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放射性核素在矿物表面的吸附微观结构分析进展 总被引:1,自引:0,他引:1
放射性核素在矿物表面的吸附行为是影响其在环境中的浓度、迁移、转化及毒性的重要过程。本文简要介绍了放射性核素在吸附剂表面的吸附、沉淀、氧化还原反应的作用机理,针对放射性核素在矿物表面的微观吸附形态的研究中所使用的一些先进的实验分析方法,重点介绍了同步辐射X射线吸收精细结构(XAFS)技术、荧光分析以及理论计算等技术,并展望了放射性核素在矿物表面微观反应机制的研究趋势。 相似文献
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为充分发挥小型实验室设备的功能,实验采用熔融制样,使用台式能量色散X射线荧光光谱仪(10W, Rh靶)定量分析了硅酸盐样品中的Na2O、MgO、Al2O3、SiO2、P2O5、SO3、Cl、K2O、CaO、TiO2、V、Cr、MnO、Fe2O3、Co、Ni、Cu、Zn、Ga、Rb、Sr、Y、Zr、Nb、As、Ba、La、Ce、Th、U、Hf、Pb等32种主、次、痕量组分。对3种不同的解谱方法进行比较,确定Na、Mg、Al、Si、P、As、Ce、Cr、Cu、Ga、La、Nb、Ni、Pb、Th、U、V、Y选择感兴趣区解谱,其余元素用高斯或经改进的高斯函数的最小二乘法拟合解谱。选用有代表性的多个硅酸盐类样品,比较了理论检出限及10次重复测定计算3倍标准偏差得出的检出限,发现以3倍标准偏差作为检出限再取它们的平均值则更具代表性和使用意义。各组分的检出限为0.2~1740μg/g。精密度试验表明,各组分测定结果的相对标准偏差(RSD)为0.12%~10.5%(Na为轻元素,由于含量低,小能谱测定的精密度稍差);对两个土壤标准样品进行正确度验证,测定值与标准值一致。 相似文献
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为满足本公司生产需求,实验室采用X射线荧光光谱法(XRF)测定氧化铝中SiO2、Fe2O3、Na2O含量,而XRF检测结果的准确性取决于日常质量控制效果。工作中总结出一套以XRF设备分析原理为基础结合氧化铝中SiO2、Fe2O3、Na2O测定经验的有效质量控制方法,论述了质量控制计划制定的依据及质量控制方法选择的原则,从仪器设备检测状态控制、样品制备方法选择、XRF漂移校正、标准样品检测、方法比对、人员比对及留样再测等方面详细介绍了内部质量控制方法,同时运用实验室间比对及测量审核两种外部质量控制方法对内部质量控制效果进行检验。通过统计分析内外部质量控制数据,发现实验室用XRF测定粉末压片法制样的氧化铝中SiO2、Fe2O3、Na2O含量,检测结果准确可靠,证明质量控制方法有效。该套质量控制经验对于XRF测定其他材料中杂质元素含量的质量控制方法的建立同样具有参考借鉴意义。 相似文献
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荧光探针具有高灵敏度、高活性,在物质成分测定及反应进程监测中得到了广泛的应用。常见的荧光探针根据荧光团的不同可以分为香豆素类、氟硼荧染料、菁染料、萘酰亚胺类、荧光素和罗丹明类。活性氧(Reactive Oxygen Species, ROS)与各种细胞过程有关,主要包括转录因子的激活、基因表达、细胞增殖和死亡。由于活性氧的寿命短、活性高,且会与蛋白质、DNA、脂质膜等迅速反应,给其检测工作带来了困难。荧光探针作为一种高灵敏度的检测方法,在活性氧的检测工作中起到了重要作用。在介绍了不同荧光探针的基础上,着重对检测活性氧的荧光探针进行了详细的分类与描述。 相似文献