《电子设备及元器件非工作可靠性预计手册》的介绍──二极管非工作可靠性预计

介绍《电子设备及元器件非工作可靠性预计手册》的主要内容、用途、评价及贡献，以二极管为例阐述电子元器件非工作可靠性详细预计法，并简单介绍电子元器件非工作可靠性简化预计法。     

GJB／Z299C-2006《电子设备可靠性预计手册》GJB/Z108A-2006《电子设备非工作状态可靠性预计手册》正式发布实施

2006年10月20日总装备部批准发布了国家军用标准GJB／Z299C-2006《电子设备可靠性预计手册》以及GJB／Z108A-2006《电子设备非工作状态可靠性预计手册》，并于2007年01月01日正式实施。作为我国唯一权威的、对电子设备进行可靠性预计的国家军用标准，GJB／Z299和GJB／Z108的及时更新改版，解决了大量新型元器件模型欠缺、预计手册中装备使用环境扩充、质量等级所用标准更新、可靠性水平调整等关键的可靠性预计问题。     

中国电子产品质量与可靠性信息交换网工作回顾

1 前言中国电子产品可靠性信息交换网(简称国家网)建于1980年,是军民结合,非盈利性的技术组织。历经四届,现有7个分网,627个网员单位,93年以来建立了15个信息工作站.国家网信息中心“八·五”期间共收集电子装备现场数据26804份,元器件试验和现场作用数据约6.1×10~(11)元件小时,收集B类数据近万份.近五年来,国家网紧密围绕国防重点工作的需要开展可靠性信息收集、分析与应用研究工作,完成了《电子设备可靠性预计手册》第二版的修订研究,研究编制了《电子设备及元器件非工作可靠性预计手册》,开展了新××、××××、××工程的信息跟踪与服务、贯标信息跟踪与服务和新品信息跟踪等工作,并建立了10多个相关的数据库,取得部省级以上成果奖10项。     

电子元器件工作与非工作失效率间的关系

1 国外情况电子元器件在非工作状态下的失效率简称非工作失效率.非工作状态是指电子产品在没有承受工作应力或仅承受低水准工作应力下,不起规定功能作用的状态,如贮存、休眠等状态.     

元器件可靠性增长评估

在总结元器件可靠性增长工作经验的基础上,通过比较、分析可靠性增长寿命试验的前后结果和现场可靠性数据。提供了评估元器件可靠性增长效果的实用方法。应用GJB／Z 299B《电子设备可靠性预计手册》中各类元器件基本失效率随工作应力变化的关系,评估增长后在使用状态下的可靠性水平,为评估可靠性增长开拓了便捷的途径。文中以实例说明评估方法．以具体数据体现增长效果。     

某飞机APU进/排气门控制盒可靠性研究

对某飞机APU进/排气门控制盒的可靠性进行了分析,综合考虑器件、环境、电路设计等可靠性因素,依据国军标GJB/Z299C-2006《电子设备可靠性预计手册》中提供的方法,通过元器件可靠性预计法对控制盒的可靠性进行预计,并根据一般原理对提高控制盒可靠性的方法进行了探讨。对比及验证表明,控制盒设计合理,可靠性满足主机及系统要求。     

晶体管非工作状态可靠性预计

本文根据晶体管非工作期可靠性统计数据建立了我国晶体管非工作状态失效率预计模型，经验证，预计失效率与现场失效率相吻合，通过预计模型可预计晶体管在各类环境下的非工作状态失效率，尤其给出了我国晶体管普遍库房贮存失效率和贮存有效期。     

晶体管非工作期失效率预计

本文根据晶体管非工作期可靠性统计数据建立了我国晶体管非工作期失效率预计模型，经验证，预计失效率与现场失效率相吻合．通过预计模型可预计晶体管在各类环境下的非工作期失效率，尤其给出了我国晶体管普通库房贮存失效率和贮存有效期．     

可靠性预计及其准确性

针对可靠性预计准确性的争论,分析了可靠性预计的方法及标准的数据内涵,指出由于预计手册表征的是不同国家、地区的元器件可靠性水平,根据不同的预计方法(手册)来预计同一设备,因结果不同而得出可靠性预计不准确的结论是不妥当的.验证一个预计手册是否准确的唯一标准是被预计设备的现场MTBF值是否同预计值接近.影响预计准确性的因素包括预计手册本身的准确性、预计标准选取的合理性、预计数据的真实性、预计技术的准确使用等.在可靠性预计中,要正确地认识可靠性预计与其它可靠性工作的关系,不能把可靠性预计的作用同其它可靠性分析方法的作用相混淆;要客观地认识可靠性预计的局限性,认真区分预计误差与预计错误,不可以偏概全.     

