CPT电子束着屏误差自动测量

采用微偏转磁场对电子束实行附加偏转的方法测量电子束着屏误差,使电子束着屏点在一个粉条宽度范围内连续精确可调,利用(Charge Coupled device)图像传感器和图像采集与处理技术,建立了自动测试系统．通过标准光栅的测试验证,表明该系统稳定可靠、精度高、一致性好,为HDTV的高分辨率彩色显像管的研制提供了有力的工具．     

润滑剂添加量对铁基混合粉末工艺性能的影响

本文以硬脂酸锌和石墨作为润滑剂,研究了添加量对铁基混合粉末流动性和松装密度以及压制性能的影响。结果表明,当硬脂酸锌添加量为0.2%~0.6%时可以改善铁基混合粉末的流动性和松装密度,流动性能较原混合粉末提高2.2%~17.4%,松装密度能提高136.6%~149.3%,添加量超过0.6%时效果不明显。添加0.2%~1.0%的硬脂酸锌,粉末压缩性逐渐增加,添加量超过1.0%时,压缩性变差。同时添加硬脂酸锌与石墨时,随着石墨添加量的升高,混合粉末的松装密度和压制性能不断降低。     

利用同步辐射光电子能谱技术研究Pb1-xSrxTe薄膜的能带移动及其组成异质结能带带阶

利用同步辐射光电子能谱技术研究了低Sr组分时Pb_(1-x)Sr_xTe薄膜能带的移动规律,并计算了Pb_(1-x)Sr_xTe/Pb Te异质结中导带帯阶所占比率.当不考虑应力时,该异质结界面导带带阶比率Qc=ΔEC/ΔEg=0.71.当考虑应力时,PbTe能带发生L能谷与O能谷的劈裂,其导带带阶比率分别为QLC=0.47和QOC=0.72.Pb_(1-x)Sr_xTe/Pb Te异质结界面具有类型Ⅰ的能带排列结构,这说明Pb_(1-x)Sr_xTe/PbTe型量子阱或量子点对电子与空穴都有较强的限制能力.该异质结能带帯阶的精确测量有利于该类三元系半导体异质结在中红外光电器件的研发和应用中发挥重要作用.     

高性能的Max-Log-MAP线性分段算法研究

针对Max-Log-MAP算法存在译码性能比Log-MAP算法差0.5dB,而Log-MAP算法复杂度大的问题。论文提出了用线性分段(piecewise-linear term:PLT)的最大值运算来替代Log-MAP算法中雅克比公式,并通过研究比例因子对译码性能的影响,获得了最佳的优化Turbo译码性能的方法。研究结果证明,用分段项数r等于3,比例因子s为0.7时,获得的Turbo译码性能略优于Log-MAP算法,而算法的计算复杂度比Max-Log-MAP算法仅增加一次乘法、一次加法和求最大值运算。     

基于Lagrange系数乘子法的校正透镜曲面计算

利用 Lagrange系数乘子法 ,对 CPT曝光用校正透镜曲面进行了计算 ,并采用型值点和法向矢量对曲面进行插值。讨论了 Lagrange乘子对计算的收敛精度和迭代次数的影响 ,通过选择合适的乘子 ,得到了具有很高精度的收敛曲面 ,并提高了计算速度     

张紧式荫罩微振动的分析测量

分析了不同类型的张紧式荫罩在受激后产生的各种近似振动模式,通过光机转换技术,采用非接触式的单光纤强度反射法测量荫罩的振动特性.实验证明,该测量系统能够准确、客观地反映荫罩振动的各项参数,包括各振动模的振动频率、振幅和衰减时间.对于荫罩这种振幅极小的振动,本方法具有简单、方便、快速和精确的特点,是分析测量荫罩振动的有力工具.     

HDTV用CPT的ΔS校正透镜的设计

在分析了ΔS透镜的作用以及设计原理基础上 ,提出了校正透镜设计计算方法 ,并给出了Δ S透镜曲面的计算表达式。初始透镜的曲面和试验管的Δσ着屏误差被精确地测量。实验验证表明其计算结果与测试结果相吻合 ,对于开发设计新型的高分辨力 CPT具有实用价值。     

基于CCD的CDT电子束着屏误差自动测试系统

利用CCD图像传感器和图像采集处理技术,实现了电子束着屏误差二维自动测量。在荧光屏的前端附加垂直和水平两组微偏转线圈,通过控制微偏转线圈的电流,改变着屏点附近的磁场,使电子束着屏点的位置在一个粉点范围内精确连续可调。标准光栅的测试验证,系统绝对误差小于5m,表明该系统稳定可靠,一致性好。     

CPT色纯漂移自动测量

提出了凹点法测量显示管色纯漂移，建立了自动测试系统，实现了快速高精度的测试，为高分辨率彩色显像管（ＨＤＴＶ）的研制提供了有力的工具。     

单个光纤布喇格光栅实现应变温度同时测量的研究

实现单个光纤布喇格光栅同时测量应变和温度的实验系统.在该系统中,温度变化使光栅的布喇格波长位移,应变使反射谱分裂成双峰.结果表明,根据光栅的初始布喇格波长和两个分裂的布喇格波长可以同时确定应变和温度的变化.应变和温度灵敏度的实验结果分别为1.172 pm/με和10.78 pm/℃.该系统在结构健康监测、智能材料和结构等领域有应用前景.