双芯自聚焦透镜耦合分析

利用光线光学的原理，提出了求解双芯自聚焦透镜耦合损耗的数学模型，利用该模型得出了自聚焦透镜耦合损耗与双芯间距的关系曲线。实际制作的双芯自聚焦透镜耦合系统，两路光纤到光纤的耦合损耗分别为０．７９ｄＢ和０．８５ｄＢ。     

Vc＋＋6．0中如何利用CForm View类实现单文档多视图界面

介绍了Vc 6．0中利用CFomView类如何实现单文档多视图界面，对实现原理进行了详细的论述，并给出了实例。     

基于VC4.0的Windows95联机帮助系统的研究和实现

在分析Ｗｉｎｄｏｗｓ９５帮助系统组成结构，工作原理和技术要点的基础上阐述了利用Ｗｏｒｄ ６．０，ＶＣ４．０制作帮助系统的过程和方法。     

用调频原理的光纤应变测量技术

耦合腔半导体激光器具有频率调制特性，本文根据这一原理，讨论了利用外差检测技术的Ｍｉｃｈｅｌｓｏｎ型光纤应变测量原理及方法．该方法避免了一般干涉型光纤传感器存在的位相正交问题，可实现大动态范围高精度的应变测量．     

Internet上的虚拟现实建模语言--VRML

回顾了虚拟现实建模语言ＶＲＭＬ的发展历程，介绍了ＶＲＭＬ２．０的基本结构及利用其实现交互操作的原理，方法，并给出了一个具体实例。     

用窄带滤光片作为调谐元件的外腔半导体激光器

分析了窄带滤光片的调谐原理，拟合了一块实际滤光片的透射率函数，它是理论的透射率函数和一个洛仑兹函数的乘积。利用１．３μｍ的外腔式调谐激光器实现了１２７２．５ｎｍ至１２９１．７ｎｍ范围内的不连续宽带调谐。     

基于FDTD技术计算目标远场RCS方法的Matlab实现

利用LOVE场等效原理．实现了从近场到远场的变换，很好地解决了应用时域有限差分法（FDTD）计算目标远场RCS（远场雷达散射截面）的问题，并应用Marlab编程成功实现了此算法．最后利用该方法求解了三个实例中的远场RCS问题．并将其计算结果与理论或其他计算方法所得的结果进行了比较．结果吻合较好．     

实用故障树定量分析原理与应用实例

阐述了实用故障树定量分析原理。并介绍了相应的实例。基于Fortran PowerStation平台．利用Fortran编程计算出结果，得出了具有实用性的结论。对于常见的可靠性问题，具有普遍的指导意义。     

基于多种EDA工具的ASIC设计流程

本文结合 RISC-CPU实例，采用华虹NEC提供的0．35μm3．3v的工艺库，介绍了利用多种EDA工具进行设计ASIC的实现原理及方法，其中包括设计输入、功能仿真．逻辑综合、时序仿真．布局布线．版图验证等具体内容。并以实际操作介绍了整个ASIC设计流程。     

基于地形熵的地形匹配算法研究

利用地形熵算法进行粗配。精配，从而实现地形匹配定位．对于在地形起伏剧烈的区域该算法的优势更为明显．对另一种结合了地形熵算法的优点和MAD算法精度高的特点方法进行匹配仿真试验，分析了匹配的原理，模拟出了仿真用地形数据，对仿真结果进行讨论．结果表明，两种算法均达到了较好的匹配性能指标．     

方体压电谐振器共振频率电调谐技术

受环境因素的影响,压电谐振器的共振频率会发生漂移.调谐技术因采用特定的手段主动调节共振频率而得到广泛应用,但传统附加质量块、激光烧蚀等机械调谐技术费时费力,灵活性不好.针对方体压电谐振器该文提出了一种激励信号幅值调谐和直流调谐的电调谐方法,可精密调节谐振器的共振频率.设计了一种基于ZYNQ系列主控芯片的数字化测控电路,...     

