全文获取类型
收费全文 | 205篇 |
免费 | 26篇 |
国内免费 | 24篇 |
专业分类
电工技术 | 1篇 |
综合类 | 2篇 |
机械仪表 | 2篇 |
无线电 | 215篇 |
一般工业技术 | 3篇 |
冶金工业 | 1篇 |
自动化技术 | 31篇 |
出版年
2023年 | 2篇 |
2022年 | 1篇 |
2021年 | 4篇 |
2020年 | 2篇 |
2019年 | 5篇 |
2018年 | 5篇 |
2017年 | 4篇 |
2016年 | 1篇 |
2015年 | 7篇 |
2014年 | 17篇 |
2013年 | 6篇 |
2012年 | 5篇 |
2011年 | 11篇 |
2010年 | 20篇 |
2009年 | 18篇 |
2008年 | 25篇 |
2007年 | 25篇 |
2006年 | 15篇 |
2005年 | 3篇 |
2004年 | 3篇 |
2003年 | 9篇 |
2002年 | 9篇 |
2001年 | 6篇 |
2000年 | 13篇 |
1999年 | 8篇 |
1998年 | 7篇 |
1997年 | 7篇 |
1996年 | 5篇 |
1995年 | 2篇 |
1994年 | 1篇 |
1993年 | 2篇 |
1992年 | 1篇 |
1991年 | 1篇 |
1990年 | 2篇 |
1989年 | 2篇 |
1988年 | 1篇 |
排序方式: 共有255条查询结果,搜索用时 15 毫秒
31.
32.
E2PROM在反复擦/写过程中会产生陷时电行,对耐久性产生不良的影响。本文详细研究了氧化层中陷除电荷的数量位置,对氧化层注入电场的影响,为系统研究E2PROM的耐久性提供了理论依据。 相似文献
33.
研究了FOD在输入、输出和电源箝位部分ESD的工作特点,在0.18μm5V EEPROM CMOS工艺下流片、测试并分析了针对输入、输出和电源箝位的三种主流的ESD保护FOD器件,通过传输线脉冲测试仪的测量,重点分析了特征尺寸对器件ESD特性的影响及其设计方法。结果表明:影响FOD的ESD性能的主要因素是沟道长度、漏极长度和漏极接触孔到有源区的距离;增加沟道长,可适当提高FOD的ESD开启电压,但是会降低ESD防护性能;增加FOD的漏极长度和漏极接触孔到有源区的距离,可以提高FOD的ESD防护性能。提出了一种新型的浮体多晶硅岛屿型FOD结构,该结构不但结构简单,而且具有良好的ESD防护性能。 相似文献
34.
应变硅NMOS晶体管沟道应变的模拟研究 总被引:1,自引:1,他引:0
建立了一种基于硅/锗硅异质结构的应变硅NMOS晶体管的有限元模型,通过模拟研究了沟道区的应变分布及其与器件参数的关系。结果表明,提高锗硅虚拟衬底中锗的摩尔组分、减小应变硅层厚度,可以增加沟道应变。此外,应变量还随器件结构长度的增加而增加。研究结果可为应变硅器件的设计、工艺优化提供参考依据。 相似文献
35.
设计实现了一种基于CORDIC算法和乘法器的直接数字频率合成器。采用混合旋转算法实现相位幅度转换,最高工作频率达到400MHz。在算法级,将DDFS中需要执行的π/4旋转操作分成两次旋转完成,第一次旋转采用CORDIC算法,第二次旋转采用乘法器来完成,同时采用流水线结构来实现累加器,提高整体性能。在晶体管级,采用DPL(Double-pass-transistor logic)逻辑实现基本电路单元,减少延迟提高速度。经0.35μmCMOS工艺流片,在400MHz的工作频率下,输出信号在80MHz处,SFDR为76.47dB,整个芯片面积为3.4mm×3.8mm。 相似文献
36.
37.
38.
本文给出了集成电路工艺流片、测试、封装成本的数学模型,并用设计成本量化模型计算了三种数字集成电路的成本,计算结果与实际结果吻合良好。 相似文献
39.
40.
针对高速高精度模数转换器的性能依赖于高增益带宽积运放而导致较大功耗的问题,提出了一种基于斗链式电荷器件的电荷域流水线1.5位子级电路.该子级电路使用增强型电荷传输电路来实现电荷传输和余量电荷计算,去除了传统流水线模数转换器中的高性能运放,可大大降低模数转换器的功耗.基于所提出的1.5位子级电路,在0.18μm CMOS工艺条件下,设计了一款10位、250MS/s电荷域流水线模数转换器.测试结果表明,该模数转换器样片在全速采样时对于9.9MHz正弦输入信号转换得到的无杂散动态范围为644dB,信噪失真比为56.9dB,而功耗为45mW. 相似文献