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1.
王林军 《石油化工设备技术》2015,(2):56-61,8
基于油田有关部门对等离子割缝筛管的准确甄别的需要进行了甄别方法的探索。针对等离子割缝筛管的独有特点,例如加工方法,外表形状特征,内壁形状特征,缝腔表面特征等等,制定了行之有效的甄别方法。主要是通过显微镜,内窥系统现场采样和相关软件的数据测量及对比相结合,再经过有关理论分析,从而准确的甄别出割缝筛管是不是等离子割缝筛管。采用无损外形甄别和破损甄别法。由从简至繁,从易到难为顺序开展,根据不同检测场合,不同检测条件,最终能准确甄别出等离子割缝筛管的真假,以达到规范油田服务市场,保护正规生产商和油田有关部门的合法权益的目的。 相似文献
2.
3.
通过对杭州城西软土土性物理力学指标的统计分析,研究了土性沿深度的变化情况,分析了城西软土的工程特性,总结了城西软土对工程建设的主要危害,为该地区工程建设提供一定理论依据及经验参考。 相似文献
4.
5.
针对水力旋流器进料固体颗粒的分离过程内部流场复杂,颗粒运动规律难以掌握的问题。本文基于颗粒动力学理论并引入粗颗粒(CG)概念,提出了两种数值模型来对水力旋流器中的多相流进行建模:一种是将多相流(VOF)模型与离散元法(DEM)结合起来的CG VOF-DEM模型;另一种是将混合(Mixture)模型和DEM模型结合起来的CG Mixture-DEM。模拟结果表明,CG VOF-DEM模型在定量上适用于稀疏流,且仅定性地适用于稠密流。另一方面,CG Mixture-DEM模型可以定量地适用于稀疏流和稠密流。研究表明,CG Mixture- DEM模型可以作为评价水力旋流器分离性能的有效工具。 相似文献
6.
采用改进的垂直布里奇曼生长法生长CdZnTe(CZT)单晶。生长完成后,选取了10~60 K/h不同速率降温处理。采用红外透射显微镜和多道能谱仪分别测试不同降温速率的晶片内部Te夹杂相分布和能谱响应。结果表明,10~30K/h之间的慢速降温会导致晶体内部出现较大尺寸的Te夹杂(>10μm),40 K/h以上的快速降温所得到的晶体内部主要以小尺寸(<10μm)为主。同时快速降温会导致晶体内部的Te夹杂浓度大量增加,并且降温速率越快,Te夹杂浓度越大。此外,降温速率过慢所得到晶片的能谱分辨率较差,但是降温速率过快也会影响到晶片的性能。40 K/h的降温速率所得到的晶片能谱性能较好,实验结果表明:大尺寸或者高浓度的Te夹杂都不利于能谱响应,保留一定浓度的小尺寸Te夹杂的晶体能谱性能较佳。 相似文献
7.
用射频等离子体化学气相沉积法(RFCVD)和CH4、N2与Ar组成的混合气体制备掺氮类金刚石薄膜(a-C:H:N)。用原子力显微镜(AFM),俄歇电子能谱(AES),红外光谱(IR)以及显微拉曼谱(Micro-Raman)对a-C:H:N薄膜的表面形貌、组分和微观结构进行了表征。实验结果表明,薄膜中有纳米量级的颗粒存在,而且随反应气体中N2与CH4比值的增大,薄膜中氮元素的含量也随之增大,并主要以C-N键和N-H键形式存在,少量以C≡N键形式存在,还研究了热退火对a-C:H:N薄膜的电导率的影响。 相似文献
8.
针对国内机械工程类"机械优化设计"双语教学的发展现状及其存在的问题,并结合三峡大学实际情况,构建了"机械优化设计"课程双语教学体系,在教学内容与体系、英语教学环境、教学队伍建设、考核方式等方面提出改革和实践的建议,旨在提高学生的双语应用能力。 相似文献
9.
10.
Free-standing diamond films were prepared by hot filament chemical vapor deposition (HFCVD) method under different conditions. Inter-digital transducers (IDTs) were formed on the nucleation sides of free-standing diamond films by photolithography technique. Then piezoelectric ZnO films were deposited by radio-frequency(RF) reactive magnetron sputtering to obtain the ZnO/diamond film structures. Surface morphologies of the nucleation sides and the IDTs were characterized by means of scanning electron microscopy (SEM), atomic force microscope (AFM) and optical microscopy. The results indicate that the surfaces of nucleation sides are very smooth and the IDTs are of high quality without discontinuity and short circuit phenomenon. Raman spectra show the sharp diamond feature peak at about 1 334 cmI and the small amount of non-diamond carbon in the nucleation side. X-ray diffraction (XRD) patterns of the structure of ZnO/diamond films show a strong diffraction peak of ZnO (002), which indicates that as-sputtered ZnO films are highly c-axis oriented. 相似文献