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Javier Ramírez Antonio García Uwe Meyer-Bäse Fred Taylor Antonio Lloris 《The Journal of VLSI Signal Processing》2003,33(1-2):171-190
Currently there are design barriers inhibiting the implementation of high-precision digital signal processing (DSP) objects with field programmable logic (FPL) devices. This paper explores overcoming these barriers by fusing together the popular distributed arithmetic (DA) method with the residue number system (RNS) for use in FPL-centric designs. The new design paradigm is studied in the context of a high-performance filter bank and a discrete wavelet transform (DWT). The proposed design paradigm is facilitated by a new RNS accumulator structure based on a carry save adder (CSA). The reported methodology also introduces a polyphase filter structure that results in a reduced look-up table (LUT) budget. The 2C-DA and RNS-DA are compared, in the context of a FPL implementation strategy, using a discrete wavelet transform (DWT) filter bank as a common design theme. The results show that the RNS-DA, compared to a traditional 2C-DA design, enjoys a performance advantage that increases with precision (wordlength). 相似文献
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为了提高入侵检测系统在体系结构上的灵活性、提高入侵检测的速度,本文将Agent技术应用于入侵检测,探讨了基于Agent的入侵检测技术和模型。首先分析了网络安全及入侵检测系统的研究现状及发展趋势,以及入侵检测技术在网络安全中的重要地位和作用。在对入侵检测技术及Agent技术深入分析的基础之上,提出了一种基于Agent的入侵检测系统模型,研究了构成基本构架的各个子系统在整个模型中的作用及相互关系,给出了各自的设计实现方法,并重点讨论了基于Agent的分布式入侵检测系统模型的通信问题。 相似文献
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介绍了延长石油集团公司榆林炼油厂利用异步发电机组和同步发电机组回收催化裂化装置余热余能的情况,通过对两种回收方法的技术途径、设备配置、实际应用效果和经济效益分析,得出异步发电机组的余热发电技术方案是优选方案的结论. 相似文献
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As we approach 100 nm technology the interconnect issues are becoming one of the main concerns in the testing of gigahertz system-on-chips. Voltage distortion (noise) and delay violations (skew) contribute to the signal integrity loss and ultimately functional error, performance degradation and reliability problems. In this paper, we first define a model for integrity faults on the high-speed interconnects. Then, we present a BIST-based test methodology that includes two special cells to detect and measure noise and skew occurring on the interconnects of the gigahertz system-on-chips. Using an inexpensive test architecture the integrity information accumulated by these special cells can be scanned out for final test and reliability analysis. 相似文献
57.
Erik Jan Marinissen 《Journal of Electronic Testing》2002,18(4-5):435-454
Modular testing is an attractive approach to testing large system ICs, especially if they are built from pre-designed reusable embedded cores. This paper describes an automated modular test development approach. The basis of this approach is that a core or module test is dissected into a test protocol and a test pattern list. A test protocol describes in detail how to apply one test pattern to the core, while abstracting from the specific test pattern stimulus and response values. Subsequent automation tasks, such as the expansion from core-level tests to system-chip-level tests and test scheduling, all work on test protocols, thereby greatly reducing the amount of compute time and data involved. Finally, an SOC-level test is assembled from the expanded and scheduled test protocols and the (so far untouched) test patterns. This paper describes and formalizes the notion of test protocols and the algorithms for test protocol expansion and scheduling. A running example is featured throughout the paper. We also elaborate on the industrial usage of the concepts described. 相似文献
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59.
一种新的线性分布参数系统辨识方法 总被引:1,自引:0,他引:1
本文应用块脉冲函数(BPF)将含有未知参数的线性分布参数系统偏微分方程转换为矩阵方程,通过最小二乘法辨识线性分布参数系统的参数,辨识结果表明,BPF辨识法具有原理简捷,实现方便,辨识精度高等优点。 相似文献
60.
DGPSL:A DISTRIBUTED GRAPHICS LIBRARY 总被引:1,自引:0,他引:1
DGPSL:ADISTRIBUTEDGRAPHICSLIBRARYShiJiaoying;PanZhigeng;ZhengWentingDGPSL:ADISTRIBUTEDGRAPHICSLIBRARY¥ShiJiaoying;PanZhigeng;... 相似文献