有源电路和无源电路术语的讨论

本文讨论了理想电路、实际电路中有源电路和无源电路术语的精确含义和受控源的概念,指出理想电路中有源电路和无源电路术语容易引起歧义;举例说明含有有源元件的理想电路既可以是有源电路,也可以是无源电路。笔者提出了对理想电路应使用理想有源电路和理想无源电路术语,对实际电路应使用实际有源电路和实际无源电路术语的观点。     

数字机开关电源输出电路检修方法与实例

故障类型及检修方法数字机开关电源由输入电路、主变换电路、稳压控制电路和输出电路等组成,输出电路结构简单,以整流、滤波电路构成基本电路,因机型不同输出电路稍有差别,有的机型在基本电路基础上增加了稳压电路,有的机型增加了     

电子线路学习方法(二十一) 第十三讲 保护电路分析方法

在许多电子电器整机电路中,需要多种形式的保护电路,以保障电路的工作安全.一、三种基本保护电路分析方法保护电路主要有下列三种形式:(1)信号切断式保护电路.(2)电源切断式保护电路.(3)负载切断式保护电路.1.信号切断式保护电路分析方法如图1所示是信号切断式保护电路方框图,主要有信号控制电路、过载检测与放大电路等构成....     

高功率因素AC-DC变换电路

根据要求本文设计了220VAC转36VDC的变换电路。变换电路由MSP430F149主控电路,整流电路,PF校正电路,ADUM4223驱动电路,Boost升压电路,Buck降压电路以及过流保护电路组成。本变换电路工作稳定,效率高,使用了低损耗整流,具有较高的参考与开发价值。     

便携式电子产品的电路保护

电路保护是设计的重要工作 在电子产品中最重要的设计工作是电路设计.电路可分为两类:功能电路和保护电路.功能电路(如电源电路、振荡器电路、A/D变换电路等)是用来实现电子产品各种功能的;而保护电路(过流保护电路、过压保护电路及过流,过压保护电路)是用来保护功能电路,以实现电子产品的安全性、可靠性及耐用性的.     

电子线路学习方法（四）第二讲电容电路分析方法（上）

一、纯电容串联电路分析方法及思路培养 只有电容的串联电路称为纯电容串联电路,如图1所示是纯电容串联电路,电路中C1和C2串联。纯电容串联电路是串联电路的一种,所以它与电阻串联电路有着许多的共性,但是电容与电阻的特性不同。     

低噪声应力采集电路的设计

本文设计了一种低噪声的应力采集电路。通过对应力采集电路的噪声分析,提出了采集电路中噪声消除的方法,电路包含电桥电路、信号放大调理电路、数据转换电路。通过实验测试,消除了电路中的噪声,稳定了ADC的输出,实现了应力在低噪声下的采集。     

电子线路学习方法（二）第一讲电阻电路分析方法（中）

电阻电路是电子电路中最为基本的电路,使用量也最多,这里将根据不同类型的电阻电路进行电路分析方法和思路讲解。一、电阻电压供给电路分析方法与思路培养电阻可以将直流电压或交流信号电压加到电路中的任何一点,这是电路中最为常见的电路之一。     

有源OLED全p-TFT屏上驱动电路设计

为了提高显示屏的成品率,降低成本,提出了一种由全p沟道TFT构成的屏上驱动电路。基础电路部分包括反相器和移位寄存器,屏上驱动电路主要是行驱动电路和列驱动电路。行驱动电路和列驱动电路基本上都是由反相器和移位寄存器构成,全部采用p-TFT来构成驱动电路。该驱动电路工作正常,能够实现CMOS驱动电路的功能,驱动OLED器件正常发光。通过仿真验证和理论分析表明该驱动电路不仅性能稳定而且成本低、成品率高、外接引线少及外围驱动电路复杂性低。     

航空400Hz交流电源电压高精度采集电路设计

文章设计了一种航空400Hz交流电源[1]电压高精度采集电路,该电路由比例放大电路、整流电路、滤波电路、A/D转换电路组成。采用比例放大电路将飞机上高压交流信号转换为电路可采集范围,经整流电路将交流信号转换为直流信号,通过滤波电路将直流信号中的交流分量滤除,最后A/D转换电路实现模拟信号的数字转换。文章设计的电路能够满足高精度航空电源采集需求,具有采集精度高、低成本等优点。     

基于FPGA的集成电路测试系统设计探讨

随着集成电路的功能以及各种参数的大量增加,要想保证电路的可靠性,就必须重视集成电路的测试功能,在传统的测试过程中,对集成电路的测试是依靠有经验的测试人员使用信号发生器、万用表和示波器等仪器来进行测试的.这种测试方法测试效率低,无法实现大规模大批量的测试.为此,本文分析了基于FPGA集成电路测试系统的优越性,并选取某集成电路的老化测试系统设计为例进行重点探讨.     

