机扫雷达BIT系统解决方案

给出雷达机内自检(B IT)的概述和对B IT的基本要求,讨论了机扫雷达的B IT设计方案,加电B IT、周期B IT和维护B IT在系统中的使用。介绍了系统B IT顶层设计、罩内设备B IT设计和舱内B IT设计。重点讨论了移相器的B IT设计,以及在不占用系统资源条件下将射频B IT测试信号引入罩内的实现方法。     

综合模块化航空电子系统的BIT防虚警设计

针对现代综合模块化航电系统的机内测试（Built-in-Test,BIT）虚警问题,深入分析了其I类和II类BIT虚警的产生原因及机理。结合航电系统综合化、模块化的架构特点及其复杂性、层次性、相关性和不确定性的故障特征,从模块和系统两个层次提出了BIT虚警的技术解决措施以及全寿命周期需采取的设计手段。重点给出了一种基于模型的系统级BIT虚警识别算法,能依据测试性建模输出的D矩阵,分析测试之间相悖或相互佐证关系,识别虚警和确认真实的故障指示。最后,结合综合航电超短波功能进行了案例验证。     

模拟智能BIT测试微处理机系统板

机内测试技术（Built-in Test,简称BIT）是一种能显著改善装备或系统测试性与诊断能力的重要技术手段。智能机内测试模拟系统是运用智能BIT技术的理论,开发出的一个对硬件设备在线测试的模拟系统。它是在Windows操作系统下,利用嵌入式C语言开发出来的,嵌入式C语言现广泛应用于各种硬件测试及开发环境中。智能机内测试模拟系统在对智能的模拟方面运用数组、随机函数等方法来实现,从而体现出智能机内测试的特点。本文描述了系统中对微处理机系统板部分的测试过程。     

机载计算机BIT虚警及解决策略研究

机内测试(Built-in Test,BIT)技术是改善系统或设备测试性和维修性的重要途径,通过在机载计算机中设计专门的BIT电路,配合专门的BIT软件,以达到大幅度提高机载计算机的可靠性和安全性的目的。但是较高的虚警率一直是阻碍BIT技术在机载计算机中广泛应用的一个重要原因。文章在对机载计算机BIT虚警机理模式进行分析的基础上,提出一种新型的机载计算机BIT虚警问题的分析方法,并给出BIT设计策略及关键技术解决方案。经过实例分析证明该策略明显降低了虚警率,提高了机载计算机的可靠性及可维护性。     

边界扫描测试技术在雷达BIT电路中的应用

提出了一种采用超大规模集成电路的边界扫描测试技术来设计内建自测试(BIT)电路的方法。此方法利用一片单片机的I/O口线以及超大规模集成电路所具有的边界扫描测试结构来实现对VLST集成电路芯片的故障诊断。     

智能BIT降虚警技术

通过分析智能BIT虚警的影响因素,从影响最大的时间环境应力和间歇故障着手,从而抑制虚警。首先分析时间环境应力与BIT虚警关联分析,通过SVM(支持向量机)选择合适的关联阈值降低虚警。然后进行间歇故障与BIT的关联分析,选择训练HMM模型来诊断间歇故障。通过这两个途径,有效降低BIT虚警。     

发射装置发控系统的测试性设计与实践

测试性和B IT设计是提高装备可靠性与维修性的重要技术手段。本文分析了发射装置维修和测试方案,叙述了发射装置发控系统的测试性设计技术,特别是提出了按整机、组件、电路板三级结构层次配置测试点的方案。     

某型车载炮电气检测系统的设计与实现

针对某型车载炮电子电气设备组成多,结构复杂,系统具有层次性、相关性和综合性的特点,采用ATE与BIT技术组合测试的方法,设计了一套基于某型车载炮电子电气设备的电气检测系统,实现了该车载炮电气系统的故障诊断与日常维护。试验结果证明：该电气检测系统能显著提高某型车载炮电子电气设备的故障定位精度和故障隔离率,能有效增强某型车载炮电气系统的可测试性和维修性。     

状态监测故障诊断与现代设计技术

在回顾传统的设计方法及状态监测的传统任务的基础上，展望现代设计技术与状态监测诊断的新内涵及其相互联系，提出状态监测的研究方向。