貌。III-V类SF在PL通道图中均显示为三角形,在形貌图中分别显示为胡萝卜、无对应图像或三角形。研究结果表明,I类SF起源于衬底的基平面位错(BPD)连线,该连线平行于1100方向,在生长过程中沿着1120方向移动,形成基平面SF。II类和大部分的III-IV类SF起源于衬底的BPD,其中一个BPD在外延过程中首先转化为刃位错(TED),并在外延过程中延0001轴传播,其余BPD或由TED分解形成的不全位错(PDs)在(0001)面内传播形成三角形基平面SF。其余的III-V类SF起源于衬底的TED或其它。II-III类SF在形貌通道中显示为胡萝卜,而IV类SF不显示,主要区别在于外延过程中是否有垂直于(0001)面的棱镜面SF与表面相交。上述研究说明减少衬底的BPD,对减少外延层中的SF尤为重要。  相似文献   

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