电子探针分析用合金标准样品的研制

本文介绍电子探针分析用合金标准样品的制作方法。其中包括:(1)合金材料的熔炼方法。(2)合金材料成份的测定方法。(3)合金标准样品的制作方法。(4)合金标准样品均匀性和稳定性的检验方法。(5)用电子计算机自动测试标准样品均匀性和稳定性的程序。(6)自己研制的几种合金标准样品和部分检验数据。(7)标准样品的保护和修理方法。     

电子探针分析用人工晶体标准样品的研制

本文介绍电子探针分析用人工晶体标准样品的制作方法。其中包括:(1)人工晶体的制作方法。(2)晶体标准样品的制作方法。(3)材料结构对于标准样品信号的影响。(4)自己研制的几种人工晶体标准样品。(5)使用标准样品进行定量分析应注意的事项。     

电子探针、离子探针和扫描电镜样品的制备方法

本文主要介绍电子探针、离子探针和扫描电镜样品的技术要求和几种制样方法。电子探针和离子探针制样方法包括:电炉加热压片法、铝或铜管灌铸导电胶粘结法、制光薄片法、粉末样品制样以及研磨和抛光技术等。扫描电镜样品制备着重介绍微粉样品的粘结。此外本文还介绍了各种方法有关的环墨导电胶的原料和配制方法。     

电子探针分析标样概论

文中论述了电子探针标准样品在定量分析中的重要作用,概述了统一探针定量分析计量标准的标准化工作:统一术语和概念;制定规范;制备、发放标样以及确立定量分析标准化方法。首先提出了探针标样的6个类,四个型和种的概念以及按发放单位来分级的办法,即国际、国家、部门三级。相应地编制了探针标样周期表以指导制备标样方向和定量分析。最后,对如何制备符合“GB—4930—85电子探针分析标准样品通用技术条件”的标准样品提出了应注意的几个问题,即:标样材料选择,清洁性,代表性和一致性,定值和配套。     

电子探针定量分析地质样品所用标样

本文介绍了电子探针在分析地质样品中所用的标样:包括标样种类;天然矿物标样的制取;标样的安装和定量分析时标样的选择。     

我国首批电子探针分析国家标准样品(GSB)与研究标准样品(MAS)

继我国自己制订的《电子探针分析标准样品通用技术条件》由国家标准局批准作为国家标准GB—4390—85正式发布,我国首批电子探针分析国家标准样品(GSB)也由国家标准局审批发放,与此同时,全国探针分析标准样品标准化技术委员会亦宣布推荐了第一批电子探针分析研究标准样品(MAS)。我国在制订探针(微束)分析标准样品统一技术标准和建立比较完整的探针(微束)分析标准样品系列方面有了一个良好的开端,这是我国微束分析技术界盼望已久的事情,也是全国电子探针分析有关单位和同行在国家标准局领导支持下,在中国电子显微镜学会,中国矿物岩石地球化学学会微束分析委员会协调组织下,相互合作共同努力的结果。标准样品,或称标准参考物质(Standard Reference Material)在分析科学技术中的重要地位和作用是不言而喻的。利用标准样品进行定量分析的实验方法仍然是各门分析技术中解决定量分析问题所普遍使用并至今实际上尚不能被替代的基本方法。尤其是在近二十年     

电子装备常用材料沙漠天然环境试验技术研究

简要地叙述了电子装备材料沙漠天然环境试验的重要性.介绍了试验样品选择、制作方法,以及电子装备常用材料沙漠天然环境的试验及评价方法,给出塑料、涂料和电线电缆样品曝露12个月的试验结果.     

钢中氮含量的电子探针定量分析

微区低含量碳、氮等超轻元素的定量分析在材料研究中有着重要意义。在低含量碳电子探针定量分析方法研究的基础上,进一步开展了低含量氮的电子探针定量分析工作。本方法着眼于提高分析精度、准确度、降低检测极限。通过实践检验,得到了令人满意的结果。一、操作参数选择:1.加速电压:由于轻元素X射线的电离分布函数与重元素不同,同时,轻元素特征X射     

矿物电子探针标准样品的研制和化学成份定值

叙述了研制以天然矿物为电子探针标准样品的工作中,关于物质来源、样品均匀度检测和化学成份分析定值等方面的情况。文中列举实例,用来讨论一些实际问题。     

稀土矿物的电子探针分析

本文制定了用直流电弧法制备单一的稀土元素氧化物熔融探针标准样品的方法。概括地介绍了α-校正因子法的要点以及推广应用到消除稀土元素谱线之间的干扰。使稀土矿物的电子探针分析成为可能并得到了与其他方法相一致的分析结果。     

薄膜的截面TEM样品制备

薄膜材料的厚度仅为微米量级或者更薄，对其微结构的研究十分困难，许多表征方法难以采用。透射电子显微分析（TEM）是薄膜材料微结构研究最重要的手段之一。尽管采用TEM平面样品研究薄膜的微结构在样品制备方面相对容易，但由于薄膜依附于基材生长，且通常具有择优取向和柱状晶生长等微结构特征，因而采用截面样品从薄膜生长的横断面进行观察和研究，可以得到更多的材料微结构信息。但是薄膜的TEM截面样品制备过程较为繁杂，难以掌握。已有的文献主要介绍了Si基片上生长薄膜的TEM截面样品制备方法，对金属基片薄膜截面样品的制备方法介绍不多。     

