用KM算法增强测试集的频谱主分量

在集成电路测试领域常常需要对测试集和测试响应进行频谱分析,计算其频谱主分量,用于指导测试产生和进行测试数据压缩等。提出一种用KM(Kuhn-Munkras)算法增强测试集频谱主分量的方法,先根据测试集和其频谱主分量矩阵构建二分图模型和权值矩阵,把增强频谱主分量的问题转化为二分图的匹配问题,然后用KM算法求解。根据匹配关系调整测试集中测试向量的顺序后,频谱主分量和测试集的相关性增加,频谱主分量得到增强。在ISCAS-89基准电路测试集的实验表明,测试集排序后,其频谱主分量的相关性提高了19.05%,测试集残差FDR编码压缩率提高了4.59%。     

环形链轮询复用测试端口的高效测试结构

测试结构设计是集成电路（IC）测试的基础问题也是关键问题,而设计满足当代IC需求的测试结构对降低芯片成本、提高产品质量、增加产品竞争力具有十分重要的意义,为此提出了环形链轮询复用测试端口的测试结构RRR Scan。该结构将扫描触发器设计成多个环形链,环形链可工作于隐身模式、循环移位模式和直链扫描模式。循环移位模式实现了测试数据的重用,可减小测试集规模;隐身模式则可缩短测试数据移位路径,大幅降低测试移位功耗,因此该结构是具有数据重用和低功耗性质的通用测试结构。另外,该结构可将物理上相近的扫描单元设置于同一环形链内,布线代价不大。隐身模式使得测试数据的移位路径长度和时延均有所减小。实验结果表明,RRR Scan结构可大幅降低测试移位功耗,对于S13207电路,其移位功耗仅为扫描直链的0.42%。     

一种基于开关电容的斜坡产生与求和电路

斜坡补偿电路在峰值电流控制的Buck型DC/DC开关电源变换器中应用十分广泛,能够有效地消除次谐波振荡.典型的斜坡补偿电路将斜坡的产生与求和分离实现,且控制电路复杂.本文将开关电容电路融合进斜坡补偿的设计中,提出了一种集斜坡产生与求和为一体的斜坡补偿电路,充分发挥了开关电容电路精确和稳定的特点,有效地消除了电流环路中的次谐波振荡,且电路结构简单、应用灵活,稳定性和工艺鲁棒性均较好.基于0.5 μm CMOS工艺的实现结果表明,该斜坡补偿电路功能正确,性能良好.     

一种用于测试数据压缩的自适应EFDR编码方法

该文提出一种用于测试数据压缩的自适应EFDR(Extended Frequency-Directed Run-length)编码方法。该方法以EFDR编码为基础,增加了一个用于表示后缀与前缀编码长度差值的参数N,对测试集中的每个测试向量,根据其游程分布情况,选择最合适的N值进行编码,提高了编码效率。在解码方面,编码后的码字经过简单的数学运算即可恢复得到原测试数据的游程长度,且不同N值下的编码码字均可使用相同的解码电路来解码,因此解码电路具有较小的硬件开销。对ISCAS-89部分标准电路的实验结果表明,该方法的平均压缩率达到69.87%,较原EFDR编码方法提高了4.07%。     

一种基于伪随机激励的混合信号电路多故障测试的方法

本文提出了一种简单有效的、运用于模拟和混合信号电路的测试方法。在通过计算输入和输出的互相关函数得到特征空间的基础上,我们运用泰勒展式分析特征空间得到测试对的测试时延。该方法改进了测试的效率,提高了测试的正确性。