固体钽电解电容器用导电浆中银粉的选择

通过对研制实践的总结,阐述了用于固体钽电解电容器导电浆中银粉对浆料性能的影响,对试验数据进行了分析和讨论。确定了用于导电浆中的最佳银粉性能指标。根据使用要求进行最佳的银粉颗粒搭配,使导电浆的各项性能指标达到最优化,满足钽电解电容器的使用要求。     

NbO电解电容器的结构及制造工艺新进展

较之钽电解电容器,NbO电解电容器电性能更好且价格较低.介绍了NbO电解电容器的结构和制造工艺.从材料及器件制备工艺两方面综述了国内外最近关于NbO电解电容器的研究新进展:通过镁蒸气两步还原法制备流动性较好的NbO粉体;对NbO粉进行掺杂和改性处理;在石墨层和银层中加入导电聚合物层,改善漏电流性能.最后对NbO电解电容...     

导电聚合物PEDT对固体钽电解电容器频率特性的改善

介绍了采用具有高电导率(1~500 S/cm)、热稳定性好的德国拜尔公司生产的导电聚合物PEDT(聚-3,4乙烯二氧噻吩)单体,提纯后取代MnO2,在国产固体钽电容器芯子上制作PEDT阴极层的过程,降低了钽电容器的等效串联电阻,改善了钽电容器的频率特性,拓展了钽电容器的频率应用范围。     

有机固体电解质钽电容器的失效机理及预防措施

有机固体电解质钽电容器具有等效串联电阻(Res)小,温和的失效模式和高频特性好等特点,在很多电子信息领域都显示出独特的优势。结合传统钽电解电容器的失效机理和大量的统计实验结果,对有机电解质钽电容器的失效模式进行了详细分析,指出了介质氧化膜的晶化及导电聚合物膜层失效是导致有机钽电容器失效的主要因素,并提供了相应的解决方案,为高可靠性片式有机钽电容器的生产提供了技术支撑。     

导电高分子钽电解电容器的研究进展

综述了导电高分子钽电解电容器的最新研究进展。比较了导电高分子钽电解电容器和二氧化锰钽电解电容器在结构、制造工艺和性能方面的差别。还介绍了聚吡咯(PPy)、聚乙撑二氧噻吩(PEDOT)和聚苯胺(PANi)钽电解电容器的研究状况。导电高分子膜的形成工艺对钽电解电容器性能影响很大。改进和开发新型阴极材料是降低钽电解电容器等效串联电阻Res的重要途径。     

超薄型钽浆阳极电容器的制备及性能分析

高体积效率、超薄型化是实现钽电容器进一步小型化的有效技术途径，基于丝网印刷技术，提出了一种新的钽阳极制作方法，即首先将高比容钽粉制成浆料，然后印刷在钽箔上进行高温烧结作为电容器的阳极片，接着利用传统的阳极氧化方法生成五氧化二钽(Ta2O5)作为电容器的电介质，并通过多次浸渍硝酸锰、高温热分解循环被覆二氧化锰(MnO2)作为阴极材料，该方法制备的电容器其钽芯厚度最薄可以达到 0.2ｍｍ，体积效率相比传统技术提高了30％，而且经过 125℃、2000ｈ寿命测试，试 验样品各项电性能参数稳定，基于丝网印刷工艺技术制造钽浆阳极的方法将加速钽电容器小型化和薄型化的发展。     

温度对全密封固体钽电解电容器电容量变化的影响

全密封固体钽电解电容器的正温电容量变化超过标准规定值已成为该类型产品不合格的主要原因。本文分析了影响全密封固体钽电解电容器正温电容量变化的众多因素，阐述了全密封固体钽电解电容器电性能参数与温度变化的关系，提出了改进全密封固体钽电解电容器正温电容量变化的途径。     

导电聚合物PEDT对固体钽电解电容器性能的影响

采用具有高导电率(1~500 S/cm)、热稳定性好的导电聚合物 PEDT(聚 3,4-乙烯二氧噻吩)取代 MnO)_2,在固体钽电解电容器芯子上制作 PEDT 阴极层。主要研究了化学聚合条件对电容器性能的影响,结果显示聚合温度对电容器的损耗有一定的影响;氧化剂与单体的体积比保持在 3~6 范围内有利于降低 Res值,达到 0.02~0.08 Ω,并改善了钽电容器的频率特性。     

固体钽电解电容器成型工艺的改革

<正> 一、引言 固体钽电解电容器无论是电气性能还是可靠性都较液体钽电容器为佳。但就目前来说,如何进一步改善和提高固体钽电解电容器的电性能及降低其成本,仍然是有待继续研究的课题。 固体钽电解电容器的生产工序繁多,产品的制成往往需要经过称粉、压制成型、真空烧结、赋能、被膜、浸石墨,喷金和装配     