全国地学材料电子显微学会议（2006）通知

全国微束分析标准化技术委员会电子探针扫描电镜分技术委员会与《电子显微学报》编辑部定于2006年9月17~22日在新疆乌鲁木齐联合召开全国地学材料电子显微学会议。大会学术交流内容扫描电子显微镜、电子探针、透射电子显微镜、扫描探针显微镜(包括STM、AFM等)、激光共聚焦显微镜等各种微束分析技术在广义地学领域,包括地质学、石油地质勘探与开发、无机矿物材料(包括纳米材料)、非金属矿产开发研究、矿产评价与综合利用、矿物晶体结构、生物矿物、环境矿物学等方面的基础和应用研究成果;电子显微学相关仪器、技术和实验方法的发展与改进;…     

五磷酸钪晶体用作电子探针标样的研究

我们提供的五磷酸钪晶体用作电子探针标准样品的研究情况,简单介绍如下: 样品的制备:五磷酸钪晶体(ScP(?)O_(14),由于Sc的性质类似于其它稀土元素,所以采用了蒸发溶液法生长。该法的基本原理是磷酸脱水聚合,ScP_5O_(14)的浓度不断增加,而从多聚磷酸溶液中析出。     

倒装芯片凸点制作方法

倒装芯片技术正得到广泛应用，凸点形成是其工艺过程的关键。介绍了现有的凸点制作方法，包括蒸发沉积、印刷、电镀、微球法、黏点转移法、SB2－Jet法、金属液滴喷射法等。每种方法都各有其优缺点，适用于不同的工艺要求。可以看到要使倒装芯片技术得到更广泛的应用，选择合适的凸点制作方法是极为重要的。     

岩石矿物中氧化铁电子探针价态定量分析方法的研究

本文主要论述利用标准曲线法测定矿物中价态铁含量的电子探针定量分析方法。电子探针定量分析含氧化铁矿物时,氧化铁的成分只能以＂FeO＂形式给出全铁的含量,而不能准确地把＂Fe2O3＂和＂FeO＂各自的百分含量分开,这就给地质研究人员对于地质环境,矿物的成因,成岩作用及成岩后生作用等方面的研究带来很多困难。根据地质研究的需要,作者进行了此方法的研究及实验。利用天然菱铁矿和赤铁矿配制含有不同比例的FeO和Fe2 O3的标准样品。用电子探针测定这些标样中铁元素的Lα和Lβ的强度值,经过ZAF法修正,得到ILα/ILβ的强度比值,由Lα和Lβ线系的强度比和标样中价态铁的浓度比绘制成标准曲线。样品中铁元素的价态值,根据电子探针定量分析＂FeO＂数据及ILα/ILβ的比值,由此曲线求得FeO和Fe2O3的定量分析结果。     

碲镉汞晶体组分定量分析和评价的电子探针方法

本文介绍我们在国产电子探针基础上建立的Hg_(1-x)Cd_xTe晶体组分测定和评价的规范。几年来应用于大量样品的例行测试中,达到了快速准确的要求。实验方法。所用仪器为DX-3A型扫描电镜,附有波长分散型X射线谱仪。电子束加速电压为25kV。X射线取出角为30°。样品吸收电流为50nA。用CdTe作为标准样品。采     

内养护对硬化水泥浆体显微硬度影响的统计分析

显微硬度测试方法已经被广泛应用在包括金属、陶瓷及水泥等材料微观力学性能的研究中。这种方法在研究水泥等脆性材料时,通常数据离散性非常大,而现有研究通常的做法是假定显微硬度值服从正态分布,然后用剔除异常值后的平均值来表示显微硬度,这种做法是非常值得怀疑的。本文以使用或不使用内养护条件下由不同细度水泥制备的硬化水泥石为研究对象,运用统计方法检验了样品的显微硬度测试值的统计分布模型,结果发现所有样品的显微硬度数据最符合3-因素对数正态分布模型,而不是正态分布;在此基础上,定量比较了内养护对不同细度水泥石显微硬度的影响规律。由此建议在检验显微硬度统计分布模型基础上,采用平均值及其95％置信区间值统计参数来定量比较不同水泥石的显微硬度大小。     

真空电子技术

0462,1 02050064LaZO3一M。阴极材料热分析研究/王金淑,周美玲,左铁铺,张久兴,聂柞仁(北京工业大学)11北京工业大学学报.一2 002,28(1)一103一106采用热分析,X射线衍射、扫描电镜等方法对MO一LaZO3阴极中LaZO3与MoZC的反应情况进行了研究.实验结果表明:LaZO3与M oZC在高温下可以发生化学反应,产生单质La和金属Mo;反应物存在状态不同,二者发生反应的温度不同.粉末样品中二者反应温度(1203K)低于阴极丝中二者的反应温度(1533K).图4参11(午)高亮度高分辨小屏面CDT的黑底制作常见的不良的原因分析及应采取的对策;它有别于一般CDT黑…     

新颖半导体二硫化钼

描述了一种新颖的、单层厚度0.65 nm并具有直接带隙约为1.8 eV的半导体材料———二硫化钼(MoS2)的研究现状。过渡金属二硫化物半导体MoS2具有电气、光学和催化剂性质以及重要的干润滑性能,具有薄而透明性质的单层MoS2半导体还将辅助石墨烯的应用,如:光电子学和能量储存。主要介绍了材料的半导体性质、半导体器件的实验样品———金属半导体场效应晶体管及其器件结构、特性表征。最后,还指出相关材料和器件研究所面临的挑战,例如:如何获得低成本制备批量的材料、材料掺杂、原理分析以及工艺途径等。     

光时域反射仪(OTDR)的研制

研制出了一台初步达到市场商品化标准的光时域反射仪.阐述了光时域反射仪的工作原理和制作方法,对它的每个组成部分,包括光器件、电子器件以及测量软件都做了说明.通过对光纤样品的测量,分析了这台光时域反射仪的功能与测量效果.