一起110 kV变压器故障原因分析

针对一起110 kV主变调压线圈匝间短路引起的跳闸故障进行原因分析,通过电气试验及解体检查,确认故障原因为调压前故障部位匝间绝缘已有破损,7挡调到6挡后匝间电压差增大,在140 h内加速了匝间绝缘的电气性损伤,最终导致B相调压线圈故障,最后提出了相关解决措施.     

无人机在输电线路运行中的应用分析

利用无人机进行线路巡视,已成为输电线路提高巡视效率、质量的主要手段之一.无人机技术与输电线路运行方式深度结合,可有效弥补传统巡视方式的不足.但这种新的巡视方式并不完善,所以及时剖析现阶段无人机在输电线路运行中的作用与影响,对于下一步无人机在输电线路领域的应用尤为主要.结合无人机特性与输电线路巡视需求,从无人机巡视的功能分类角度出发,阐述了各种工况下对电网巡视带来的变化与待改进的地方,为无人机在输电线路巡视中的下一步发展提供参考.     

半口模在高熔体流动速率聚丙烯测试中的探讨

通过熔体流动速率测试条件的优化,对高熔体质量流动速率(MFR)的聚丙烯(PP)样品进行了标准口模(2.095 mm)和半口模(1.050 mm)测试,得出了之间的换算关系,完成了半口模对超高熔体流动速率样品的测试,进一步拓展了仪器的测试范围.     

供配电系统高压设备参数的环境条件修正

在对供配电系统高压设备进行选型的过程中,除了要考虑正常环境条件,还要考虑设备工作于非正常环境条件的情况.不同的环境条件,会对设备的允许温升、外绝缘、试验电压、安全净距、绝缘子片数、载流量等指标产生影响.探讨了在不同的非正常环境条件下,高压电气设备参数受到的影响,并提出修正方法.     

浮法玻璃流道唇砖引起的气泡及应急解决措施

介绍了一种由浮法玻璃流道唇砖裂缝产生的玻璃气泡特征,该气泡位置固定,出现在玻璃板的下表面、开口、气泡大小为6～10mm.气泡特征和常见的唇砖泡不同,与槽底泡接近.经过分析、检查、验证,确认为唇砖泡,在没有更换唇砖的情况下,通过采用特殊设计的水包封堵唇砖裂缝,解决了气泡问题.     

低相对分子质量阳离子聚丙烯酰胺的合成及其单体含量的测定

采用移热溶剂法合成了低相对分子质量的阳离子聚丙烯酰胺,研究了引发剂用量和单体浓度对相对分子质量和相对分子质量分布以及单体转化率的影响.建立了一种紫外分光光度法测量阳离子聚丙烯酰胺中单体含量的测定方法,选取205 nm处建立标准曲线,在聚丙烯酰胺浓度20 mg/L,丙烯酰胺浓度0.2～1.4 mg/L范围内线性关系良好,得到A=0.0284 c+0.1342,与溴化法比较结果一致,证明该方法具有操作简便、准确度高的优点.     

综合能源互联网配电网故障定位与隔离的研究

基于"互联网+"的智慧能源互联网综合服务是互联网在电力行业的体现,充分利用了计算机技术、信息技术及人工智能技术等,具有信息的高效处理与状态的全面感知等优点,是实现万物互联互通的重要手段.现阶段配电网故障定位与隔离存在过程较繁琐、计算量及存储量大等缺陷,因此结合互联网中边缘计算的思想,提出一种基于综合能源互联网的配电网故障定位与隔离方法,设计了适用于综合能源互联网中配电网故障定位与隔离的模式与算法,实现了高效、快速定位的目标,同时减少了计算量与存储量,最后通过算例验证了方法的有效性.     

N,N′-二甲基-N,N′-二苯基秋兰姆二硫化物合成工艺研究

以N-甲基苯胺、二硫化碳、氢氧化钠、过氧化氢、浓硫酸合成N,N′-二甲基-N,N′-二苯基秋兰姆二硫化物(MPTD).考察了原料的物料配比、反应温度、反应时间对收率的影响.得出最优物料的物质的量比为n[N-甲基苯胺]:n[氢氧化钠]:n[二硫化碳]:n[过氧化氢]:n[浓硫酸]=1:1.15:1.60:0.66:0.5.最佳缩合温度20～25℃,氧化温度15～20℃;最佳缩合时间12～13 h;氧化时间4～6 h.     

SiO2改性聚丙烯纤维棉对油水乳状液的高效分离

近年来,基于特殊润湿性理论制备表面具有微纳米粗糙结构的多孔材料成为油水分离领域研究的重点。为了满足不同环境下对不同形式油-水乳状液高效高通量分离的需求,该研究利用纳米SiO2颗粒对聚丙烯（PP）纤维棉有针对性地亲（疏）水改性,构建了系列不同润湿性和粗糙度的PP纤维棉,探究了不同孔隙度和表面能的PP纤维棉对W/O及O/W型乳状液的分离性能,结果表明,经过亲（疏）水改性后的PP纤维棉对水/正己烷和水/甲苯乳状液的分离效率都高于99.5%,通量高于700 L/(m2·h),并针对不同形式油-水乳状液阐释其相应的分离机制,为后续油-水乳状液分离材料的科学设计和可控制备提供了理论依据。     

220 kV倒置式电流互感器故障分析

某变电站一台220 kV倒置式电流互感器故障引起线路跳闸,通过分析发现是由于长期负压使电流互感器外部潮气从密封不严处进入本体,引起器身绝缘性能下降,最终造成短路放电故障.