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Sn-Ag和Sn-Zn及Sn-Bi系无铅焊料 总被引:24,自引:5,他引:19
随着微电子组装技术的发展,研制新型的和实用的无铅焊料替代传统的Sn-Pb焊料已成为近年的研究热点。介绍了目前最常见的Sn-Ag、Sn-Zn和Sn-Bi为基体的无铅焊料并与传统的Sn-Pb焊料的性能进行了比较。 相似文献
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针对数种无铅焊料,如Sn-Cu、Sn-Ag、Sn-In与Sn-Ag-Cu四种合金,尤其是具应用潜力的共晶无铅合金与Cu、Ag、Ni三种基材的接触,整理分析了其重要的基础性质——反应润湿,可作为无铅焊料相关研究的参考。 相似文献
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无铅焊料的选择与对策 总被引:4,自引:1,他引:3
通过大量的数据信息分析了各研究机构在无铅焊料方面的研究成果,在目前流行使用的无铅焊料的基础上,进一步研究并比较了其中的Sn-Cu系列与具有专利限制的SnAgCu系列焊料在消费类电子产品组装的波峰焊工艺中使用的可靠性,同时研究并比较Sn-Ag系列焊料与SnAgCu系列焊料在回流焊工艺使用的情况.结果表明,Sn-Cu共晶焊料在消费类电子产品组装的波峰焊工艺中完全可以取代Sn-Ag-Cu系列焊料,同时满足使用要求;而同样技术成熟的Sn-Ag共晶焊料也完全可以取代SnAgCu系列焊料在回流焊工艺使用,焊点的可靠性与成本可以媲美SnAgCu焊料,而且该二元合金在使用维护以及回收利用方面具有相当的优势. 相似文献
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通过大量的数据信息分析了各研究机构在无铅焊料方面的研究成果,在目前流行使用的无铅焊料的基础上,进一步研究并比较了其中的Sn-Cu系列与具有专利限制的SnAgCu系列焊料在消费类电子产品组装的波峰焊工艺中使用的可靠性,同时研究并比较Sn-Ag系列焊料与SnAgCu系列焊料在回流焊工艺使用的情况。结果表明,Sn-Cu共晶焊料在消费类电子产品组装的波峰焊工艺中完全可以取代Sn-Ag-Cu系列焊料,同时满足使用要求;而同样技术成熟的Sn-Ag共晶焊料也完全可以取代SnAgCu系列焊料在回流焊工艺使用,焊点的可靠性与成本可以媲美SnAgCu焊料。而且该二元合金在使用维护以及回收利用方面具有相当的优势。 相似文献
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本文涵盖了自1995年至2005年所有涉及到无铅钎料的中国专利。报告的钎料范围是用于表面组装技术,有明确限定成分和成分质量比的Sn基无铅钎料(无铅焊料)。报告的主要内容包括无铅钎料专利的申请者情况及申请和授权情况;在申请专利钎料中Sn-Zn系、Sn-Ag系、Sn-Bi系和Sn-Cu系的数量分布情况以及钎料所含元素情况;国外申请者申请和授权情况;制备方法的情况。最后指出了我国的无铅钎料专利领域存在的问题和发展方向。 相似文献
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表面封装用无铅软钎料的接头强度及熔点范围的研究 总被引:6,自引:1,他引:5
研究了Bi的添加量,对电子表面封装(SMT)用Sn-Ag近共晶无铅软钎料钎焊接头抗拉强度和熔点及熔点范围的影响。随着Bi含量的增加,钎焊接头抗拉强度也随着增加,同时钎料的液固相线温度均降低。当Bi的含量达到5%时,抗拉强度增加快;Bi的添加量大于5%时,抗拉强度上升缓慢。在Bi的含量增加时,熔点温度范围也逐渐变宽,使得凝固时间变长,这对于表面组装中的电子元件与器件的焊接是非常不利的。故在Sn-Ag近共晶无铅软钎料中Bi的添加量,应加以适当的控制。 相似文献
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无铅可焊性镀层及其在电子工业中的应用 总被引:4,自引:0,他引:4
在电子工业中 ,为消除铅的污染 ,探讨了各种替代Sn-Pb合金的无铅可焊性镀层。论述了电镀Sn -Zn、Sn-Ag、Sn-Bi合金的方法及其镀层的可焊性能。 相似文献
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Development of nano-composite lead-free electronic solders 总被引:1,自引:0,他引:1
Inert, hybrid inorganic/organic, nano-structured chemicals can be incorporated into low melting metallic materials, such as
lead-free electronic solders, to achieve desired levels of service performance. The nano-structured materials technology of
polyhedral oligomeric silsesquioxanes (POSS), with appropriate organic groups, can produce suitable means to promote bonding
between nano-reinforcements and the metallic matrix. The microstructures of lead-free solder reinforced with surface-active
POSS tri-silanols were evaluated using scanning electron microscopy (SEM). Wettability of POSS-containing lead-free solders
to copper substrate was also examined. Steady-state deformation of solder joints made of eutectic Sn-Ag solder containing
varying weight fractions of POSS of different chemical moieties were evaluated at different temperatures (25°C, 100°C, and
150°C) using a rheometric solids analyzer (RSA-III). Mechanical properties such as shear stress versus simple shear-strain
relationships, peak shear stress as a function of rate of simple shear strain, and testing temperature for such nano-composite
solders are reported. The service reliability of joints made with these newly formulated nano-composite solders was evaluated
using a realistic thermomechanical fatigue (TMF) test profile. Evolution of microstructures and residual mechanical property
after different extents of TMF cycles were evaluated and compared with joints made of standard, unreinforced eutectic Sn-Ag
solder. 相似文献
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Wetting Kinetics of Eutectic Lead and Lead-Free Solders: Spreading over the Cu Surface 总被引:1,自引:0,他引:1
Hui Zhao Dinesh Reddy Nalagatla Dusan P. Sekulic 《Journal of Electronic Materials》2009,38(2):284-291
Wetting kinetics of Sn, eutectic Sn-Ag, eutectic Sn-Cu, and eutectic Pb-Sn was studied using real-time in situ monitoring of the triple-line movement, facilitated by a hot-stage microscopy system under a controlled atmosphere. Significantly
different kinetics of lead versus lead-free solders is documented. In case of the eutectic lead solder, four characteristic
spreading stages were identified. Spreading of lead-free solders features two stages with a sharp change of the spreading
rate at the early stages of rather insignificant spreading. Scanning electron microscopy and energy-dispersive x-ray spectroscopy
analysis of the resolidified solder surface within a halo region is discussed. 相似文献