JJG 60-2012《螺纹样板》 检定规程的相关探讨

通过对JJG 60-2012《螺纹样板》 进行分析,发现其仅对基本尺寸为0.4~6.0 mm的普通螺纹样板和螺纹牙数为4~28牙的统一螺纹样板的牙型及工作尺寸做出规定,并未对基本尺寸小于0.4 mm或者大于6.0 mm的普通螺纹样板和牙数大于28牙的统一螺纹样板的上述参数做出规定.因此,针对上述问题进行了分析,对JJG 60-2012进行了补充,对于JJG 60-2012的进一步发展和完善具有重要的意义.     

电压检测芯片失效分析

近年来,随着智能电表的广泛使用,其质量和可靠性问题受到了人们越来越多的关注.但是,由于各种原因,产品投入市场后仍会出现各种失效现象.因此,对某智能电表的电压检测芯片的失效现象进行了分析,通过外观检查、 电参数测试和X-射线测试等手段找到了该芯片的失效原因,并针对发现的问题提出了相应的改进意见.     

替代型LED双端直管灯的触电风险

介绍了替代型LED双端直管灯的结构特点,通过试验验证其存在的触电风险,并结合电气安全原理分析原因,提出增大产品的L/N回路阻抗的改进措施。     

联用动态EMMI与FIB的集成电路失效分析

EMMI被广泛应用于集成电路的失效分析和机理判定。针对端口I-V特性曲线的异常现象,采用静态电流的发光效应对漏电点进行光发射定位。静态电流法无法全面测试集成电路内部逻辑单元,需要使用动态信号驱动集成电路,使内部失效部位能够产生光发射。对样品在动态失效工作状态进行光发射捕捉,再结合良品对比、电路原理图和版图分析等辅助手段进行故障假设,以定位失效点,最后利用FIB系统对电路进行剖面切割制样,找出物理损伤点。对砷化镓数字集成电路的不稳定软失效案例进行分析,动态EMMI法与FIB系统联用可成功应用于芯片内部金属化互连异常的失效分析,解决传统静态光发射法无法定位的技术难题。     

家用冷藏冷冻箱性能测试系统的开发与研究

针对传统的家用冷藏冷冻箱性能测试系统数据采集量大、测试时间长、系统设计复杂、数据实时监控不便等问题,设计了一套新型四工位家用冷藏冷冻箱性能测试系统。系统采用三层网络管控技术,以LabVIEW作为上位机软件,结合PLC、控制器以及采集仪表实现实验室温湿度控制、系统报警、数据存储和处理及报告生成等功能。在满足GB/T8059.2的基础上,实现了集中高效的数据处理,友好直观的界面操作,快速稳定的系统运行,实时准确的系统监控等目的。     

盲元作为红外焦平面可靠性分析手段的探讨

红外焦平面器件广泛应用于国防安全、空间探测、环境监测、工业控制等各个领域,但是由于量少价高的特点,可靠性成为其技术发展的主要瓶颈之一。盲元是红外焦平面的失效像元,是对器件工作特性的反映,因此,可以用作可靠性评价和失效分析手段的重要参数。以出厂时间为界,将盲元分为初始盲元和使用盲元,并分析了其类型、性质、数量、位置及分布等方面的特征。根据红外焦平面器件结构特点,从探测器、互联铟柱和读出电路三个方面分析了盲元形成原因,全面探讨了盲元分析在研究器件损伤应力、失效位置、损伤机理上的应用,以及准确评价器件性能和提高盲元剔除精度的可行性,为器件结构的优化和工艺的改进提供了支撑。     

恒定温度应力下的模拟IC加速退化试验研究

研究了在不同恒定温度应力条件下某型号驱动器的模拟集成电路的加速退化试验.首先,确定了该型驱动器的敏感参数,并建立了敏感参数的退化模型;然后,计算得到了器件在加速应力下的伪寿命;最后,利用阿伦尼斯模型对伪寿命数据进行分析,外推得到了器件的激活能及其在正常工作应力条件下的寿命信息.     

石英加计伺服电路加速退化数据处理方法研究

以石英加计伺服电路的性能退化参数为研究对象,提出了两种基于伪失效寿命和基于性能退化量分布的加速退化数据处理方法;并通过实例说明这两种方法在实际中的具体应用,为石英加计的可靠性状态监测及评估提供了支撑.     

文献共被引下可靠性试验技术的可视化分析

通过对可靠性试验技术共被引文献知识图谱的深入解读,并结合对节点文献共被引频次和中心度的比较分析,得到了以下2点结论:1)可靠性试验技术的理论框架没有突破性的创新,但是,模拟仿真试验、环境应力试验和强化试验等可靠性试验的方法得到了进一步的优化;2)可靠性环境应力筛选技术、可靠性强化试验技术在知识群2中成为了学者们关注的重点,并得到了广泛的应用,成为了当前乃至今后可靠性试验技术发展的重点.     

我国医疗器械发展现状及其可靠性提高技术

首先,介绍了医疗器械的发展现状;然后,结合工信部电子五所多年在可靠性技术领域中的研究成果,拟定了一套提高医疗器械产品的可靠性的实施方法,为国内医疗器械生产企业提供了一定的技术支撑.