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设计技术和制造技术的不断发展,使半导体厂商面,临着新的挑战。当晶体管的尺寸小于100nm后,由于量子效应使得晶体管泄漏电流急速上升,从而导致晶体管的功耗越来越高,实际使用效率越来越低,传统的制造工艺似乎将要达到极限。 相似文献
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IC芯片产业在进入纳米时代后,生产工艺复杂度和物理极限等局限开始挑战被称为定律的"Moor's Law".同时,EDA技术的发展不但完全融入到电子产品的设计和定型过程中,并且开始涉足包括存档、生产、制造、测试等环节,帮助IC产业迎接工艺极限的挑战. 相似文献
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IC设计代工是IC产业链上新生的一个环节,顺应了IC产业分工的潮流。在上世纪七八十年代,IC产业的主流是Intel、三星等公司,它们是集芯片设计和生产一体化的IDM模式。这个阶段,芯片的优劣主要体现在制造工艺上,上世纪70年代的美国和80年代的日本是领先者。进入20世纪90年代,IC产业开始出现专业分工,芯片代工厂和IC设计公司首先分离。这个阶段,IC产业由早期的制造驱动转为设计驱动,在中国台湾造就了一批像威盛、联发科等优秀的IC设计公司。进入2000年以来,系统级芯片(SoC)的出现,使得芯片从设计到样片的整个过程越来越复杂。此时,产业… 相似文献
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王琦 《信息技术与信息化》2006,(3):15-16
IC产业设计、制造、封装与测试的“四业分离”使得产业链的专业化程度越来越高,给产业发展带来了巨大的活力。由于不同工序在规模经济、投资额、生产条件和人力资源等方面差异巨大,在融资模式方面也需要采用不同的方式与之相适应。特别需要强调的是,IC设计业在整个产业链中的龙头作用越来越显著,并且也是整个产业链中最为活跃的一部分,目前我国内地已经有超过500家IC设计企业,但绝大多数属于中小企业,因其具有的“创新性和市场性”以及由此而产生的“风险性”,这些公司很难采用如银行贷款和发行股票或债券等传统的融资模式,对于融资模式创新的需要十分迫切。 相似文献
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智能手机、平板电脑、PC等移动设备和物联网设备的庞大市场需求,背后是集成电路设计和制造企业的无限机遇,同时机遇后,对高性能、低功耗、小体积等的严苛需求,带来的是对支撑它的IC设计制造工艺和封装技术等的一系列挑战。本文内容整理自CICE展会同期"IC制造与设计服务论坛"的主题演讲。 相似文献
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近年来全球半导体产业逐渐朝垂直分工整合趋势演进,从上游的IC设计、中游的IC晶圆制造及下游的IC封测,垂直分工明确且各有专精,使整体半导体产业链更趋完整。随着SoC技术在全球市场的快速发展,过去传统的IC设计模式逐步被淘汰,取而代之的是将各种硅知识产权(SiliconIntellectualProperty,SIP或IP)以随插即用的方式置入设计中,而SoC技术的出现也带动IC设计业朝更细部的分工发展─IC设计公司朝掌握规格制定与行销通路推广的方向前进;IC设计服务公司则主掌IP整合及设计流程相关服务;加速产品价格及效能最佳化的核心知识产权开发由… 相似文献
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从前几年开始不少人士就认为 SOC 将是继 A-SIC 之后 IC 的发展方向。而在设计开发 SOC 的过程中却遇到了一系列困难,使得设计的效率总是远远地落后于制造工艺技术的发展水平。同时也受到经济方面因素的支配,设计重用几乎成为设计方法学必须考虑的重要方面。考虑到如何缩短上市时间,并考虑尽量减小设计风险,以平台为基础的设计方法于是成为了人们关注的焦点。有人甚至说,以平台为基础的设计方法“将对芯片设计方法学产生革命性 相似文献
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虚拟仪器与传统ATE联合测试技术研究 总被引:1,自引:1,他引:0
虚拟仪器技术是测试领域的重要发展方向,在IC测试中也有广泛应用。传统IC测试技术主要基于传统自动化测试系统(ATE),随着IC设计和制造技术的进步,普通IC测试系统已不能满足研究和生产需要。文章介绍了一种利用虚拟仪器技术与传统IC测试系统结合的测试方案。该联合测试系统把传统测试系统、数据采集卡和分立仪器通过LabVIEW程序联合在一起。系统组成包括硬件和软件两部分,其中硬件部分由ATE系统、测试PC和示波器组成,软件使用LabVIEW程序编写,完成仪器控制、数据采集和报表生成等功能。该系统已完成了某型号数模混合电路的测试。 相似文献
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在半导体工艺尺寸不断缩小,从亚微米到深亚微米甚至纳米尺寸,给大规模和超大规模集成电路的设计提出了严峻考验。这种挑战似乎只是在芯片设计中才有,但越来越多的人士认为,在半导体工艺从180nm转到130nm和90nm时,设计挑战已经延伸到电路板级。而PCB市场同时也在经受一次史无前例的调整,伴随着全球生产中心的迁移,顶级的PCB生产厂商需要在不断变换的商业模式中,同时面对技术和众多竞争对手的挑战。IC与PCB设计密不可分当今IC设计中一个明显的趋势是芯片复杂程度越来越高,百万门、千万门的IC芯片已经面世。由于工艺尺寸的降低,芯片尺寸… 相似文献
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