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日前,德州仪器(TI)宣布其引脚兼容型高速ADS5546产品系列又添两款新成员——12与14位210 MSPS ADC。ADS5547与ADS5527能够在采样速率为210MSPS、输入频率为70MHz的情况下提供高达73.3dBFS的信噪比(SNR)与85dBc无杂散动态范围(SFDR)。这种高性能可带来众多优势,如为雷达与成像技术提供更大的范围和更高的分辨率,为数字预失真解决方案提供更精确的功率放大器,带来更高质量的视频与影像系统。 相似文献
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《电子设计应用》2007,(1)
通用IC德州仪器推出高性能小体积12位500 MSPS ADC德州仪器(TI)推出单通道12位500 MSPS流水线式ADC, ADS5463在采样速率为500 MSPS、输入频率高达500Hz时可提供64.5 dBFS的信噪比,从而为原来只能选择8位与10位精度的客户提供了高性能解决方案。ADS5463采用节省空间的14 mm×14 mm封装,能够满足多种应用的精度与速度要求,其中包括通信、放大器线性化、测量测试仪表,软件定义无线电以及雷达与影像系统等。此外,为客户提供了配合ADS5463使用的信号链,包括高速放夫器(THS4304、THS4509、THS4511与THS9000/9001),高速ADC(DAC5687)、时钟同步器以及抖动清除器(CDCM7005)。www.ti.com 相似文献
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设计了一种8位1.2V,1GS/s双通道流水线A/D转换器(ADC)。所设计ADC对1.5位增益D/A转换电路(MDAC)中的流水线双通道结构进行改进,其中设置有双通道流水线时分复用运算放大器和双/单通道快闪式ADC,以简化结构并提高速度;在系统前置采样/保持器中加设由单一时间信号驱动的开关线性化控制(SLC)电路,以解决两条通道之间的采样歪扭和时序失调问题。用90nm标准CMOS工艺对所设计的流水线ADC进行仿真试验,结果表明,室温下所设计ADC的信噪比SNR为32.7dB,无杂散动态范围SFDR为42.3dB,它的分辨率、功耗PD和采样速率SR分别为8位、23mW和1GS/s,从而满足了高速、高精度和低功耗的应用需要。 相似文献
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设计了一个用于数字PFC(功率因数校正)的12位精度的逐次逼近(SAR)A/D转换器.对DAC模块中出现的电容寄生问题进行了详细分析,针对性提出了一种1-6-5式的新型电容分段结构,并采用伪差分结构消除电荷注入和时钟馈通引入的一阶效应,使ADC性能有很大提高.上述设计在0.35μm CMOS工艺下完成,目前该芯片正在流片中.仿真结果表明,在采样频率为0.98MSPS,输入信号为50kHz时,新型分段结构ADC的信噪比SNR与无杂散动态范围SFDR较六六分段约有6%的提高. 相似文献
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《电子与电脑》2005,(3):52
居于数据转换技术领先地位的AnalogDevices近日推出的14位、80MSPS的ADC,提供了所有该等级产品中最佳的SFDR(Spurious Free Dynamic Rang,无噪声动态范围)。随着无线通信业者纳入多种无线标准的市场趋势,SFDR在增加话务量(Call Capacity)与降低断话率(Dropped Call)的角色上渐形重要。在针对改善先进3G与下一代4G无线基地台的稳定性与简化设计所最佳化的高速高分辨率ADC产品系列中,AD9444为第一个推出的成员,该组件可对70MHz的输入信号提供73.1dB的SNR与97dBc的SFDR,约较业界同级的ADC产品高出7dB。同时,由于该组件是根… 相似文献
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为满足航天电子系统对高速高精度16位A/D转换器的需求,设计了一种流水线型16位80 MSPS A/D转换器,内核采用“3+4+3+3+3+3+3”七级流水线,前端缓冲器用于减小第一级MDAC采样网络回踢信号对A/D转换器线性度的影响。采用环栅器件、N+/P+双环版图等设计加固技术。A/D转换器采用0.18 μm CMOS工艺,工作电源电压为3.3 V和1.8 V,在时钟输入频率为80 MHz和模拟输入频率为36.1 MHz时,ADC的功耗≤1.1 W、信噪比SNR≥73.8 dB、无杂散动态范围SFDR≥88 dBFS。电离总剂量150 krad(Si)辐照后,ADC的信噪比SNR变化量≤0.3 dB、无杂散动态范围SFDR变化量≤1 dB;Bi离子辐照下ADC的电流增加≤4 mA。 相似文献
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SoC(System-on-a-Chip)芯片设计中,由于芯片测试引脚数目的限制以及基于芯片性能的考虑,通常有一些端口不能进行测试复用的IP(Intellectual Property)核将不可避免地被集成在SoC芯片当中.对于端口非测试复用IP核,由于其端口不能被直接连接到ATE(Automatic Test Equipment)设备的测试通道上,由此,对端口非测试复用IP核的测试将是对SoC芯片进行测试的一个重要挑战.在本文当中,我们分别提出了一种基于V93000测试仪对端口非测试复用ADC(Analog-to-Digital Converter)以及DAC(Digital-to-Analog Converter)IP核的性能参数测试方法.对于端口非测试复用ADC和DAC IP核,首先分别为他们开发测试程序并利用V93000通过SoC芯片的EMIF(External Memory Interface)总线对其进行配置.在对ADC和DAC IP 核进行配置以后,就可以通过V93000捕获ADC IP 核采样得到的数字代码以及通过V93000 采样DAC IP 核转换得到的模拟电压值,并由此计算ADC以及DAC IP 核的性能参数.实验结果表明,本文分别提出的针对端口非测试复用ADC以及DAC IP 核测试方案非常有效. 相似文献
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《今日电子》2005,(2):93-100
具有优异SFDR的14位ADC14位模数转换器AD9444的采样速度为80MSPS,在70MHz输入条件下具有73.1dB信噪比和97dBc的无杂散动态范围(SFDR)典型值,高SFDR扩大了无线基站接收机的动态范围,同时提高服务质量并且降低成本。AD9444还具有±0.4 LSB微分线性误差(DNL)和±0.6LSB积分线性误差(INL),功率为1.2W。AD9444的LVDS输出可连接AD6636多通道宽带数字下变频器,特别适合于TigerSHARC处理器。此外,当AD9444和AD9510时钟分配器一起使用时,AD9444便可以获得一个优良的时钟源。ADIhttp://www.analog.com双通道RMS功率检测器… 相似文献