聚合物固体片式铝电解电容器研制成功

福建国光电子科技股份有限公司与西安交通大学最近合作研制出PA-CAP系列聚合物固体片式铝电解电容器。此系列铝电解电容器具有超越现有液体片式铝电解电容器和固体片式钽电解电容器的电性能、良好的温度稳定性和阻抗频率特性，可广泛应用于等离子电视机、液晶显示器、数字机项盒等高端电子设备中，也适用于手机等便携设备。     

二步聚合工艺在固体钽电容器生产中的应用

采用二步聚合工艺,在固体钽电解电容器阳极体上被覆具有高电导率、热稳定性好的导电聚合物PEDT(聚3,4-乙烯二氧噻吩)取代了MnO2阴极层,研究了工艺参数对电容器性能的影响。结果显示:电容器的tanδ和Res随聚合温度增加而增加;低含量的氧化剂(质量分数20%)有较好容量引出效果,高含量的氧化剂(对甲基苯磺酸铁正丁醇溶液)(40%)可以有效增加电容器外层聚合物的沉积。     

提高钽电容器可靠性的一种新老化方法

通过对钽电容器自愈机理的研究,针对传统老化方法不能彻底剔除电介质有缺陷的钽电容器的缺点,提出一种新的老化方法并对多种钽电容器进行老化实验。新方法可以有效识别并100%剔除电容器不良品,钽电容器生产率提高了50%,钽电容器失效率达到0.1%/(1 000 h),可靠性提高。经验证,这种新老化方法适用于固体电容器、片式钽电容器、聚合物钽电容器和液体钽电容器等多种元件的老化筛选。     

钽电容器用石墨导电胶的研究

以石墨粉和热固性树脂混合配成导电胶,分析了石墨粉、稀释剂的用量,固化温度,固化时间等与电阻的关系。结果表明:当石墨含量在25%～35%,稀释剂含量在20%～25%(均为质量分数)时,在150℃下固化2～3 h得到的导电胶导电性最好,能够满足作为钽电容器阴极引出材料的需要。并用“逾渗理论”解释了导电胶的导电机理,与实验所得结论相符。     

PA-Cap在滤波电路中的应用研究

以微机开关电源的滤波电路(工作频率为64.5kHz)来研究PA-Cap(片式聚合物铝固体电容器)在实际电路中的应用情况。实验发现用实测容量28.6μF的PA-Cap代替实测容量为960μF的液体铝电解电容器,可以得到同样的滤波效果;甚至可以用60μF的PA-Cap代替原电路中的960μF的电容和350μH的电感也得到同样的滤波效果。如果用片式二氧化锰钽电解电容,则分别需要127μF和192μF。其主要原因是采用高电导率的聚合物作阴极的PA-Cap具有优异的阻抗频率特性。     

低阻抗聚苯胺铝电解电容器的研究

采用化学氧化法合成可溶性导电聚苯胺,作为电容器的阴极而取代传统的工作电解液阴极,研制了一种新型导电高分子固体铝电解电容器。其额定工作电压DC6.3V,标称电容量1000μF,tgδ≤0.036(100Hz,+20℃),漏电流IL≤20μA。此种电容器频率-阻抗特性优良,阻抗极低Z≤0.015?(100kHz,+20℃),并具有良好的温度特性和自愈特性。     

Failure modes of tantalum capacitors made by different technologies

Tantalum capacitor failure modes have been discussed both for the standard manganese dioxide cathode and the new conductive polymer (CP) type. For standard tantalum in the normal operation mode, an electrical breakdown can be stimulated by an increase of the electrical conductance in channel by an electrical pulse or voltage level. This leads to capacitor destruction followed by thermal breakdown. In the reverse mode, we have reported that thermal breakdown is initiated by an increase of the electrical conductance by Joule heating at a relatively low voltage level. Consequently, a feedback cycle consisting of temperature–conductivity–current–Joule heat–temperature, ending with electrical breakdown was created. Both of these breakdown modes possess a stochastic behavior and can be hardly localized in advance. CP capacitors have shown a slightly different current conductivity mechanism compared to standard tantalum capacitors. The breakdown of CP dielectrics is similar to avalanche and field emission breaks. It is an electromechanical collapse due to the attractive forces between electrodes, electrochemical deterioration, dendrite formation, and so on. However, some self-healing of the cathode film has been reported. This can be attributed to film evaporation, carbonizing or reoxidation. Not all of the breakdowns of CP capacitors can lead to self-healing or an open circuit state. Short circuits can also occur.     

钽电解电容器的失效及对策

介绍了钽电解电容器的常见失效模式，结合我厂军品电源模块使用的CAK45钽电解电容器，进行了失效率估算，并对钽电解电容器使用中常见的失效模式提出了具体的预防对策，最后对钽电解电容器的加速寿命试验结果进行了分析。