基于FPGA的DDS的设计与实现

直接数字频率合成技术，即DDS，是一种新型的频率合成技术和信号产生方法。其电路系统具有较高的频率分辨率，可以实现快速的频率切换，并且在改变时能够保持相位的连续，很容易实现频率、相位和幅度的数控调整。针对目前市场上的DDS在使用中存在的一些问题，介绍了一种利用Altera公司的低成本FPGA“飓风”系列（EP1C6）实现DDS的具体方法。     

集成锁相环芯片Si4133的应用及调试

利用集成锁相环芯片Si4133设计了434 MHz的超外差发射/接收机本振.介绍芯片外围调整振荡回路总电感来设置中心频率和输出匹配的方法;利用芯片的I2C总线接口对N、R两个分频寄存器进行编程,讨论影响锁相环输出相位噪声的三个主要因素及控制方法.利用DLPortIO软件对电路进行了调试,给出了实际电路的输出信号频谱测试结果.     

OFDM系统中联合信道估计的载波同步算法的研究

针对采用正交频分复用（OFDM）调制的欧洲数字电视地面广播系统（DVB—T），详细分析了剩余载波频偏对信道估计的影响，并根据DVB—T特有的信道估计方式提出了与信道估计相结合的频域相位调整和时域补偿两种同步方案，仿真结果表明，在多径信道条件下，这两种同步方案能完全消除剩余载波频偏对信道估计的影响，且具有令人满意的性能。     

Harmonics at Millimeter Wavelengths

Two techniques for obtaining millimeter waves with sufficient power to make physical measurements have been investigated at the Columbia Radiation Laboratory. The first in point of time was to use the harmonics of the fundamental frequency directly emitted by a magnetron when it is in oscillation. Harmonics up to wavelengths of 1.25 mm have been observed. The only advantage of the magnetron is in the ease of adjustment. An operator of moderate experience should be able to produce 1.5 mm radiation within a few hours using this technique. The other method in use is to frequency multiply the power emitted by a klystron by means of a silicon-tungsten contact used as a non-linear device. This method ps produced 1.5mm wavelength radiation at Columbia and wavelengths up to 0.77 mm at Duke University. It has the advantages that the radiation is stable in power and frequency, is monochromatic, and also is tuneable. The price paid is in a considerably greater time of adjustment and alignment, a few weeks being not at all uncommon.     

PCM串行数据流同步时钟提取设计

为了产生语音调度系统中数据接收端异步接收PCM30／32路一次群串行数提流所需同步时置瑚目的,采用以分频计数器为基础模块,辅以相位校正和误校正处理模块从已知速率PCM数据流中提取同步时钟信号的方法,利用可编程逻辑器件和VerilogHDL硬件描述语言对该方法进行实现和仿真验证。结果表明该方法能够有效地利用已有串行数据流产生具备合适相位的同步采样时钟信号。     

一种新的基于互相关的同频同相调整方法

针对目前常用同频同相调整方法的缺陷(如受限于调制信号类型),提出了一种基于互相关的同频同相调整方法.对新方法进行了严密的数学阐述,表明该方法不受信号调制类型的影响,并分别基于MATLAB仿真平台和实际硬件测试平台验证了新方法的可行性和有效性.     

基于频域数字散斑相关方法的面内微位移测量

使用传统数字散斑相关方法对物体面内微小位移进行测量时,由于受到噪声影响和算法本身的局限,会出现测量精度低、数据处理速度慢等问题。针对以上缺点,应用频域数字散斑相关方法,通过散斑记录和MATLAB软件编程,实现了物体面内微小位移的测量。这种方法不但弥补了传统数字散斑相关方法的不足之处,而且简化了一般光学测量过程中的反复调校过程。理论分析及实验结果表明,应用频域数字散斑相关方法测微位移的系统结构简单、处理速度快、精度高,能够达到微米级,相对误差小于1%。     

扩大感光动态范围的象限光电传感器的研究

介绍了一种可调整感光动态范围的象限传感器的设计。该传感器采用 0 .6微米 CMOS标准工艺制造 ,包含有 1 6× 1 6有源光电管阵列 ,相关二次采样 (CDS)电路 ,输出缓冲放大电路和数字控制电路几个主要功能模块 ,实现了象限传感器与 CMOS处理电路的兼容集成。该传感器对目标单帧传感的感光动态范围为 60 d B,通过变频二次扫描进行感光动态范围的调整后 ,传感器总的感光动态范围可以提高为 84d B。     

介质同轴谐振器的频率测试方法

介绍了一种测量介质同轴谐振器频率的新方法，即在谐振器的开路端串联一高品质因数Q电容，用标量网络分析仪测出其串联谐振频率，从而得出谐振器的频率。该方法操作简单，对仪表的要求不高，适合于规模生产，特别适合于介质滤波器的调试。