IEC TR62380可靠性预计通用模型分析

分析了国外典型电子元器件数据手册——IEC TR 62380《电子组件,PCBs和设备的可靠性预计通用模型》,并简要介绍了该预计手册中电子元器件的可靠性预计模型和方法.分析结果表明,模型直接考虑了环境的影响,并以设备任务剖面的热循环代替了难以评价的环境因子;在部件失效率中包含了与部件焊接相关的故障.     

COTS元器件在舰载装备中的可靠性风险分析

通过介绍COTS元器件在舰载装备中的典型应用，并对舰船所处的特殊环境进行分析．指出COTS元器件用于舰载电子装备系统中可能存在的主要风险，以及COTS技术的发展趋势和应用前景。     

国内外电子元器件质量等级体系研究

质量等级是电子元器件设计选择、采购验收、筛选和检验的重要依据,是影响元器件使用可靠性的重要因素之一。全面、深入地剖析了国内外电子元器件生产保证与可靠性预计的两种质量等级体系,给出了国内外详细的质量等级标识及对应关系．并对当今使用中存在的常见误区进行了更正说明。     

GaAs MMIC可靠性研究与进展

介绍了GaAs器件及MMIC的可靠性研究现状 ,给出了GaAs器件的几种失效模式和失效机理     

多芯片组件MCM的失效率预计研究

通过对多芯片组件(MCM)的结构、失效模式和机理的分析,提出了适合我国生产实际的MCM失效率预计模型.采用加速寿命试验和点估计法获得了膜电阻的基本失效率λRT和布线与工艺基本失效率λC;并采用极限应力对比试验获得了层间系数πcp.     

元器件信息平台建设与规范化处理技术研究

要推动元器件的质量控制,促进元器件工程化的应用与管理,必须建立畅通无阻的元器件信息通道。建立的元器件信息平台可为元器件的研制、选用和管理提供全面、准确、动态的信息,是提高产品可靠性,降低全寿命周期的一个重要基础性软件平台。还结合当前电子元器件的发展和工程实践,对元器件的分类、主要性能参数、生产供应商等信息进行规范化研究,为元器件信息平台的科学化和规范化提供技术支持。     

砷化镓微波单片集成电路可靠性预计模型研究

在对微波单片集成电路（MMIC）的失效模式和失效机理进行分析的基础上，提出了砷化镓微波单片集成电路（GaAsMMIC）的可靠性预计数学模型，并通过加速寿命试验确定了产品的基本失效率和预计模型温度系数πT0在大量统计工艺数据和文献数据的基础上，获得了可靠性预计模型中的其它系数。     

无铅电子元器件的锡须风险评估与对策分析

针对无铅器件的锡须问题,重点分析锡须的形成机理、诱发因素以及使用风险,探讨抑制锡须生长的有效措施和风险规避对策,为无铅电子元器件在军工、航空航天领域的高可靠使用提供借鉴依据和指导。     

国外最新可靠性预计方法综述

在分析研究国外近几年发布的典型电子元器件及系统可靠性预计模型及数据手册——RIAC于2006年发布的217Plus以及IEC-TR-62380（2004年发布）的基础上,系统地介绍了两本预计手册中电子元器件和系统的可靠性预计模型和方法。     

电子元器件综合优选信息系统

电子元器件是电子装备的基础,是保证装备高可靠性的基本单元.严格控制选用元器件的质量,保证和促进高质量元器件的应用是提高装备质量与可靠性水平的关键.综合优选信息系统为电子元器件的选用和管理提供全面、准确和动态的信息,是设计师、采购人员、维修和管理人员所需的软件工具.