DTM——GSM/GPRS网络中的新扩展

DTM的推动力在U M T S网络中,每时每刻用户都可以同时进行多种业务的体验,这就使你的电话成为一个移动终端。但是对于GPRS网络则并非如此,并非所有的GPRS终端都支持同时传输语音和数据的并发业务。根据规范,GPRS终端被分为3类:A类:1)可以同时附着在GPRS和GSM网络上,可同时接收GSM和GPRS的寻呼信息;2)可以同时进行GPRS和GSM业务,在接收数据的同时可以打电话。这类终端可以支持D T M。B类:1)可以同时附着在GPRS和GSM网络上,可同时接收GSM和GPRS的寻呼信息;2)但不能同时进行GPRS和GSM业务,即通话和数据传输不可同时…     

用XPS研究~(60)Co对抗辐射加固和非加固Si-SiO_2的影响

对由抗辐射加固与非加固工艺生成的Si/SiO_2系统进行了~(60)Co辐照前后的界面结构分析。实验结果表明,这两类Si-SiO_2在硅的二氧化硅态和过渡态,氧的剩余氧态和负二价氧态的XPS谱上具有较大差异;其中非加固样品的XPS谱与辐照条件具有强烈的依赖关系,而加固样品的XPS谱随辐照条件的变化产生较小的变动。两类Si-SiO_2的XPS谱均显示出辐照剂量对样品的损伤作用大于辐照偏置电场。文中根据辐射在SiO_2-Si中产生电子-空穴对的观点,就实验现象进行了机制分析。     

用交流方法消除霍尔效应中的副效应问题的探讨

在研究半导体材料中霍尔效应有着广泛的应用.用它来研究半导体材料导电过程,对提供材料的导电类型,载流子浓度、杂质电离能(包括深、浅能级杂质)、禁带宽度、迁移率及杂质补偿度等方面有着重要的作用.本文着重研究霍尔效应中的副效应及其消除方法的探讨,以减少上述测试中所引进不应有的误差等.     

不同工艺生成的Si—SiO2经电离辐照的电子自旋共振研究

采用电子自旋共振（ＥＳＲ）分析技术，较系统地研究了Ｓｉ－ＳｉＯ２体系中点缺陷Ｐｂ和Ｅ＇随氧化工艺、＾６０Ｃｏγ射线辐照剂量和辐照所加偏压的变化关系。实验结果表明：两类Ｓｉ／ＳｉＯ２样品在γ辐照前后均能观察到Ｐｂ缺陷，且γ辐照在Ｓｉ－ＳｉＯ２中产生更多的Ｐｂ缺陷；第一类样品在正电场下辐照将产生Ｅ＇缺陷，在自由场下辐照剂量达５×１０＾４Ｇｙ（Ｓｉ）时才能观察到Ｅ＇缺陷；在辐照后的第二类样品中无Ｅ＇信号     

正交非负CP分解的图像表示和识别

提出了一种正交非负CP分解算法.将图像库视为三阶张量,进行非负分解,并对非负因子增加了正交约束,保证了图像低维表示的非负性.实验结果表明,较之其他非负分解算法,正交非负CP算法通过增加基图像的正交约束,减少了基图像的冗余性,进一步提高了基图像的稀疏性,同时保证了低维特征的非负性;将其用于人脸表情识别,该算法具有较高的识...     

卡片文本倾角提取的聚类方法

倾斜角度提取是卡片打印质量检测中的关键问题之一,提出基于聚类的卡片文字倾斜角度检测方法。将卡片图像中的文本像素点看作数据集,利用DBSCAN的聚类方法,将所有像素点按字块分类,用降采样的方法提高算法速度;认为每类中的文本像素点构成一条平行于文本倾斜方向的直线,将同一类别中的文本像素点按列方向求重心,并将重心点看作是对应直线的样本点,利用最小二乘方法拟合直线,所得直线的倾角即为文本的倾斜角度。实验结果表明,该算法的平均误差在0.05度以内,具有较高的精度。     

高维空间第一类曲面积分的计算及中值定理

目前的数学分析教材中,关于曲线积分和曲面积分的内容大多在三维欧氏空间中论述,对于高维空间中的曲面积分问题很少提及,而在许多工程应用中又需要在高维空间中计算曲面积分.讨论了高维欧氏空间中第一类曲面积分问题,推导出将光滑曲面的第一类曲面积分转化为重积分的一般公式,并将三维空间中的第一类曲面积分中值定理推广到高维的情况.