一种适合于SOC系统的JTAG扩展化可测性设计

随着集成电路系统复杂性的提高及基于 IP核的 SOC系统的出现 ,电路测试的难度不断增大 ,对电路可测性设计提出了更高的要求。文中在研究了现有各种可测性设计方法优劣后提出了扩展化的 JTAG可测性设计电路 ,它在稍增加电路复杂度的情况下融合各测试方法 ,并提出了利用这种测试电路的 IC系统测试方案。它克服了测试基于 IP核的 SOC系统的一些难点。     

Oscillation Ring Delay Test for High Performance Microprocessors

This paper proposes a new test scheme, oscillation ring test, and its associated test circuit organization for delay fault testing for high performance microprocessors. For this test scheme, the outputs of the circuit under test are connected to its inputs to form oscillation rings and test vectors which sensitize circuit paths are sought to make the rings oscillate. High speed transition counters or oscillation detectors can then be used to detect whether the circuit is working normally or not. The sensitizable paths of oscillation rings cover all circuit lines, detecting all gate delay faults, a large part of hazard free robust path delay faults and all the stuck-at faults. It has the advantage of testing the circuit at the working speed of the circuit. Also, with some modification, the scheme can also be used to measure the maximum speed of the circuit. The scheme needs minimal simple added hardware, thus ideal for testing, embedded circuits and microprocessors.     

含有微处理器的电路板故障诊断方法研究及实现

带微处理器电路板的测试是电路板故障诊断中的一个重要课题,文章主要对含有微处理器的复杂电路的故障诊断方法及实现进行了研究,摒弃了过去进行测试程序开发时适配器结构复杂且通用性差、测试过程不易控制等特点。     

基于FPGA的集成电路测试系统设计

随着电路设计技术的不断发展,集成电路的测试对保证电路可靠性的作用日益增加。集成电路的测试不仅对确保电路的可靠性有重要作用,而且可以降低电路与系统的制造成本。本文是基于集成电路的逻辑功能测试理论,通过测试集成电路的逻辑功能是否正常来判断电路功能是否正常。实验结果表明,该系统测试便捷,准确,对于芯片的生产商和使用者都具有较重要的意义。     

Analog Automatic Test Pattern Generation for Quasi-Static Structural Test

A new approach for structural, fault-oriented analog test generation methodology to test for the presence of manufacturing-related defects is proposed. The output of the test generator consists of optimized test stimuli, fault coverage and sampling instants that are sufficient to detect the failure modes in the circuit under test. The tests are generated and evaluated on a multistep ADC taking into account the potential fault masking effects of process spread on the faulty circuit responses. Similarly, the test generator results offer indication for the circuit partitioning within the framework of circuit performance, area and testability.     

基于FPGA的数字IC交流参数测试系统研究

大规模集成电路的应用促进了国民经济的发展,同时带动了各类集成电路自动测试系统的发展,特别是高速器件的测试要求交流参数测试稳定性好,分辨率高。基于这一要求,介绍了数字集成电路交流参数测试系统的基本构成,并且介绍了数字集成电路交流参数测试的基本内容和测量方法,讨论了内插技术在时间测量上的应用和FPGA中专用时间进位链构建延迟线的基本方法,研究了该技术在数字集成电路交流参数测试仪上的应用,最后应用软件QuartusⅡ9.0验证了延迟线实现方法,并且给出了仿真波形和测试结果。     

基于二叉树的时序电路测试序列设计

为了实现时序电路状态验证和故障检测,需要事先设计一个输入测试序列。基于二叉树节点和树枝的特性,建立时序电路状态二叉树,按照电路二叉树节点(状态)与树枝(输入)的层次逻辑关系,可以直观和便捷地设计出时序电路测试序列。用测试序列激励待测电路,可以验证电路是否具有全部预定状态,是否能够实现预定状态转换。     

支持边界扫描测试的电路设计

基于IEEE 1149.1标准制定的边界扫描技术能够对复杂电路进行测试,并诊断出硬件问题。首先介绍了边界扫描测试电路的基本结构,针对基于边界扫描的大规模集成电路的特点,论述了为提高电路板的可测试性而采用边界扫描技术进行设计时应注意的一些基本要点,另外,还给出了能够获得良好测试性设计效果的边界扫描电路的设计方案。     

集成电路极性测试“微整机”研究与应用

集成电路极性测试一般指选择电路一个特定管脚进行电性能量测,快速判断电路放置是否反向、错位等,实现原理和集成电路开短路测试原理一致。目前集成电路极性测试多数依赖于功能强大、应用成熟的集成电路自动测试机(Automatic Test Equipment,ATE)实现,但是测试性价比没有任何竞争力。基于集成电路极性测试原理,采用纯硬件制作一款集成电路极性测试"微整机",在极性测试上达到与ATE同样的测试能力,并能和机械手(Handler)进行信息交互,实现自动化测试,具备简单、稳定、高效和极低成本的特点。