加强可靠性设计,提高产品的固有可靠牲

本文介绍了某系统工程可靠性设计及采取的可靠性设计措施,从而大大提高了系统的固有可靠性。该系统工程的可靠性预计采用了“GJB299-87”电子设备可靠性预计手册”提供的元器件应力分析预计法。从该工程的可靠性预计结果、可靠性试验及使用情况看,采用的这些可靠性设计保障措施是行之有效的。     

电子式电能表可靠性预计及验证分析

随着电子设备复杂程度越来越高,电子设备的可靠性要求也越来越突出。由于影响电子式电能表不运行的因素比感应式电能表更多且更复杂,对电子式电能表的可靠性提出了更高的要求。在此以DTSF88型三相四线电子式复费率电能表为对象,介绍了电能表可靠性预计的基本方法。同时,分别采用元器件计数法和应力分析法对其进行可靠性预计,并用现场实用数据对预计结果进行了验证。可靠性预计作为一种可视化定量分析工具,为评价电子产品的可靠性提供了一种简单、实用、有效的途径。     

晶体管非工作期失效机理及可靠性预计

本文较全面地分析了影响晶体管非工作期可靠性的主要因素及其失效机理。进而,在广泛收集现场与试验可靠性数据的基础上建立了我国晶体管在非工作状态下的失效率预计模型。经实践验证,表明该模型的预计效果良好。同时还提供了我国晶体管的贮存可靠性水平与贮存有效期,这一研究成果对军用装备的非工作期可靠性预计、设计、储备、更新以及预防性维修等方面都有深远的意义。     

IEC TR62380可靠性预计通用模型分析

分析了国外典型电子元器件数据手册——IEC TR 62380《电子组件,PCBs和设备的可靠性预计通用模型》,并简要介绍了该预计手册中电子元器件的可靠性预计模型和方法.分析结果表明,模型直接考虑了环境的影响,并以设备任务剖面的热循环代替了难以评价的环境因子;在部件失效率中包含了与部件焊接相关的故障.     

“八五”可靠性工作回顾

1 引言自90年以来,可靠性管理办公室先后组织开展了军工电子产品承制单位与重点电子整机产品可靠性工作情况、军用电子元器件用原材料、零部件使用现状,电子元器件主要失效模式、失效原因与对策、军用电子整机装备现场使用可靠性、维修性等的基本情况调研和专项调查工作。在广泛调研的基础上,提出了“八五”可靠性工作规划和可靠性共性技术基础研究方向与重点建议;为部领导机关对可靠性工作的宏观决策提供了重要依据;加强了可靠性管理的体系建设和法规建设工作,成立了以可靠性专家组为核心、以多专业工作组为主体的可靠性管理体系,制定了《军工电子可靠性工作管理办法》和各个工作组的工作细则.根据科工委“大规定”的精神,制定了《军用电子元器件可靠性管理办法》和《军用电子装备可靠性管理办法》,为进一步促进电子行业可靠性管理的规范化起到了重要作用。并根据我国国情,结合重点工程,我们先后开展了《军工电子产品可靠性管理指南》、《军用电子元器件可靠性设计指南与评审导则》、《军用电子元器件可靠性控制技术指南》、《军用电子装备可靠性、     

中国赛宝可靠性数据中心

赛宝在可靠性信息跟踪处理、交换与应用研究方面成绩显著,曾获得十多项国家及省级科技进步奖。其中著名的国家军用标准GJB／Z299C《电子设备可靠性预计手册》是开展可靠性预计的唯一公认权威依据,达到国际先进水平。该标准广泛应用于军、民用电子设备的方案论证、可靠性预测和设计改进,获得了显著的社会和经济效益。     

基于元器件应力法的电能表可靠性预计报告

元器件应力法是目前最适于电子式电能表可靠性预计的工程实用方法。文中分析了单相智能电能表可靠性预计的基本目标,基于GJB/Z299C-2006手册建立可靠度模型,进行可靠性分配,计算元器件失效率和平均工作寿命,为定量预计电能表可靠性建立了基本框架。     

一般性问题

TN061 2003050001电子设备可靠性预计参数综合分析方法研究/任界,曾声奎:李晓阳(北京航空航天大学)]l宇航学报.一2003,24(3)一318一321如何调整元器件的参数以满足可靠性要求并达到最佳的效费比?传统的方法是绘制故障率随单个预计参数变化的曲线,然后根据变化的趋势分别进行调整,但该方法很难直又卿池反映出多参数故障率的综合影响,为了达到优化的目的.设计人员需要根据经验反复地调整各类参数.为此,该文结合电子产品可靠性预计软件,给出了直观分析各参数对电子设备可靠性预计结果综合影响的方法.图5参s(木)定的方法与步骤.该方法构成了故…     

高复杂度综合系统的可靠性预计

针对装备可靠性工作的焦点问题,在各个设备的可靠性要求的框架下,依据国家军用标准及美军标手册MIL-HDBK-217<电子设备可靠性预计手册>的应力分析法,采用比较实用、高效的ITEM ToolKit可靠性平台对某高复杂度仪器设备进行可靠性预计,在任务实施中探索一种比较实用、...     

国外最新可靠性预计方法综述

在分析研究国外近几年发布的典型电子元器件及系统可靠性预计模型及数据手册——RIAC于2006年发布的217Plus以及IEC-TR-62380（2004年发布）的基础上,系统地介绍了两本预计手册中电子元器件和系统的可靠性预计模型和方法。     

系统可靠度预测的基础——确定国产电子元器件失效率特性途径的探讨

电子设备可靠性在研究设计阶段从定性考虑转到定量研究,首要问题是必须具备电子元器件的失效率特性曲线,否则,预测系统可靠度就无从谈起。但在今后一段时期内,国产电子元器件还不可能提供失效率特性的完备数据。作者分析并提出采用美国军用手册“MIL—HDBK—217B”提供的数据,只要把元器件失效率模式中的“质量系数”改由国产元器件失效率鉴定试验中或在现(?)失效资料搜集中所得数据,经过变换取代就能成功。文中用了一些国产元器件在可靠性模底试验中的数据进行比较和分析;还简要介绍在对某一雷达系统实施可靠性工程中尝试用此方法编制了元器件失效率试用手册,对开展系统可靠度预测发挥了指导作用。